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Método de prueba para el coeficiente de expansión térmica lineal.

Método de prueba para el coeficiente de expansión térmica lineal., Total: 7 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Método de prueba para el coeficiente de expansión térmica lineal. son: Vaso, Plástica, Dispositivos semiconductores.


Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Método de prueba para el coeficiente de expansión térmica lineal.

  • JIS R 3102:1995 Método de prueba para la expansión térmica lineal promedio del vidrio.
  • JIS K 7197:1991 Método de prueba para el coeficiente de expansión térmica lineal de plásticos mediante análisis termomecánico.

Association Francaise de Normalisation, Método de prueba para el coeficiente de expansión térmica lineal.

  • NF EN 62047-11:2014 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 11: método de prueba para coeficientes de expansión térmica lineal de materiales autónomos para sistemas microelectromecánicos

German Institute for Standardization, Método de prueba para el coeficiente de expansión térmica lineal.

  • DIN EN 62047-11:2014-04 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 11: Método de prueba para coeficientes de expansión térmica lineal de materiales independientes para sistemas microelectromecánicos (IEC 62047-11:2013); Versión alemana EN 62047-11:2013

ES-UNE, Método de prueba para el coeficiente de expansión térmica lineal.

  • UNE-EN 62047-11:2013 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 11: Método de ensayo para coeficientes de dilatación térmica lineal de materiales autoportantes para sistemas microelectromecánicos (Ratificada por AENOR en noviembre de 2013.)

Danish Standards Foundation, Método de prueba para el coeficiente de expansión térmica lineal.

  • DS/EN 62047-11:2013 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 11: Método de prueba para coeficientes de expansión térmica lineal de materiales independientes para sistemas microelectromecánicos

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), Método de prueba para el coeficiente de expansión térmica lineal.

  • EN 62047-11:2013 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 11: Método de prueba para coeficientes de expansión térmica lineal de materiales independientes para sistemas microelectromecánicos




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