ZH
RU
EN

Método de prueba para medir la resistividad, el coeficiente Hall y la movilidad Hall de semiconductores monocristalinos.

Método de prueba para medir la resistividad, el coeficiente Hall y la movilidad Hall de semiconductores monocristalinos., Total: 3 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Método de prueba para medir la resistividad, el coeficiente Hall y la movilidad Hall de semiconductores monocristalinos. son: Materiales semiconductores.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Método de prueba para medir la resistividad, el coeficiente Hall y la movilidad Hall de semiconductores monocristalinos.

• ASTM F76-86(1996)e1 Métodos de prueba estándar para medir la resistividad y el coeficiente Hall y determinar la movilidad Hall en semiconductores monocristalinos
• ASTM F76-86(2002) Métodos de prueba estándar para medir la resistividad y el coeficiente Hall y determinar la movilidad Hall en semiconductores monocristalinos
• ASTM F76-08 Métodos de prueba estándar para medir la resistividad y el coeficiente Hall y determinar la movilidad Hall en semiconductores monocristalinos

Otros:   Método de prueba para medir la resistividad, el coeficiente Hall y la movilidad Hall de semiconductores monocristalinos..