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Defectos del sustrato

Defectos del sustrato, Total: 6 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Defectos del sustrato son: Dispositivos semiconductores.

Group Standards of the People's Republic of China, Defectos del sustrato

• T/CASAS 004.1-2018 Terminología para defectos tanto en sustratos como en epicapas de 4H-SiC
• T/CASAS 004.2-2018 La colección de metalógrafos para defectos en sustratos y epicapas de 4H-SiC

British Standards Institution (BSI), Defectos del sustrato

• BS IEC 63229:2021 Dispositivos semiconductores. Clasificación de defectos en la película epitaxial de nitruro de galio sobre sustrato de carburo de silicio
• 18/30386543 DC BS EN 63229 Ed.1.0. Dispositivos semiconductores. Clasificación de defectos en obleas epitaxiales de nitruro de galio sobre sustrato de carburo de silicio.
• 19/30404655 DC BS EN IEC 63229. Dispositivos semiconductores. Clasificación de defectos en la película epitaxial de nitruro de galio sobre sustrato de carburo de silicio.

International Electrotechnical Commission (IEC), Defectos del sustrato

• IEC 63229:2021 Dispositivos semiconductores: clasificación de defectos en la película epitaxial de nitruro de galio sobre sustrato de carburo de silicio

Otros:   sustrato, sustrato llevado, sustrato de GaN, sustrato llevado, red de sustrato, Sustrato aislante, sustrato+led+, Defectos del sustrato, hoja de sustrato, sustrato monocristalino, Estructura del sustrato, Sustrato de película delgada, sustrato de silicio, sal de sustrato, sustrato monocristalino, sustrato de silicio, herramienta de sustrato, película de respaldo, Preparación del sustrato, respaldo de espuma.