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Análisis de rayos X de monocristal

Análisis de rayos X de monocristal, Total: 499 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Análisis de rayos X de monocristal son: Educación, pruebas de metales, químicos inorgánicos, Química analítica, Física. Química, Materiales semiconductores, Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Cerámica, Metales ferrosos, Vocabularios, Metales no ferrosos, Óptica y medidas ópticas., Refractarios, Calidad del aire, ingeniería de energía nuclear, Materiales de construcción, Pruebas no destructivas, Mediciones de radiación, Centrales eléctricas en general, Ingredientes de pintura, Minerales metalíferos, Productos de hierro y acero., Productos de la industria química., Protección de radiación, tubos electronicos, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, Ferroaleaciones, Productos de metales no ferrosos., Equipo óptico, Minerales no metalíferos, Equipo medico, Medicina de laboratorio, Calidad del agua, Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., Productos petrolíferos en general, carbones, Protección contra el fuego, Fotografía, Combustibles, Medidas lineales y angulares., Procesos de fabricación en las industrias del caucho y del plástico., Residuos, Lubricantes, aceites industriales y productos afines., Equipos de manipulación de petróleo, productos derivados del petróleo y gas natural..

Professional Standard - Education, Análisis de rayos X de monocristal

JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difracción de rayos X de cristal único
JY/T 008-1996 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difractómetro de rayos X de cristal único de cuatro círculos

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Análisis de rayos X de monocristal

GB/T 42676-2023 Método de difracción de rayos X para probar la calidad del monocristal semiconductor
GB/T 30904-2014 Productos químicos inorgánicos para uso industrial. Análisis de forma cristalina. Método de difracción de rayos X.
GB/T 32188-2015 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de la curva de oscilación de rayos X de cristal doble del sustrato de cristal único de GaN
GB/T 19421.1-2003 Métodos de prueba de disilicato de sodio en capas cristalinas - Análisis cualitativo de disilicato de sodio en capas cristalinas delta - Método de difractómetro de rayos X
GB/T 19140-2003 Reglas tecnológicas para el análisis de fluorescencia de rayos X de cementos.
GB/T 42360-2023 Análisis espectroscópico de fluorescencia de rayos X de reflexión total de agua para análisis químico de superficies
GB/T 13710-1992 Especificaciones detalladas en blanco de tubos radiológicos para análisis.
GB 16355-1996 Normas de protección radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
GB/T 30704-2014 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
GB/T 5225-1985 Materiales metálicos--Análisis de fase cuantitativo--Método de difracción de rayos X del "valor K"
GB/T 19500-2004 Reglas generales para el método de análisis espectroscópico de fotoelectrones de rayos X.
GB/T 8359-1987 Carburos en acero rápido. Análisis de fase cuantitativa. Método de difractómetro de rayos X.
GB/T 16597-1996 Métodos analíticos de productos metalúrgicos. Regla general para los métodos espectrométricos de fluorescencia de rayos X.
GB/T 17362-2008 Método de análisis del espectro de energía de rayos X con microscopio electrónico de barrido para productos de oro
GB/T 17362-1998
GB/Z 42520-2023 Directrices para la práctica de laboratorio de espectrometría de fluorescencia de rayos X para el análisis de minerales de hierro
GB/T 18873-2002 Especificación general del microscopio electrónico de transmisión (TEM): microanálisis cuantitativo del espectro dispersivo de energía de rayos X (EDS) para muestras biológicas delgadas
GB/T 18873-2008 Guía general de microanálisis cuantitativo con microscopio electrónico de transmisión (TEM) y espectrometría de dispersión de energía de rayos X (EDS) para muestras biológicas delgadas
GB/T 17359-1998
GB/T 29513-2013 Análisis químico de polvo y lodos que contienen hierro mediante XRF. Método de perlas fundidas fundidas
GB/T 21114-2007 Análisis espectroquímico de fluorescencia de rayos X de materiales refractarios: método de disco de vidrio fundido
GB/Z 32490-2016 Procedimiento para la determinación de fondo mediante espectroscopia fotoelectrónica de rayos X para análisis químico de superficies.
GB/T 17507-2008 Especificación general de estándares biológicos delgados para microanálisis EDS de rayos X en microscopio electrónico de transmisión
GB/T 8156.10-1987
GB/T 22571-2008 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.
GB/T 20726-2015
GB/T 17507-1998 Especificación general de estándares biológicos delgados para microanálisis EDS de rayos X en microscopio electrónico
GB/T 17416.2-1998 Método de análisis químico de minerales de circonio. Determinación del contenido de circonio y hafnio. Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
GB/T 21006-2007 Análisis químico de superficies. Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
GB/T 28892-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados.
GB/T 28633-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Escala de repetibilidad y constancia de intensidad.
GB/T 14506.28-1993
GB/T 14849.5-2010 Análisis químico del metal león.Parte 5: Determinación del contenido de elementos.Análisis mediante un método de fluorescencia de rayos X.
GB/T 28632-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral.

PT-IPQ, Análisis de rayos X de monocristal

E E 14-1971 AN?LISE POR DIFRAC??O DE RAIOS X

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Análisis de rayos X de monocristal

JJF 1256-2010 Especificación de calibración para equipos de orientación de monocristales de rayos X
JJF 1133-2005 Especificación de calibración del medidor de oro mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Análisis de rayos X de monocristal

KS M 0043-2009 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
KS M 0043-2009(2019) Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
KS M 0017-2010 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
KS E 3076-2002 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra de sílice y arena de sílice.
KS L 5222-2009 Método de análisis químico del cemento mediante fluorescencia de rayos X.
KS D 1898-1993 Método para el análisis de rayos X fluorescentes de aleaciones de cobre.
KS D 1654-1993 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero
KS D 1654-2003(2016) Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero.
KS D 2710-2019 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroniobio.
KS E 3045-2002(2007) Análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X para minerales de hierro.
KS D 1655-1993 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero
KS M 0017-1995 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
KS D 1898-2019 Aleaciones de cobre: métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
KS L 3316-2014 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
KS D 1686-2011(2021) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroaleaciones.
KS L 3316-2014(2019) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
KS L 3316-1998 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
KS L 3316-1988 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
KS M 1068-2005 Cribado cualitativo/cuantitativo mediante espectrometría XRF
KS L 5222-2009(2019) Método de análisis químico del cemento mediante fluorescencia de rayos X.
KS D ISO 14706-2003(2018) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total
KS E 3076-2017 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra de sílice y arena de sílice.
KS E 3076-2022 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra de sílice y arena de sílice.
KS D 2597-1996(2021) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de circonio y aleaciones de circonio.
KS L 3316-2009 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ladrillos y morteros refractarios.
KS E 3075-2002 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra caliza y dolomita.
KS D 1655-2008(2019) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero.
KS E 3075-2017 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra caliza y dolomita.
KS D 1686-2011(2016) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroaleaciones.
KS E 3075-2022 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra caliza y dolomita.
KS D ISO 15472-2003(2018) Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Calibración de escala de energía
KS D ISO 15472:2003 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X-Calibración de escalas de energía
KS D 2597-1996(2016) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de circonio y aleaciones de circonio.
KS D ISO 15470-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS L ISO 21587-2:2012 Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) －Parte 2: Análisis químico húmedo
KS M ISO 14597:2003 Productos derivados del petróleo－Determinación del contenido de vanadio y níquel－Espectrometría de fluorescencia de rayos X de longitud de onda dispersiva
KS D ISO 17054:2018 Método de rutina para el análisis de acero de alta aleación mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF) mediante el uso de una técnica cercana
KS E ISO 10086-2:2007 Carbón－Métodos para evaluar floculantes para su uso en la preparación de carbón－Parte 2: Floculantes como coadyuvantes de filtración en sistemas de filtración rotativa al vacío
KS D ISO 22489:2012 Análisis de microhaz－Microanálisis con sonda electrónica－Análisis puntual cuantitativo para muestras a granel mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva
KS D ISO 22489:2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis puntual cuantitativo de muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.
KS L ISO 21587-2-2012(2017) Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) －Parte 2: Análisis químico húmedo
KS D ISO 14706:2003 Análisis químico de superficie: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
KS L ISO 10058-2:2012 Análisis químico de productos refractarios de magnesita y dolomita (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) －Parte 2: Análisis químico húmedo
KS L ISO 20565-2-2012(2022) Análisis químico de productos refractarios que contienen cromo y materias primas que contienen cromo (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) －Parte 2: Análisis químico húmedo
KS L ISO 10058-2-2012(2022) Análisis químico de productos refractarios de magnesita y dolomita (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) －Parte 2: Análisis químico húmedo
KS L ISO 21587-2-2012(2022) Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) －Parte 2: Análisis químico húmedo
KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS M ISO 12980-2004(2009) Materiales carbonosos utilizados en la producción de aluminio－Coque verde y coque calcinado para electrodos－Análisis mediante un método de fluorescencia de rayos X
KS D ISO 19319-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS D ISO 15632:2012 Análisis de microhaces－Especificaciones instrumentales para espectrómetros de rayos X de energía dispersiva con detectores de semiconductores
KS L ISO 20565-2-2012(2017) Análisis químico de productos refractarios que contienen cromo y materias primas que contienen cromo (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) －Parte 2: Análisis químico húmedo
KS L ISO 10058-2-2012(2017) Análisis químico de productos refractarios de magnesita y dolomita (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) －Parte 2: Análisis químico húmedo

Professional Standard - Aviation, Análisis de rayos X de monocristal

HB 6742-1993 Determinación de la orientación del cristal de láminas de cristal único mediante fotografía Laue con retrosoplado de rayos X

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Análisis de rayos X de monocristal

GB/T 39123-2020 Especificación para material monocristalino de telururo de cadmio-zinc para detectores de rayos X y rayos γ
GB/T 36923-2018 Identificación de polvo de perlas: análisis de difracción de rayos X.
GB/T 40407-2021 Método de análisis de difracción de rayos X en polvo para determinar las fases en el clinker de cemento portland
GB/T 36401-2018 Análisis químico de superficies: espectroscopia de fotoelectrones de rayos X: informes de resultados de análisis de películas delgadas
GB/T 16597-2019 Métodos analíticos de productos metalúrgicos. Regla general para los métodos espectrométricos de fluorescencia de rayos X.
GB/T 21114-2019 Refractarios: análisis químico mediante fluorescencia de rayos X (XRF): método de perlas fundidas
GB/T 40110-2021 Análisis químico de superficie: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
GB/T 41064-2021 Análisis químico de superficies—Perfiles de profundidad—Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas

Group Standards of the People's Republic of China, Análisis de rayos X de monocristal

T/IAWBS 017-2022 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de curva de oscilación de rayos X de cristal doble de sustrato de cristal único de diamante
T/IAWBS 015-2021 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de la curva de oscilación de rayos X de cristal doble del sustrato de cristal único de Ga2O3
T/IAWBS 016-2022 Método de prueba FWHM de curva oscilante de doble cristal de rayos X para oblea única de carburo de silicio
T/IMPCA 0001-2021 Método de prueba para el análisis del espectro de fluorescencia de rayos X de elementos de aleación en acero y sus productos de plantas químicas.
T/NAIA 0128-2022 Determinación rápida de hidróxido de aluminio Determinación del contenido de elementos mediante análisis espectroscópico de fluorescencia de rayos X (tableta)

KR-KS, Análisis de rayos X de monocristal

KS D ISO 14706-2003(2023) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total
KS D 1655-2008(2019)(英文版) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero.
KS D ISO 17054-2018 Método de rutina para el análisis de acero de alta aleación mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF) mediante el uso de una técnica cercana
KS D ISO 15472-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Calibración de escala de energía
KS D ISO 22489-2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis puntual cuantitativo de muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.
KS D ISO 22489-2018(2023) Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis puntual cuantitativo de muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.
KS D ISO 17054-2018(2023) Método de rutina para el análisis de acero de alta aleación mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF) mediante el uso de una técnica cercana

British Standards Institution (BSI), Análisis de rayos X de monocristal

BS ISO 17867:2015 Análisis del tamaño de partículas. Dispersión de rayos X de ángulo pequeño
BS ISO 22278:2020 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de prueba para la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo
BS ISO 17867:2020 Análisis del tamaño de partículas. Dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
DD ISO/TS 13762:2001 Análisis del tamaño de partículas. Método de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
BS DD ISO/TS 13762:2002 Análisis del tamaño de partículas: método de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
20/30360821 DC BS ISO 22278. Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de prueba para la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo
BS ISO 20289:2018 Análisis químico de superficies. Análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total del agua.
BS ISO 13424:2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Informe de resultados de análisis de película delgada.
BS ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Pautas para el análisis
BS ISO 16258-2:2015 Aire del lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Método por análisis indirecto.
BS ISO 10810:2019 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Pautas para el análisis
PD ISO/TS 18507:2015 Análisis químico de superficies. Uso de la espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total en análisis biológicos y ambientales.
BS ISO 18554:2016 Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Procedimientos para identificar, estimar y corregir la degradación no deseada por rayos X en un material sometido a análisis mediante espectroscopía de fotoelectrones de rayos X.
BS ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS ISO 29581-2:2010 Cemento - Métodos de ensayo - Análisis químico mediante fluorescencia de rayos X
BS EN 15305:2008 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
BS PD ISO/TS 18507:2015 Análisis químico de superficies. Uso de la espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total en análisis biológicos y ambientales.
BS ISO 16129:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS EN ISO 21587-2:2007 Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Análisis químico húmedo
BS ISO 15472:2010 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
BS ISO 16258-1:2015 Aire del lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Método directo en filtro
BS ISO 17470:2014 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
BS ISO 17109:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopía electrónica Auger y perfilado del departamento de pulverización catódica por espectrometría de masas de iones secundarios utilizando una o varias capas delgadas...
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1. Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando sistemas simples y...
PD ISO/TR 12389:2009 Métodos de prueba del cemento. Informe de un programa de prueba. Análisis químico por fluorescencia de rayos X.
BS EN ISO 10058-2:2009 Análisis químico de productos refractarios de magnesita y dolomita (alternativa al método de fluorescencia de rayos X). Análisis químico húmedo
BS EN ISO 10058-2:2008 Análisis químico de productos refractarios de magnesita y dolomita (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 2: Análisis químico húmedo (ISO 10058-2:2008)
DD ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
BS 6870-3:1989 Análisis de minerales de aluminio: método de análisis de elementos múltiples mediante fluorescencia de rayos X dispersiva de longitud de onda
BS ISO 14701:2011 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.
BS ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
BS ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia electrónica Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas.
BS ISO 16243:2011 Análisis químico de superficies. Registro y presentación de informes de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
BS ISO 22489:2007 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva
BS ISO 22489:2016 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis de puntos cuantitativos para muestras a granel mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda
BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
BS ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
BS ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
BS ISO 14701:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.
BS 1902-9.1:1987 Métodos de ensayo de materiales refractarios - Análisis químico por métodos instrumentales - Análisis de refractarios de aluminosilicato mediante fluorescencia de rayos X
BS EN 10315:2006 Método de rutina para el análisis de acero de alta aleación mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF) mediante el uso de una técnica cercana

International Organization for Standardization (ISO), Análisis de rayos X de monocristal

ISO 17867:2015 Análisis del tamaño de partículas: dispersión de rayos X de ángulo pequeño
ISO 22278:2020 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada): método de prueba para determinar la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo
ISO/TS 13762:2001 Análisis del tamaño de partículas: método de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
ISO 17867:2020 Análisis del tamaño de partículas: dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
ISO/CD 5861 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Método de calibración de intensidad para instrumentos Al Kα XPS monocromáticos de cristal de cuarzo.
ISO/DIS 5861:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Método de calibración de intensidad para instrumentos Al Kα XPS monocromáticos de cristal de cuarzo.
ISO 20289:2018 Análisis químico de superficies: análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total del agua
ISO 16258-2:2015 Aire del lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Parte 2: Método por análisis indirecto.
ISO 10810:2019 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
ISO 14706:2000 Análisis químico de superficies: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
ISO 14706:2014 Análisis químico de superficies: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
ISO 16258-1:2015 Aire en el lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Parte 1: Método directo sobre filtro.
ISO 16129:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X.
ISO 13424:2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Informes de resultados de análisis de películas delgadas.
ISO 18554:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Procedimientos para identificar, estimar y corregir la degradación no deseada por rayos X en un material sometido a análisis mediante espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
ISO/TS 18507:2015 Análisis químico de superficies: uso de espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total en análisis biológicos y ambientales
ISO 17470:2004 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis cualitativo de puntos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
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ISO 15632:2012 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica
ISO 15470:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
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DIN 51418-1:2008 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Definiciones y principios básicos
DIN EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
DIN EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
DIN EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
DIN EN 13925-3:2005-07 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
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DIN 51431-2:2004 Ensayos de lubricantes - Determinación del contenido de magnesio - Parte 2: Análisis mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda (XRF)
DIN 51396-2:2008 Ensayos de lubricantes. Determinación de los elementos de desgaste. Parte 2: Espectrometría de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda (XRF)
DIN 51390-2:1997 Ensayos de productos derivados del petróleo. Determinación del contenido de silicona. Parte 2: Análisis mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda (XRS).

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ASTM D6247-98(2004) Método de prueba estándar para el análisis del contenido elemental en poliolefinas mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X
ASTM E1031-96 Método de prueba estándar para el análisis de escorias siderúrgicas y siderúrgicas mediante espectrometría de rayos X (retirado en 2002)
ASTM E1588-16a Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM E1588-17 Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM D8064-16 Método de prueba estándar para el análisis elemental de suelos y desechos sólidos mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía monocromática utilizando múltiples haces de excitación monocromática
ASTM E2465-06 Método de prueba estándar para el análisis de aleaciones a base de Ni mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X
ASTM D6247-98 Método de prueba estándar para el análisis del contenido elemental en poliolefinas mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X
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NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 1: principios generales.
NF EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: procedimientos
NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 3: equipos
NF EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 1: principios generales
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