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Resistividad de la pieza polar
Resistividad de la pieza polar, Total: 500 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Resistividad de la pieza polar son: Materiales para el refuerzo de composites., Fluidos aislantes, Materiales semiconductores, Productos de metales no ferrosos., Calidad del aire, Resistencias, pruebas de metales, Corrosión de metales, Calidad del suelo. Pedología, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Productos de la industria química., válvulas, Movimientos de tierras. Excavaciones. Construcción de cimientos. Obras subterráneas, químicos inorgánicos, Materiales aislantes, Goma, Pruebas eléctricas y electrónicas., Materiales conductores, Circuitos integrados. Microelectrónica, Equipos para industrias de petróleo y gas natural., Accesorios electricos, Plástica, Metales no ferrosos, Componentes electrónicos en general., Minas y canteras, Herramientas de máquina, Dispositivos semiconductores, tubos electronicos, Fotografía, sujetadores, Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., Tratamiento superficial y revestimiento., Optoelectrónica. Equipo láser, Combustibles, Vaso, Cerámica, Equipos para la industria metalúrgica., Materiales magnéticos, Componentes de tuberías y tuberías., Equipos para la industria química., Productos de la industria textil., Refractarios, Protección contra explosiones, Protección contra el fuego, Astronomía. Geodesia. Geografía, Materias primas para caucho y plástico., Centrales eléctricas en general, Equipos y sistemas eléctricos aeroespaciales., ingenieria electrica en general, Termodinámica y mediciones de temperatura., Pilas y baterías galvánicas..
Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, Resistividad de la pieza polar
- DB13/T 5026.3-2019 Método para determinar las propiedades físicas de la pasta conductora de grafeno Parte 3: Método de cuatro sondas para determinar la resistividad de los electrodos de la pasta
- DB13/T 1513-2012 Equipo rodante de piezas de polos de batería
IPC - Association Connecting Electronics Industries, Resistividad de la pieza polar
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Resistividad de la pieza polar
- GB/T 6617-1995
- GB/T 6617-2009 Método de prueba para medir la resistividad de una oblea de silicio utilizando una sonda de resistencia de extensión
- GB/T 11073-1989
- GB/T 11073-2007 Método estándar para medir la variación de la resistividad radial en rodajas de silicio
- GB/T 6616-1995
- GB/T 6616-2009 Métodos de prueba para medir la resistividad de obleas semiconductoras o la resistencia laminar de películas semiconductoras con un medidor de corrientes parásitas sin contacto
- GB/T 6616-2023 Método de corrientes parásitas sin contacto para probar la resistividad de las obleas semiconductoras y la resistencia de las láminas de películas semiconductoras
- GB/T 19289-2003 Métodos de medición de densidad, resistividad y factor de apilamiento de láminas y tiras de acero eléctrico.
- GB/T 6146-1985 Método de prueba para la resistividad de aleaciones de resistencia de precisión.
- GB/T 6146-2010 Método de prueba para la resistividad de aleaciones de resistencia de precisión.
- GB/T 1410-2006 Métodos de prueba de resistividad volumétrica y resistividad superficial de materiales aislantes eléctricos sólidos.
- GB/T 1410-1989 Métodos de prueba de resistividad volumétrica y resistividad superficial de materiales aislantes sólidos.
- GB/T 3073-1982 Electrodos de grafito de alta potencia.
- GB/T 36356-2018 Especificación técnica para chips de diodos emisores de luz de potencia.
- GB/T 24521-2009 Método para la determinación de la resistencia específica del coque.
- GB/T 36357-2018 Especificación técnica para chips de diodos emisores de luz de potencia media.
- GB/T 1551-2009 Método de prueba para medir la resistividad del silicio monocristal.
- GB/T 16427-1996 Determinación de la resistividad eléctrica del polvo en capa.
- GB/T 3781.9-1993 Negro acetileno. Determinación de la resistividad
- GB/T 11446.4-1997 Métodos de prueba para la resistividad del agua de grado electrónico.
- GB/T 11446.4-2013 Método de prueba para la resistividad del agua de grado electrónico.
- GB/T 10581-2006 Método de prueba de resistencia eléctrica y resistividad de materiales aislantes a temperaturas elevadas.
Group Standards of the People's Republic of China, Resistividad de la pieza polar
- T/CEMIA 028-2022 Especificación para pasta de electrodos de superficie para resistencias de chip
- T/CEMIA 027-2022 Especificación para pasta de electrodo posterior para resistencias de chip
- T/IAWBS 011-2019 Métodos de prueba para medir la resistividad de obleas conductoras de carburo de silicio con un medidor de corrientes parásitas sin contacto
- T/IAWBS 013-2019 El método de medición de la resistividad para un sustrato de carburo de silicio semiaislante.
- T/SSEA 0202-2022 Rollo de laminador de pieza polar de batería de litio
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Resistividad de la pieza polar
- JJG 48-2004 Rebanada estándar de resistividad de silicio monocristalino
- JJG 48-1990 Regulación de verificación de la rebanada estándar de resistividad de silicio monocristalino
- JJG 508-2004 Instrumentos de medición de resistividad con cuatro: método de matriz de sondas
- JJG 159-2020 Probador de resistividad del hormigón
- JJG 124-2005 Amperímetros, Voltímetros, Vatímetros y Ohmímetros
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Resistividad de la pieza polar
- GB/T 33970-2017 Hoja de cobre reforzada con dispersión de Al2O3 para electrodo de soldadura por resistencia
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Resistividad de la pieza polar
- JIS B 9915:1989 Métodos de medición de la resistividad del polvo (con electrodos paralelos)
- JIS H 0612:1975 Métodos de prueba de resistividad para obleas de silicio monocristalino con sonda de cuatro puntos
- JIS K 6271-1:2015 Caucho, vulcanizado o termoplástico. Determinación de la resistividad. Parte 1: Sistema de electrodo protegido.
- JIS K 6271-2:2015 Caucho, vulcanizado o termoplástico - Determinación de la resistividad - Parte 2: Sistema de electrodos terminales paralelos
- JIS Z 3234:1992 Aleaciones de cobre para electrodos de soldadura por resistencia.
- JIS Z 3234:1999 Aleaciones de cobre para electrodos de soldadura por resistencia.
- JIS C 2525:1999 Método de prueba para la resistencia del conductor y la resistividad de materiales de resistencia metálica.
- JIS H 0602:1995 Método de prueba de resistividad para cristales y obleas de silicio con sonda de cuatro puntos
- JIS H 7312:2007 Superconductividad - Medición de la relación de resistencia residual - Relación de resistencia residual de superconductores compuestos de Nb3Sn
- JIS K 6271-1:2022 Caucho, vulcanizado o termoplástico. Determinación de la resistividad. Parte 1: Sistema de electrodo protegido.
- JIS Z 3234:2021 Materiales para electrodos de soldadura por resistencia y equipos auxiliares.
- JIS C 2525:1994 Método de prueba para la resistencia del conductor y la resistividad de materiales de resistencia metálica.
- JIS H 0601:1962 Métodos de prueba de resistividad para germanio.
- JIS C 9325:2009 Dispositivo de medición de fuerza de electrodo para equipos de soldadura por resistencia.
- JIS C 6401:1991 Resistencias bobinadas de alambre fijo - Tipo de alimentación
- JIS H 0505:1975 Métodos de medición de resistividad eléctrica y conductividad de materiales no ferrosos.
Defense Logistics Agency, Resistividad de la pieza polar
- DLA A-A-59742 VALID NOTICE 1-2011 Inductor, Chip, Potencia, Baja Resistencia, Montaje Superficial
- DLA QPL-49465-16-2006 RESISTENCIAS, FIJAS, ELEMENTO METÁLICO (TIPO DE POTENCIA), VALORES DE RESISTENCIA MUY BAJOS, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
- DLA A-A-59742-2002 INDUCTOR, CHIP, POTENCIA, BAJA RESISTENCIA, MONTAJE EN SUPERFICIE
- DLA DSCC-DWG-04032 REV A-2006 RESISTENCIA, CHIP, FIJA, PELÍCULA, VALORES BAJOS, ALTA POTENCIA, 1,5 VATIOS, ESTILO 2512
- DLA DSCC-DWG-88034 REV J-2006 RESISTENCIA, FIJA, PELÍCULA, CHIP, VALORES BAJOS, ALTA POTENCIA, ESTILO 2512
- DLA MIL-M-38510/25 E VALID NOTICE 1-2010 Microcircuitos, Digital, Bipolar, TTL, Baja Potencia, Contadores, Silicio Monolítico
- DLA MIL-M-38510/21 F VALID NOTICE 1-2010 Microcircuitos, Digital, Bipolar, TTL, Baja Potencia, Flip-Flops, Silicio Monolítico
- DLA DSCC-DWG-04032 REV B-2011 RESISTENCIA, CHIP, FIJA, PELÍCULA, VALORES BAJOS, ALTA POTENCIA, 1,5 VATIOS, ESTILO 2512
- DLA SMD-5962-95527-1994 MICROCIRCUITO LINEAL, MATRIZ DMOS DE ENERGÍA DE FUENTE COMÚN DE 7 CANALES, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA DSCC-DWG-87075 REV E-2005 RESISTENCIA, FIJA, PELÍCULA, CHIP, MONTAJE EN BRIDA, DOBLE PESTAÑA, ALTA POTENCIA 10 WATTS
- DLA DSCC-DWG-01032 REV C-2013 RESISTENCIA, CHIP, FIJA, PELÍCULA, SUSTRATO DE BERILIA, ALTA POTENCIA, ESTILO 1206
- DLA SMD-5962-97547 REV A-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, COMPARADORES DE MAGNITUD DE 4 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA QPL-32192-1-2006 RESISTENCIAS, CHIP, TÉRMICAS (TERMISTOR), ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
- DLA QPL-32192-1 NOTICE 1-2008 Resistencias, chip, térmicas (termistor), especificación general para
- DLA QPL-32192-QPD-2010 Resistencias, chip, térmicas (termistor), especificación general para
- DLA QPL-32192-2011 Resistencias, chip, térmicas (termistor), especificación general para
- DLA QPL-32192-2013 Resistencias, chip, térmicas (termistor), especificación general para
- DLA A-A-55562 A VALID NOTICE 1-2006 RESISTENCIA SENSIBLE AL VOLTAJE (VARISTOR, ÓXIDO METÁLICO), CHIP
- DLA A-A-55562 A-2001 RESISTENCIA SENSIBLE AL VOLTAJE (VARISTOR, ÓXIDO METÁLICO), CHIP
- DLA MIL-PRF-32192 (1)-2005
- DLA SMD-5962-76018 REV H-2005 MICROCIRUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, LATCH, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-76032 REV E-2005 MICROCIRCUITO DIGITAL BIPOLAR SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA CONTADOR SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-76036 REV E-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, CONTADOR, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-77001 REV G-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, CONTADOR, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-77010 REV G-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, CONTADOR, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-92319 REV A-2004 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, EXCLUSIVO-OR GATE, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA DSCC-DWG-93073 REV D-2007 RESISTENCIA TÉRMICA CHIP NTC ESTILO 0805
- DLA SMD-5962-95671 REV B-2006 MICROCIRCUITO, LINEAL, ENDURECIDO POR RADIACIÓN, BANDA ANCHA, ALTA IMPEDENCIA, AMPLIFICADOR OPERACIONAL, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA DSCC-DWG-01032 REV A-2004 RESISTENCIA, CHIP, FIJA, PELÍCULA, SUSTRATO DE BERILIA, ALTA POTENCIA, ESTILO 1206
- DLA DSCC-DWG-89099 REV G-2005 RESISTENCIA, FIJA, PELÍCULA, CHIP, MONTAJE EN BRIDA, PESTAÑA ÚNICA, ALTA POTENCIA, 10 VATIOS
- DLA DSCC-DWG-06011 REV B-2009 RESISTENCIA, CHIP, FIJA, TIRA METÁLICA DE POTENCIA, MONTAJE EN SUPERFICIE, VALOR BAJO (1,0 VATIOS), ESTILO 2512
- DLA SMD-5962-88589 REV D-2008 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO DE BAJA POTENCIA, PUERTA NAND POSITIVA, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-01507-2001 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, GENERADOR DE TRANSPORTE DE ALTA VELOCIDAD, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA MIL-M-38510/316 E VALID NOTICE 1-2008 MICROCIRCUITOS, DIGITALES, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, PESTILLOS EN CASCADA, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA A-A-55562 A VALID NOTICE 2-2011 Resistencia, sensible al voltaje (varistor, óxido metálico), chip
- DLA MIL-PRF-32192/1 (2)-2012 RESISTOR, CHIP, TÉRMICO (TERMISTOR), COEFICIENTE DE TEMPERATURA POSITIVO, ESTILO RCTP0303
- DLA DSCC-DWG-06003 REV B-2013 RESISTENCIA, CHIP, FIJA, TIRA METÁLICA DE POTENCIA, MONTAJE EN SUPERFICIE, VALOR BAJO (2 VATIOS), ESTILO 4527
- DLA DSCC-DWG-06006 REV A-2013 RESISTENCIA, CHIP, FIJA, TIRA METÁLICA DE POTENCIA, MONTAJE EN SUPERFICIE, VALOR BAJO (3 VATIOS), ESTILO 4527
- DLA MS75009 REV J (3)-2008 CONJUNTO DE SOPORTE, RESISTENCIA (TIPO DE ENERGÍA)
- DLA DSCC-DWG-06003 REV A-2006 RESISTENCIA, CHIP, FIJA, TIRA METÁLICA DE POTENCIA, MONTAJE EN SUPERFICIE, VALOR BAJO (2 VATIOS), ESTILO 4527
- DLA DSCC-DWG-06006-2006 RESISTENCIA, CHIP, FIJA, TIRA METÁLICA DE POTENCIA, MONTAJE EN SUPERFICIE, VALOR BAJO (3 VATIOS), ESTILO 4527
- DLA DSCC-DWG-06007-2006 RESISTENCIA, CHIP, FIJA, TIRA DE METÁLICO DE POTENCIA, MONTAJE EN SUPERFICIE, VALOR BAJO (0,1 VATIOS), ESTILO 0603
- DLA DSCC-DWG-06009-2006 RESISTOR, CHIP, FIJO, TIRA DE METÁLICO DE POTENCIA, MONTAJE EN SUPERFICIE, VALOR BAJO (0,25 VATIOS), ESTILO 1206
- DLA DSCC-DWG-06010 REV A-2007 RESISTENCIA, CHIP, FIJA, TIRA DE METÁLICO DE POTENCIA, MONTAJE EN SUPERFICIE, VALOR BAJO (0,5 VATIOS), ESTILO 2010
- DLA DSCC-DWG-06011-2006 RESISTENCIA, CHIP, FIJA, TIRA METÁLICA DE POTENCIA, MONTAJE EN SUPERFICIE, VALOR BAJO (1,0 VATIOS), ESTILO 2512
- DLA DSCC-DWG-06012-2006 RESISTENCIA, CHIP, FIJA, TIRA METÁLICA DE POTENCIA, MONTAJE EN SUPERFICIE, VALOR BAJO (2,0 VATIOS), ESTILO 2816
- DLA SMD-5962-76014 REV G-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, SUMADOR, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-76016 REV J-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, MULTIPLEXOR, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-76019 REV H-2005 MICROCIRCUITO DIGITAL BIPOLAR SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA MULTIPLEXOR SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-76037 REV F-2003 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, MULTIPLEXOR, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-83022 REV J-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, AVANZADO SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, CONTADORES, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-84013 REV F-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY AVANZADO DE BAJA POTENCIA, TTL, TRANSCEPTOR, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-84154 REV D-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, REGISTRO, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-89748 REV A-2005 MICROCIRCUITOS DIGITALES, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, TRANSCEPTORES DE BUS OCTAL, SALIDAS DE COLECTOR ABIERTO, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA DSCC-DWG-93074 REV B-2007 TERMISTOR, (RESISTENCIA TÉRMICAMENTE SENSIBLE), NTC, CHIP, ESTILO 1206
- DLA SMD-5962-77009 REV E-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, CONTADOR DE DÉCADAS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-78026 REV D-2004 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL DE BAJA CONSUMO, CONTADOR DE DÉCADAS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-84145 REV D-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, AVANZADO SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, O DRIVERS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA A-A-55562/1 A VALID NOTICE 2-2011 Resistencia, sensible al voltaje (varistor, óxido metálico), chip, estilo 0603
- DLA A-A-55562/2 A VALID NOTICE 2-2011 Resistencia, sensible al voltaje (varistor, óxido metálico), chip, estilo 0805
- DLA A-A-55562/3 A VALID NOTICE 2-2011 Resistencia, sensible al voltaje (varistor, óxido metálico), chip, estilo 1206
- DLA A-A-55562/4 A VALID NOTICE 2-2011 Resistencia, sensible al voltaje (varistor, óxido metálico), chip, estilo 1210
- DLA A-A-55562/5 VALID NOTICE 2-2011 Resistencia, sensible al voltaje (varistor, óxido metálico), chip, estilo 0402
- DLA MIL-PRF-32192/2 (2)-2012 RESISTENCIA, CHIP, TÉRMICA (TERMISTOR), COEFICIENTE DE TEMPERATURA POSITIVO AISLADO ESTILO RCTP0805
- DLA MIL-PRF-32192/5 (2)-2012 RESISTENCIA, CHIP, TÉRMICA (TERMISTOR), AISLADO CON COEFICIENTE DE TEMPERATURA NEGATIVO ESTILO RCTN1206
- DLA SMD-5962-96658 REV C-2003 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, INVERSORES HEX SCHMITT-TRIGGER, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA DSCC-DWG-87071 REV D-2007 RED DE RESISTENCIA, FIJA, PELÍCULA, SIP DE 10 PINES, MÚLTIPLES VALORES DE RESISTENCIA, MÚLTIPLES ESQUEMAS (PERFIL BAJO)
- DLA DSCC-DWG-87073 REV D-2007 RED DE RESISTENCIA, FIJA, PELÍCULA, SIP DE OCHO PINES, MÚLTIPLES VALORES DE RESISTENCIA, MÚLTIPLES ESQUEMAS, (PERFIL BAJO)
- DLA DSCC-DWG-87074 REV C-2007 RED DE RESISTENCIA, FIJA, PELÍCULA, SIP DE 8 PINES, MÚLTIPLES VALORES DE RESISTENCIA, MÚLTIPLES ESQUEMAS, (ALTO PERFIL)
- DLA A-A-59235-2003 BOBINA, RF, CHIP, FIJA, ENERGÍA, PROTECCIÓN MAGNÉTICA, MONTAJE EN SUPERFICIE
- DLA SMD-5962-89687 REV C-2004 TRANSCEPTORES Y REGISTROS DE BUS OCTAL, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY AVANZADO DE BAJA POTENCIA, TTL, CON SALIDAS INVERTIDAS DE TRES ESTADOS Y DE COLECTOR ABIERTO, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-95688 REV D-2007 MICROCIRCUITO, LINEAL, ENDURECIDO POR RADIACIÓN, BANDA ANCHA, ALTA IMPEDANCIA DE ENTRADA, AMPLIFICADOR OPERACIONAL, SILICIO MONOLÍTICO
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Resistividad de la pieza polar
- JJF 1760-2019 Especificación de calibración para cortes estándar de resistividad de silicio monocristalino
Guizhou Provincial Standard of the People's Republic of China, Resistividad de la pieza polar
- DB52/T 843-2013 Resistencia fija de película gruesa de chip de alta potencia RR6363
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Resistividad de la pieza polar
- CNS 14811-2004 Método de prueba para la medición en campo de la resistividad del suelo utilizando el método de cuatro electrodos de Wenner
- CNS 13623-1995 Métodos de prueba para medir la resistividad, el coeficiente Hall y determinar la movilidad Hall en semiconductores monocristalinos (método Van Der Pauw)
- CNS 15111-2007 Métodos de prueba de conductividad eléctrica y resistividad del agua.
- CNS 13622-1997 Resistencia de chip fijo para uso en equipos electrónicos.
- CNS 10913-1984 Resistencia y conductividad de materiales de cobre para fines eléctricos.
- CNS 4974-1979 Resistencias bobinadas de alambre recubierto tipo potencia
- CNS 13727-1996 Método de prueba de resistividad de volumen de adhesivos conductores
Association of German Mechanical Engineers, Resistividad de la pieza polar
- DVS 2903-1998 Electrodos para soldadura por resistencia.
- DVS 2903-1974 Electrodos para soldadura por resistencia.
- DVS 2912-1974 Soldadura por resistencia con rodillos mediante tiras de lámina y electrodos de alambre
NL-NEN, Resistividad de la pieza polar
- NEN 5774-1990 Suelo - Determinación de la resistividad mediante el método de la resistividad electromagnética
- NEN-ISO 5184:1994 Electrodos de soldadura por puntos de resistencia recta (ISO 5184:1979)
- NEN 5773-1990 Suelo - Determinación de la resistividad mediante el método de sondeo eléctrico
工业和信息化部, Resistividad de la pieza polar
- SJ/T 11627-2016 Método de prueba en línea de resistividad de obleas de silicio para células solares
- JB/T 14230-2022 Máquina de recubrimiento de piezas polares para baterías de iones de litio
- YB/T 5289-2017 Método de prueba de alargamiento de pasta de electrodo
PL-PKN, Resistividad de la pieza polar
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- ASTM D6120-97(2002) Método de prueba estándar para la resistividad eléctrica del material de carbono de ánodo y cátodo a temperatura ambiente
- ASTM D6120-97(2017)e1 Método de prueba estándar para la resistividad eléctrica del material de carbono de ánodo y cátodo a temperatura ambiente
- ASTM G57-95a(2001) Método de prueba estándar para la medición en campo de la resistividad del suelo utilizando el método Wenner de cuatro electrodos
- ASTM G57-95A Método de prueba estándar para la medición en campo de la resistividad del suelo utilizando el método Wenner de cuatro electrodos
- ASTM G57-20 Método de prueba estándar para medir la resistividad del suelo utilizando el método Wenner de cuatro electrodos
- ASTM G57-06(2012) Método de prueba estándar para la medición en campo de la resistividad del suelo utilizando el método Wenner de cuatro electrodos
- ASTM G187-18 Método de prueba estándar para medir la resistividad del suelo utilizando el método de caja de suelo de dos electrodos
- ASTM F81-00 Método de prueba estándar para medir la variación de la resistividad radial en obleas de silicio
- ASTM A717/A717M-12 Método de prueba estándar para la resistividad del aislamiento de superficies de muestras de una sola tira
- ASTM G59-97 Método de prueba estándar para realizar mediciones de resistencia de polarización potenciodinámica
- ASTM G57-06 Método de prueba estándar para la medición en campo de la resistividad del suelo utilizando el método Wenner de cuatro electrodos
- ASTM G187-05 Método de prueba estándar para medir la resistividad del suelo utilizando el método de caja de suelo de dos electrodos
- ASTM G187-12 Método de prueba estándar para medir la resistividad del suelo utilizando el método de caja de suelo de dos electrodos
- ASTM G187-12a Método de prueba estándar para medir la resistividad del suelo utilizando el método de caja de suelo de dos electrodos
- ASTM F672-88(1995)e1 Método de prueba estándar para medir perfiles de resistividad perpendiculares a la superficie de una oblea de silicio utilizando una sonda de resistencia de extensión
- ASTM D1169-19 Método de prueba estándar para la resistencia específica (resistividad) de líquidos aislantes eléctricos
- ASTM D1169-19a Método de prueba estándar para la resistencia específica (resistividad) de líquidos aislantes eléctricos
- ASTM D1125-23 Métodos de prueba estándar para conductividad eléctrica y resistividad del agua
- ASTM D1169-02e1 Método de prueba estándar para la resistencia específica (resistividad) de líquidos aislantes eléctricos
- ASTM D1169-02 Método de prueba estándar para la resistencia específica (resistividad) de líquidos aislantes eléctricos
- ASTM D1169-95 Método de prueba estándar para la resistencia específica (resistividad) de líquidos aislantes eléctricos
- ASTM D116-86(1999) Métodos de prueba estándar para materiales cerámicos vitrificados para aplicaciones eléctricas
- ASTM D116-86(2011) Métodos de prueba estándar para materiales cerámicos vitrificados para aplicaciones eléctricas
- ASTM D1169-09 Método de prueba estándar para la resistencia específica (resistividad) de líquidos aislantes eléctricos
- ASTM D1169-11 Método de prueba estándar para la resistencia específica (resistividad) de líquidos aislantes eléctricos
- ASTM B63-90(2001) Método de prueba estándar para resistividad de materiales de contacto y resistencia conductores metálicos
- ASTM B63-90(1995)e1 Método de prueba estándar para resistividad de materiales de contacto y resistencia conductores metálicos
- ASTM F673-90(1996)e1 Métodos de prueba estándar para medir la resistividad de rodajas de semiconductores o la resistencia laminar de películas semiconductoras con un medidor de corrientes de Foucault sin contacto
AT-ON, Resistividad de la pieza polar
SE-SIS, Resistividad de la pieza polar
- SIS SS-ISO 5184:1981 Electrodos de soldadura sp?t de resistencia recta
- SIS SS-ISO 5821:1981 Casquillos de electrodos de soldadura por resistencia
- SIS SS-CECC 40400-1990 Especificación seccional: Resistencias fijas de montaje en superficie (chip) de baja potencia
- SIS SS-ISO 5183:1981 Adaptadores de electrodos de soldadura por resistencia
- SIS SS IEC 93:1983 Métodos de prueba de resistividad volumétrica y resistividad superficial de materiales aislantes eléctricos sólidos.
- SIS 11 50 10-1965 Determinación de la resistividad de los metales.
- SIS SS-CECC 40401-1990 Especificación detallada en blanco: Resistencias fijas de montaje en superficie (chip) sin alambre de baja potencia
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