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microscopía electrónica de doble haz

microscopía electrónica de doble haz, Total: 307 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en microscopía electrónica de doble haz son: Química analítica, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Vocabularios, Equipo óptico, Óptica y medidas ópticas., Dispositivos de visualización electrónica., Metrología y medición en general., Calidad del aire, Educación, Conjuntos de componentes electrónicos., Tratamiento superficial y revestimiento., Corrosión de metales, Optoelectrónica. Equipo láser, Componentes electrónicos en general., pruebas de metales, Medidas lineales y angulares., Protección contra el crimen, Termodinámica y mediciones de temperatura., Condiciones y procedimientos de prueba en general., Dibujos tecnicos, Materiales para el refuerzo de composites., Materiales de construcción, Materias primas para caucho y plástico., Física. Química, Dispositivos semiconductores, Circuitos integrados. Microelectrónica, Productos de hierro y acero., Cerámica, Pinturas y barnices.


Korean Agency for Technology and Standards (KATS), microscopía electrónica de doble haz

  • KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Vocabulario
  • KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
  • KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Vocabulario
  • KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • KS D ISO 16700-2013(2018) Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • KS D ISO 23833:2022 Análisis de microhaces — Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) — Vocabulario
  • KS M 0044-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS I 0051-1999(2019) Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS D 2716-2008 Medición del diámetro de nanopartículas-Microscopio electrónico de transmisión
  • KS D 2716-2008(2018) Medición del diámetro de nanopartículas-Microscopio electrónico de transmisión
  • KS D 8544-2006 Recubrimiento metálico-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopía electrónica de transmisión
  • KS D 8544-2016(2021) Revestimiento metálico-Medición del espesor del revestimiento-Método de microscopía electrónica de transmisión
  • KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
  • KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
  • KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
  • KS D ISO TR 17270:2007 Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de transmisión analítica-Informe técnico sobre la determinación de los parámetros experimentales para la espectroscopía de pérdida de energía electrónica.
  • KS I ISO 10312:2008 Aire ambiente-Determinación de fibras de amianto-Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa
  • KS I ISO 13794:2008 Aire ambiente-Determinación de fibras de amianto-Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta
  • KS I ISO 10312-2008(2018) Aire ambiente-Determinación de fibras de amianto-Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa
  • KS D ISO 16592:2011 Análisis de microhaz-Microanálisis con sonda electrónica-Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración
  • KS D ISO 16592-2011(2016) Análisis de microhaz-Microanálisis con sonda electrónica-Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración
  • KS I ISO 13794-2008(2018) Aire ambiente-Determinación de fibras de amianto-Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta

KR-KS, microscopía electrónica de doble haz

  • KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
  • KS D ISO 23833-2022 Análisis de microhaces — Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) — Vocabulario
  • KS D 2716-2023 Medición del diámetro de nanopartículas: microscopio electrónico de transmisión
  • KS D ISO TR 17270-2007 Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de transmisión analítica-Informe técnico sobre la determinación de los parámetros experimentales para la espectroscopía de pérdida de energía electrónica.
  • KS C ISO 19749-2023 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.
  • KS C ISO 21363-2023 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de transmisión.

Association Francaise de Normalisation, microscopía electrónica de doble haz

  • NF ISO 15932:2014 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Vocabulario
  • NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
  • XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
  • XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido: métodos para evaluar la nitidez de la imagen
  • NF X21-016*NF ISO 15932:2014 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Vocabulario
  • NF X21-010:2009 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario.
  • NF A91-108:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
  • NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
  • FD T16-209:2012 Nanotecnologías - Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de transmisión
  • NF T16-404:2020 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión
  • NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
  • NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión
  • NF T25-111-4:1991 Fibras de carbono- Textura y estructura- Parte 4: Fractografía mediante microscopio electrónico de barrido
  • NF ISO 13794:2020 Aire ambiente - Determinación de fibras de amianto - Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta
  • NF ISO 10312:2020 Aire ambiente - Dosificación de fibras de amigo - Método por microscopie électronique à transmisión por transferencia directa
  • NF X21-007:2008 Análisis por microhaz - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para determinar el contenido de carbono del acero mediante un método de curva de calibración.
  • NF X43-050:2021 Calidad del aire - Determinación de la concentración de fibras de amianto mediante microscopía electrónica de transmisión - Método indirecto
  • NF EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: determinación del tamaño de partículas y distribución de formas mediante microscopía electrónica de barrido.
  • NF EN ISO 21363:2022 Nanotecnologías - Determinación del tamaño de partículas y distribución de formas mediante microscopía electrónica de transmisión
  • NF X43-050:1996 Calidad del aire. Determinación de la concentración de fibras de amianto mediante microscopía electrónica de transmisión. Método indirecto.
  • NF X21-003:2006 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda.

International Organization for Standardization (ISO), microscopía electrónica de doble haz

  • ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
  • ISO/CD 25498:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas utilizando un microscopio electrónico de transmisión.
  • ISO 15932:2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Vocabulario
  • ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
  • ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • ISO/CD 19214:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
  • ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
  • ISO 25498:2018 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión
  • ISO 19214:2017 Análisis de microhaz - Microscopía electrónica analítica - Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión
  • ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
  • ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método para evaluar dimensiones críticas mediante CD-SEM.
  • ISO 22493:2014 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
  • ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la resolución de energía para el análisis del espectro de pérdida de energía de los electrones.
  • ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
  • ISO/CD 20263:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la posición de la interfaz en la imagen transversal de los materiales estratificados.
  • ISO 20263:2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la posición de la interfaz en la imagen transversal de los materiales estratificados.
  • ISO 29301:2017 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia con estructuras periódicas
  • ISO/FDIS 29301:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes utilizando materiales de referencia con estructuras periódicas.
  • ISO 29301:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes utilizando materiales de referencia con estructuras periódicas.
  • ISO 9220:1988 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; método de microscopio electrónico de barrido
  • ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • ISO 29301:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de transmisión analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia que tienen estructuras periódicas
  • ISO 13794:1999 Aire ambiente - Determinación de fibras de amianto - Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta
  • ISO 10312:1995 Aire ambiente - Determinación de fibras de amianto - Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa
  • ISO 19463:2018 Análisis de microhaces - Microanalizador de sonda electrónica (EPMA) - Directrices para realizar procedimientos de garantía de calidad
  • ISO 21363:2020 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de transmisión.
  • ISO 13794:2019 Aire ambiente. Determinación de fibras de amianto. Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta.
  • ISO 10312:2019 Aire ambiente. Determinación de fibras de amianto. Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa.
  • ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
  • ISO 16592:2006 Análisis por microhaz - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración
  • ISO 16592:2012 Análisis por microhaz - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración
  • ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.
  • ISO 23692:2021 Análisis por microhaz - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis cuantitativo de la segregación dendrítica de Mn en productos de acero fundido continuamente
  • ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
  • ISO 17470:2004 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis cualitativo de puntos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
  • ISO/TS 10797:2012 Nanotecnologías - Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de transmisión
  • ISO/TS 22292:2021 Nanotecnologías: reconstrucción de imágenes en 3D de nanoobjetos sostenidos por varillas mediante microscopía electrónica de transmisión
  • ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido

Association of German Mechanical Engineers, microscopía electrónica de doble haz

  • DVS 2803-1974 Soldadura por haz de electrones en microscopía (encuesta)
  • VDI 3861 Blatt 2-2008 Emisiones de fuentes estacionarias - Medición de partículas fibrosas inorgánicas en los gases de escape - Método de microscopía electrónica de barrido

British Standards Institution (BSI), microscopía electrónica de doble haz

  • BS ISO 25498:2018 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión.
  • BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • 18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
  • BS ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
  • BS ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas por CDSEM
  • BS ISO 15932:2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Vocabulario
  • BS ISO 22493:2014 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
  • BS ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
  • BS ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
  • BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
  • 18/30344520 DC BS ISO 21466. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas mediante CD-SEM
  • 20/30380369 DC BS ISO 23420. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
  • 21/30404763 DC BS ISO 24639. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
  • BS ISO 20263:2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la posición de la interfaz en la imagen transversal de los materiales estratificados.
  • BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
  • BS ISO 29301:2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia con estructuras periódicas.
  • BS ISO 13794:1999 Aire ambiente - Determinación de fibras de amianto - Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta
  • PD ISO/TS 10797:2012 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de transmisión.
  • 19/30394914 DC BS ISO 15632. Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía para uso en un microscopio de sonda electrónica o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
  • BS ISO 29301:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de transmisión analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia que tienen estructuras periódicas
  • 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • BS ISO 16592:2012 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración
  • BS ISO 19749:2021 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
  • 15/30292710 DC BS ISO 19214. Directrices para la determinación de la dirección de crecimiento de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
  • BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • BS ISO 13794:2019 Aire ambiente. Determinación de fibras de amianto. Método de microscopía electrónica de transmisión de transferencia indirecta.
  • BS ISO 10312:2019 Aire ambiente. Determinación de fibras de amianto. Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa.
  • BS EN ISO 21363:2022 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión.
  • BS EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
  • BS ISO 21363:2020 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión.
  • BS CECC 00013:1985 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos: especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores
  • BS ISO 11938:2013 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Métodos para el análisis de mapeo elemental mediante espectroscopia de dispersión de longitud de onda.
  • PD ISO/TS 22292:2021 Nanotecnologías. Reconstrucción de imágenes en 3D de nanoobjetos soportados por varillas mediante microscopía electrónica de transmisión
  • BS ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
  • BS PD ISO/TS 22292:2021 Nanotecnologías. Reconstrucción de imágenes en 3D de nanoobjetos soportados por varillas mediante microscopía electrónica de transmisión
  • 18/30351714 DC BS ISO 21363. Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión.
  • 18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
  • BS ISO 17470:2014 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
  • BS ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
  • 18/30375050 DC BS ISO 14966. Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, microscopía electrónica de doble haz

  • GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas
  • GB/T 33838-2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Métodos para evaluar la nitidez de la imagen.
  • GB/T 34331-2017 Método de prueba del virus del mosaico moteado verde del pepino mediante microscopía electrónica de transmisión
  • GB/T 34168-2017 Método de prueba del efecto biológico de los materiales de nanopartículas de oro y plata mediante microscopio electrónico de transmisión.
  • GB/T 34831-2017 Nanotecnologías: obtención de imágenes por microscopía electrónica de nanopartículas de metales nobles: método de obtención de imágenes de campo oscuro anular de alto ángulo
  • GB/T 34002-2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de transmisión analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia que tienen estructuras periódicas.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, microscopía electrónica de doble haz

  • GB/T 18907-2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de área seleccionada mediante un microscopio electrónico de transmisión.
  • GB/T 23414-2009 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
  • GB/T 21636-2008 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica (EPMA). Vocabulario
  • GB 7667-1996 La dosis de fuga de rayos X del microscopio electrónico.
  • GB 7667-2003 La dosis de fuga de rayos X del microscopio electrónico.
  • GB/T 18907-2002 Método de difracción de electrones de área seleccionada para microscopios electrónicos de transmisión.
  • GB/T 17361-2013 Análisis de microhaces. Identificación de minerales arcillosos autigénicos en rocas sedimentarias mediante microscopio electrónico de barrido y espectrómetro de energía dispersiva.
  • GB/T 32055-2015 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Métodos para el análisis de mapeo elemental mediante espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
  • GB/T 21638-2008 Guía para el microanálisis por haz de electrones de defectos en materiales de acero.
  • GB/T 21637-2008 Método de identificación morfológica del coronavirus mediante microscopía electrónica de transmisión.
  • GB/T 30705-2014 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
  • GB/T 18295-2001 Método de análisis de muestras de arenisca de yacimientos de petróleo y gas mediante microscopio electrónico de barrido.
  • GB/T 28634-2012 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.
  • GB/T 15247-2008 Análisis por microhaz. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante el método de la curva de calibración.
  • GB/T 19267.6-2003 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopía electrónica de barrido.
  • GB/T 28044-2011 Guía general del método de detección del efecto biológico de nanomateriales mediante microscopio electrónico de transmisión (TEM)
  • GB/T 43088-2023 Método para la determinación de la densidad de dislocaciones en muestras de cristales finos metálicos mediante análisis de microhaces y microscopía electrónica.
  • GB/T 43087-2023 Método para determinar la posición de la interfaz en imágenes transversales de materiales en capas mediante análisis de microhaces y microscopía electrónica.
  • GB/T 17507-1998 Especificación general de estándares biológicos delgados para microanálisis EDS de rayos X en microscopio electrónico
  • GB/T 20726-2015
  • GB/T 18873-2002 Especificación general del microscopio electrónico de transmisión (TEM): microanálisis cuantitativo del espectro dispersivo de energía de rayos X (EDS) para muestras biológicas delgadas
  • GB/T 18873-2008 Guía general de microanálisis cuantitativo con microscopio electrónico de transmisión (TEM) y espectrometría de dispersión de energía de rayos X (EDS) para muestras biológicas delgadas
  • GB/Z 21738-2008 Estructuras fundamentales de nanomateriales unidimensionales. Caracterización por microscopía electrónica de transmisión de alta resolución.
  • GB/T 19267.6-2008 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopio electrónico de barrido/espectrometría de dispersión de energía de rayos X
  • GB/T 17507-2008 Especificación general de estándares biológicos delgados para microanálisis EDS de rayos X en microscopio electrónico de transmisión
  • GB/T 28873-2012 Guía general de microscopía electrónica de barrido ambiental para efectos biológicos sobre topografía inducidos por nanopartículas.
  • GB/T 17361-1998

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, microscopía electrónica de doble haz

  • GB/T 35098-2018 Análisis de microhaz—Microscopía electrónica de transmisión—Método de identificación morfológica de virus vegetales mediante microscopía electrónica de transmisión
  • GB/T 40300-2021 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica analítica—Vocabulario
  • GB/T 21636-2021 Análisis de microhaz—Microanálisis con sonda electrónica (EPMA)—Vocabulario
  • GB/T 4930-2021 Análisis de microhaces—Microanálisis con sonda electrónica—Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)
  • GB/T 35099-2018 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido con espectrometría de rayos X de energía dispersiva: análisis de morfología y elementos de partículas finas individuales en el aire ambiente.

Professional Standard - Machinery, microscopía electrónica de doble haz

  • JB/T 5480-1991 Diafragma de microscopio electrónico.
  • JB/T 5481-1991 Filamento de lámpara de microscopio electrónico.
  • JB/T 9352-1999 Método de prueba para el microscopio electrónico de transmisión.
  • JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
  • JB/T 5383-1991 Especificación para microscopio electrónico de transmisión.
  • JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas
  • JB/T 5584-1991 Método de prueba de amplificación por microscopio electrónico de transmisión.
  • JB/T 5585-1991 Método de prueba de resolución del microscopio electrónico de transmisión.
  • JB/T 5586-1991 Clasificación y parámetro básico del microscopio electrónico de transmisión.

American Society for Testing and Materials (ASTM), microscopía electrónica de doble haz

  • ASTM E986-97 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E986-04(2017) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E986-04 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E986-04(2010) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM B651-83(2001) Método de prueba estándar para medir sitios de corrosión en superficies galvanizadas de níquel más cromo o cobre más níquel más cromo con el microscopio de interferencia de doble haz
  • ASTM B651-83(1995) Método de prueba estándar para medir sitios de corrosión en superficies galvanizadas de níquel más cromo o cobre más níquel más cromo con el microscopio de interferencia de doble haz
  • ASTM B651-83(2006) Método de prueba estándar para medir sitios de corrosión en superficies galvanizadas de níquel más cromo o cobre más níquel más cromo con microscopio de interferencia de doble haz
  • ASTM B651-83(2015) Método de prueba estándar para medir sitios de corrosión en superficies galvanizadas de níquel más cromo o cobre más níquel más cromo con microscopio de interferencia de doble haz
  • ASTM B651-83(2010) Método de prueba estándar para medir sitios de corrosión en superficies galvanizadas de níquel más cromo o cobre más níquel más cromo con microscopio de interferencia de doble haz
  • ASTM E2090-00 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas por limpiadores de salas limpias mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
  • ASTM E2090-12 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
  • ASTM E766-14 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E3143-18a Práctica estándar para realizar microscopía electrónica de criotransmisión de liposomas
  • ASTM E3143-18 Práctica estándar para realizar microscopía electrónica de criotransmisión de liposomas
  • ASTM E766-98(2008)e1 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E3143-18b Práctica estándar para realizar microscopía electrónica de criotransmisión de liposomas
  • ASTM B651-83(2019) Método de prueba estándar para medir sitios de corrosión en superficies galvanizadas de níquel más cromo o cobre más níquel más cromo con microscopio de interferencia de doble haz
  • ASTM C1723-16(2022) Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
  • ASTM C1723-10 Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
  • ASTM C1723-16
  • ASTM D3849-13 Método de prueba estándar para negro de humo mdash; caracterización morfológica del negro de humo mediante microscopía electrónica
  • ASTM D3849-14 Método de prueba estándar para negro de humo mdash; caracterización morfológica del negro de humo mediante microscopía electrónica
  • ASTM D3849-95a(2000) Método de prueba estándar para negro de carbón: dimensiones del agregado primario a partir del análisis de imágenes con microscopio electrónico
  • ASTM D3849-07 Método de prueba estándar para la caracterización morfológica del negro de humo mediante microscopía electrónica
  • ASTM E766-14(2019) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM D3849-22 Método de prueba estándar para negro de humo: caracterización morfológica del negro de humo mediante microscopía electrónica
  • ASTM E3143-18b(2023) Práctica estándar para realizar microscopía electrónica de criotransmisión de liposomas
  • ASTM E766-14e1
  • ASTM B748-90(2006) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM D3849-02 Método de prueba estándar para la caracterización morfológica del negro de humo mediante microscopía electrónica
  • ASTM D3849-04 Método de prueba estándar para la caracterización morfológica del negro de humo mediante microscopía electrónica
  • ASTM B748-90(1997) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM D7201-06(2020) Práctica estándar para el muestreo y recuento de fibras suspendidas en el aire, incluidas las fibras de asbesto, en el lugar de trabajo, mediante microscopía de contraste de fase (con la opción de microscopía electrónica de transmisión)
  • ASTM E2142-08(2015) Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E2142-08 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
  • ASTM D3849-14a Método de prueba estándar para negro de humo: caracterización morfológica del negro de humo mediante microscopía electrónica
  • ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope
  • ASTM D7201-06(2011) Práctica estándar para el muestreo y recuento de fibras suspendidas en el aire, incluidas las fibras de asbesto, en el lugar de trabajo, mediante microscopía de contraste de fase (con la opción de microscopía electrónica de transmisión)
  • ASTM B748-90(2010) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E2809-13 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X en exámenes de pintura forense
  • ASTM B748-90(2021) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), microscopía electrónica de doble haz

  • JIS K 0149-1:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • JIS K 3850-1:2006 Determinación de partículas fibrosas en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
  • JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
  • JIS K 0189:2013 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Determinación de parámetros experimentales para espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.
  • JIS K 3850-3:2000 Método de medición de partículas fibrosas suspendidas en el aire. Parte 3: Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta.
  • JIS K 3850-2:2000 Método de medición de partículas fibrosas en el aire. Parte 2: Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa.
  • JIS R 1633:1998 Método de preparación de muestras de cerámicas finas y polvos cerámicos finos para observación con microscopio electrónico de barrido.
  • JIS K 0190:2010 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, microscopía electrónica de doble haz

  • JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)

Group Standards of the People's Republic of China, microscopía electrónica de doble haz

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, microscopía electrónica de doble haz

  • JJG(地质) 1016-1990 Reglamento de calibración para microscopía electrónica de transmisión
  • JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
  • JJG(教委) 12-1992 Reglamento de calibración para microscopía electrónica de transmisión
  • JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.

Professional Standard - Education, microscopía electrónica de doble haz

  • JY/T 011-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de transmisión.
  • JY/T 0581-2020 Reglas generales para los métodos de análisis de microscopía electrónica de transmisión.
  • JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.
  • JY/T 010-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de barrido analítica.

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), microscopía electrónica de doble haz

  • IPC J-STD-035-1999 Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados no herméticos
  • IPC TM-650 2.6.22-1995 Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico.
  • IPC/JEDEC J-STD-035-1999 Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados no herméticos [Reemplazado: IPC TM-650 2.6.22]

RU-GOST R, microscopía electrónica de doble haz

  • GOST 21006-1975 Microscopios electrónicos. Términos, definiciones y símbolos de letras.
  • GOST R 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido
  • GOST R 8.636-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de calibración
  • GOST 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Método de verificación
  • GOST R 8.631-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de verificación

Professional Standard - Petroleum, microscopía electrónica de doble haz

  • SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
  • SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
  • SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, microscopía electrónica de doble haz

  • DB31/T 297-2003 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de barrido.
  • DB31/T 315-2004 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de transmisión.

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, microscopía electrónica de doble haz

  • JEDEC J-STD-035-1999 Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados no herméticos

International Electrotechnical Commission (IEC), microscopía electrónica de doble haz

  • IEC PAS 62191:2000 Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados no herméticos.

国家能源局, microscopía electrónica de doble haz

  • SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.

工业和信息化部, microscopía electrónica de doble haz

  • YB/T 4676-2018 Análisis de fases precipitadas en acero mediante microscopía electrónica de transmisión

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, microscopía electrónica de doble haz

  • DB32/T 3459-2018 Microscopía electrónica de barrido para medir la cobertura de microáreas de películas de grafeno

Professional Standard - Judicatory, microscopía electrónica de doble haz

German Institute for Standardization, microscopía electrónica de doble haz

  • DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)
  • DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022
  • DIN EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021); Versión alemana e inglesa prEN ISO 9220:2021
  • DIN ISO 16592:2015 Análisis por microhaz - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración (ISO 16592:2012)
  • DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021); Versión alemana EN ISO 19749:2023
  • DIN EN ISO 21363:2022-03 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión (ISO 21363:2020); Versión alemana EN ISO 21363:2022

Professional Standard - Public Safety Standards, microscopía electrónica de doble haz

  • GA/T 1939-2021 Ciencias forenses Examen de puntos actuales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
  • GA/T 1938-2021 Ciencia forense Inspección de metales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
  • GA/T 1937-2021 Ciencia forense Inspección de caucho Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
  • GA/T 909-2010 Método de recolección y empaquetado de rastros de evidencia: residuos de disparos (examen SEM/EDS)
  • GA/T 1522-2018 Ciencia forense Disparo Inspección de residuos Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
  • GA/T 1521-2018 Ciencia forense Plásticos Examen de composición elemental Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
  • GA/T 1519-2018 Ciencia forense Tóner Composición elemental Inspección Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X

SE-SIS, microscopía electrónica de doble haz

European Committee for Standardization (CEN), microscopía electrónica de doble haz

  • EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
  • EN ISO 21363:2022 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión (ISO 21363:2020)
  • EN ISO 9220:1994 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método de microscopio electrónico de barrido (ISO 9220: 1988)
  • EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021)
  • prEN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).
  • prEN ISO 21363:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión (ISO 21363:2020)

Danish Standards Foundation, microscopía electrónica de doble haz

  • DS/EN ISO 9220:1995
  • DS/ISO/TS 10797:2012 Nanotecnologías - Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de transmisión
  • DS/ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.

ES-UNE, microscopía electrónica de doble haz

  • UNE-EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
  • UNE-EN ISO 21363:2022 Nanotecnologías - Mediciones de distribuciones de tamaño y forma de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión (ISO 21363:2020) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2022.)
  • UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías - Mediciones de distribuciones de tamaño y forma de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2023.)

PH-BPS, microscopía electrónica de doble haz

  • PNS ISO 21363:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión

IT-UNI, microscopía electrónica de doble haz

  • UNI 7604-1976 Examen con microscopio electrónico de materiales metálicos mediante la técnica de réplica. Preparación de réplicas para examen de microfractografía.
  • UNI 7329-1974 Examen con microscopio electrónico de materiales metálicos mediante la técnica de réplica. Preparación de réplicas para examen de microestructura.

AENOR, microscopía electrónica de doble haz

  • UNE-EN ISO 9220:1996 RECUBRIMIENTOS METÁLICOS. MEDICIÓN DEL ESPESOR DEL RECUBRIMIENTO. MÉTODO DEL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO. (ISO 9220:1988).
  • UNE 77236:1999 AIRE AMBIENTE. DETERMINACIÓN DE LAS FIBRAS DE AMIANTO. MÉTODO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE TRANSMISIÓN DIRECTA.

Lithuanian Standards Office , microscopía electrónica de doble haz

  • LST EN ISO 9220:2001 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).

AT-ON, microscopía electrónica de doble haz

  • OENORM EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).
  • OENORM EN ISO 21363:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión (ISO 21363:2020)

未注明发布机构, microscopía electrónica de doble haz

  • BS CECC 13:1985(1999) Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos: Especificaciones básicas: Inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores.
  • DIN EN ISO 21363:2022 Nanotecnologías: mediciones de la distribución del tamaño y la forma de las partículas mediante microscopía electrónica de transmisión.

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, microscopía electrónica de doble haz

  • GJB 5384.22-2005 Métodos de prueba de rendimiento para composiciones pirotécnicas Parte 21: Determinación de la concentración de cantidades de partículas sólidas de humo Método del microscopio electrónico
  • GJB 5384.23-2005 Métodos de prueba de rendimiento para composiciones pirotécnicas Parte 23: Determinación de la distribución del tamaño de partículas para partículas sólidas de humo Método de microscopio electrónico

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, microscopía electrónica de doble haz

  • GJB 8684.22-2015 Métodos de prueba para las propiedades pirotécnicas. Parte 22: Determinación de la concentración del número de partículas sólidas de humo mediante microscopía electrónica.
  • GJB 8684.23-2015 Métodos de prueba para las propiedades pirotécnicas. Parte 23: Determinación de la distribución del tamaño de las partículas sólidas de humo mediante microscopía electrónica.

BE-NBN, microscopía electrónica de doble haz

  • NBN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).

IPC - Association Connecting Electronics Industries, microscopía electrónica de doble haz

  • IPC/JEDEC J-STD-035 CD-1999 Microscopía Acústica para Componentes Electrónicos Encapsulados No Herméticos (Incorpora Enmienda 1: Enero de 2007)

American National Standards Institute (ANSI), microscopía electrónica de doble haz

  • ANSI/ASTM D6059:2001 Método de prueba para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido
  • ANSI/ASTM D6056:2001 Método de prueba para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de transmisión




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