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tiempo del microscopio electrónico

tiempo del microscopio electrónico, Total: 229 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en tiempo del microscopio electrónico son: Instalaciones en edificios, Medidas lineales y angulares., Tratamiento superficial y revestimiento., Equipo óptico, Química analítica, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Cinematografía, Accesorios electricos, Redes de transmisión y distribución de energía., Materiales aislantes, Equipos y sistemas eléctricos aeroespaciales., Metales no ferrosos, ingeniería de energía nuclear, ingenieria electrica en general, Alambres y cables eléctricos., Protección contra el fuego, Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Circuitos integrados. Microelectrónica, Calidad del aire, Pruebas ambientales, Elementos de fijación para la construcción aeroespacial, Sistemas de vehículos de carretera, Plástica, Compatibilidad electromagnética (CEM), Calidad del agua, Materiales para la construcción aeroespacial., Centrales eléctricas en general, Equipo medico, Maquinaria rotativa, Termodinámica y mediciones de temperatura., Tecnología de construcción, Ingredientes de pintura, Equipos eléctricos para trabajar en condiciones especiales..


HU-MSZT, tiempo del microscopio electrónico

International Electrotechnical Commission (IEC), tiempo del microscopio electrónico

  • IEC 60145:1963 Contadores de var-hora (energía reactiva)
  • IEC 60255-3/COR1:1992 Relés eléctricos; parte 3: relés de medición de cantidad energizante de entrada única con tiempo dependiente o independiente; Corrección 1
  • IEC 60255-3:1989
  • IEC 61036:1996 Contadores estáticos de corriente alterna para energía activa (clases 1 y 2)
  • IEC 61034-1:2013 Medición de la densidad del humo de cables quemados en condiciones definidas. Parte 1: Aparatos de prueba.
  • IEC 61034-1:2019 Medición de la densidad del humo de cables quemados en condiciones definidas. Parte 1: Aparatos de prueba.
  • IEC 61034-1:2005+AMD1:2013 CSV Medición de la densidad del humo de cables quemados en condiciones definidas. Parte 1: Aparatos de prueba.
  • IEC 61036/AMD1:2000 Contadores estáticos de corriente alterna para energía activa (clases 1 y 2); Enmienda 1
  • IEC 61224:1993 Reactores nucleares; tiempo de respuesta en detectores de temperatura de resistencia (RTD); mediciones in situ
  • IEC TS 62215-2:2007 Circuitos integrados - Medición de la inmunidad al impulso - Parte 2: Método de inyección transitoria síncrona
  • IEC 61034-2:2019 Medición de la densidad del humo de cables quemados en condiciones definidas. Parte 2: Procedimiento de prueba y requisitos.
  • IEC 61034-2:2005+AMD1:2013 CSV Medición de la densidad del humo de cables quemados en condiciones definidas. Parte 2: Procedimiento de prueba y requisitos.
  • IEC 60754-2:1991 Ensayo sobre los gases desprendidos durante la combustión de cables eléctricos; parte 2: determinación del grado de acidez de los gases desprendidos durante la combustión de materiales extraídos de cables eléctricos midiendo el pH y la conductividad
  • IEC 62215-3:2013 Circuitos integrados. Medición de la inmunidad a los impulsos. Parte 3: Método de inyección transitoria no síncrona.
  • IEC 61000-4-11:2017 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-11: Técnicas de prueba y medición - Pruebas de inmunidad a caídas de tensión, interrupciones breves y variaciones de tensión
  • IEC 61000-4-11:2004 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-11: Técnicas de prueba y medición - Pruebas de inmunidad a caídas de tensión, interrupciones breves y variaciones de tensión
  • IEC 61000-4-11:2004+AMD1:2017 CSV Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-11: Técnicas de prueba y medición - Pruebas de inmunidad a caídas de tensión, interrupciones breves y variaciones de tensión

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), tiempo del microscopio electrónico

  • SMPTE EG 35-1999 Código de tiempo y control Dirección de tiempo Precisión del reloj para televisión, audio y cine
  • SMPTE EG 35-2012 Código de tiempo y control Dirección de tiempo Precisión del reloj para televisión, audio y cine

Association Francaise de Normalisation, tiempo del microscopio electrónico

  • NF EN 14086:2003 Papel y cartón - Medición del brillo especular - Brillo a 45º con haz paralelo, método DIN
  • NF C44-104:1997 Contadores estáticos de corriente alterna para energía activa (clases 1 y 2).
  • NF A91-108:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
  • NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
  • XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
  • XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido: métodos para evaluar la nitidez de la imagen
  • NF C32-073-2:1993 MEDICIÓN DE LA DENSIDAD DE HUMOS DE CABLES ELÉCTRICOS ARDIENDO EN CONDICIONES DEFINIDAS. PARTE 2: PROCEDIMIENTO DE PRUEBA Y REQUISITOS.
  • NF T16-404:2020 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión
  • NF X43-050:2021 Calidad del aire - Determinación de la concentración de fibras de amianto mediante microscopía electrónica de transmisión - Método indirecto
  • NF X43-050:1996 Calidad del aire. Determinación de la concentración de fibras de amianto mediante microscopía electrónica de transmisión. Método indirecto.
  • NF EN 13763-16:2004 Explosivos para uso civil. Detonadores y relés. Parte 16: determinación de la precisión del retardo.
  • UTE C70-202:1995 Equipos viales - Equipos eléctricos y electrónicos fijos, permanentes o temporales - Compatibilidad electromagnética parte 2: inmunidad.
  • NF C96-215-3*NF EN 62215-3:2014 Circuitos integrados. Medición de la inmunidad a los impulsos. Parte 3: método de inyección transitoria no síncrona.
  • NF C32-073-1:1993 MEDICIÓN DE LA DENSIDAD DE HUMOS DE CABLES ELÉCTRICOS ARDIENDO EN CONDICIONES DEFINIDAS. PARTE 1: APARATO DE PRUEBA.
  • NF C32-074-23:2000 Métodos de prueba comunes para cables en condiciones de incendio. Prueba de gas desprendido durante la combustión de materiales de cables. Parte 2-3: Procedimientos. Determinación del grado de acidez de los gases para cables mediante la determinación del promedio ponderado de pH y conductividad.
  • NF C91-004-11*NF EN 61000-4-11:2004 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-11: técnicas de prueba y medición - Pruebas de inmunidad a caídas de tensión, interrupciones breves y variaciones de tensión
  • NF A91-055*NF EN 16866:2017 Recubrimientos metálicos y otros recubrimientos inorgánicos: determinación simultánea del espesor y del potencial del electrodo de capas individuales en depósitos multicapa de níquel (prueba STEP)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, tiempo del microscopio electrónico

  • GB/T 16594-1996 Medición de longitud de grado en micras por SEM
  • GB/T 31563-2015 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • GB/T 17722-1999 Medición de espesor chapado en oro por SEM
  • GB/T 16594-2008 Reglas generales para la medición de longitud en escala de micras mediante SEM
  • GB/T 20307-2006 Reglas generales para la medición de longitud a escala nanométrica mediante SEM
  • GB/T 14598.7-1995 Relés eléctricos. Parte 3: Relés de medición de cantidad de energización de entrada única con tiempo dependiente o independiente
  • GB/T 14001-2012 Código de tiempo y control para grabación de cintas de vídeo SDTV
  • GB/T 22841-2008 Especificación de prueba para inmunidad a caídas de tensión e interrupciones breves de maquinaria industrial y equipos eléctricos.
  • GB/T 15633-1995 La activación de una sola entrada cuantifica relés de medición y equipos de protección con tiempo no especificado
  • GB/T 17626.11-1999 Compatibilidad electromagnética. Técnicas de ensayo y medición. Pruebas de inmunidad a caídas de tensión, interrupciones breves y variaciones de tensión
  • GB/T 17626.11-2008 Compatibilidad electromagnética.Técnicas de ensayo y medida.Ensayos de inmunidad a huecos de tensión, interrupciones breves y variaciones de tensión.
  • GB/T 14598.11-2011 Relés de medida y equipos de protección.Parte 11: Huecos de tensión, interrupciones breves, variaciones y ondulaciones en el puerto de alimentación auxiliar.
  • GB/T 17626.29-2006 Compatibilidad electromagnética Técnicas de prueba y medición Caídas de voltaje, interrupciones breves y variaciones de voltaje en pruebas de inmunidad del puerto de alimentación de entrada

British Standards Institution (BSI), tiempo del microscopio electrónico

  • BS 5685-4:1986 Medidores de electricidad: especificación para medidores var-hora de clase 3
  • BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
  • 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • BS DD IEC/TS 62215-2:2007 Circuitos integrados - Medición de la inmunidad al impulso - Método de inyección transitoria síncrona
  • BS ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
  • BS ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
  • BS EN 61000-4-11:2004 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Técnicas de ensayo y medida - Ensayos de inmunidad a huecos de tensión, interrupciones breves y variaciones de tensión
  • BS ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
  • 18/30375050 DC BS ISO 14966. Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
  • BS EN 61000-4-11:2004+A1:2017 Compatibilidad electromagnética (CEM). Técnicas de ensayo y medición. Pruebas de inmunidad a caídas de tensión, interrupciones breves y variaciones de tensión
  • 21/30404763 DC BS ISO 24639. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
  • BS EN 62215-3:2013 Circuitos integrados. Medición de la inmunidad al impulso. Método de inyección transitoria no síncrona
  • BS 5685-2:1986 Contadores de electricidad: especificación para contadores de vatios-hora de tarifa plana de prepago monofásicos que funcionan con monedas y de tarifa de dos partes de Clase 2 y colectores de carga fija de Clase 2
  • BS EN 60754-2:2014 Ensayo sobre gases desprendidos durante la combustión de materiales de cables. Determinación de acidez (mediante medición de pH) y conductividad.
  • BS EN 16866:2017 Recubrimientos metálicos y otros recubrimientos inorgánicos. Determinación simultánea del espesor y del potencial del electrodo de capas individuales en yacimientos multicapa de níquel (prueba STEP)
  • BS EN ISO 16866:2022 Recubrimientos metálicos y otros recubrimientos inorgánicos. Determinación simultánea del espesor y del potencial del electrodo de capas individuales en yacimientos multicapa de níquel (prueba STEP)
  • BS EN 50281-2-1:1999 Aparatos eléctricos para uso en presencia de polvo combustible. Métodos de prueba. Métodos para determinar las temperaturas mínimas de ignición.

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), tiempo del microscopio electrónico

  • SMPTE EG 35:1999 EG 35:1999 - Directrices de ingeniería SMPTE - Código de tiempo y control Dirección de tiempo Precisión del reloj para televisión, audio y películas
  • SMPTE EG 35:2012 EG 35:2012 - Directrices de ingeniería SMPTE - Código de tiempo y control Precisión del reloj de dirección de tiempo para televisión, audio y películas
  • EG 35:2012 EG 35:2012 - Directrices de ingeniería SMPTE - Código de tiempo y control Precisión del reloj de dirección de tiempo para televisión, audio y películas
  • SMPTE RP 2054:2010 RP 2054:2010 - Práctica recomendada SMPTE - Método de medición del volumen percibido de material de audio cinematográfico de corta duración
  • RP 2054:2010 RP 2054:2010 - Práctica recomendada SMPTE - Método de medición del volumen percibido de material de audio cinematográfico de corta duración

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), tiempo del microscopio electrónico

  • KS D 8544-2016 Revestimiento metálico-Medición del espesor del revestimiento-Método de microscopía electrónica de transmisión
  • KS D 8544-2006 Recubrimiento metálico-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopía electrónica de transmisión
  • KS D 8544-2016(2021) Revestimiento metálico-Medición del espesor del revestimiento-Método de microscopía electrónica de transmisión
  • KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
  • KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
  • KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
  • KS C IEC 61224:2012 Reactores nucleares-Tiempo de respuesta en detectores de temperatura de resistencia (RTD)-Medidas in situ
  • KS C IEC 61224-2012(2022) Reactores nucleares-Tiempo de respuesta en detectores de temperatura de resistencia (RTD)-Medidas in situ
  • KS C IEC 61224-2012(2017) Reactores nucleares-Tiempo de respuesta en detectores de temperatura de resistencia (RTD)-Medidas in situ
  • KS C 0272-1995 Compatibilidad electromagnética-Técnicas de ensayo y medida-Inmunidad a caídas de tensión, interrupciones breves y variaciones de tensión
  • KS C 0227-2001(2014) Procedimientos básicos de pruebas ambientales. Parte 2: Pruebas. Prueba Db y orientación: Calor húmedo, cíclico (ciclo de 12+12 horas).
  • KS C IEC 61262-3-2003(2018) Equipos electromédicos. Características de los intensificadores de imágenes de rayos X electroópticos. Parte 3: Determinación de la distribución de luminancia y de la falta de uniformidad de la luminancia.
  • KS C 9610-4-11-2020 Compatibilidad electromagnética (EMC) ― Parte 4-11: Técnicas de prueba y medición. Pruebas de inmunidad a caídas de tensión, interrupciones breves y variaciones de tensión.
  • KS C IEC 61000-4-11-2008(2013) Compatibilidad electromagnética (EMC) -Parte 4-11: Técnicas de prueba y medición -Pruebas de inmunidad a caídas de tensión, interrupciones breves y variaciones de tensión
  • KS C IEC 61000-4-11:2008 Compatibilidad electromagnética (EMC) -Parte 4-11: Técnicas de prueba y medición -Pruebas de inmunidad a caídas de tensión, interrupciones breves y variaciones de tensión
  • KS C 9610-4-11-2017 Compatibilidad electromagnética (EMC) ― Parte 4-11: Técnicas de prueba y medición. Pruebas de inmunidad a caídas de tensión, interrupciones breves y variaciones de tensión.

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, tiempo del microscopio electrónico

  • DB44/T 1527-2015 Método de evaluación de la claridad de la imagen del microscopio electrónico de barrido del análisis de microhaz

CZ-CSN, tiempo del microscopio electrónico

  • CSN 33 0331-1978 Aparatos eléctricos para tensión hasta 1000 V. Grado de protección.
  • CSN 34 6422-1961 Ensayos de envejecimiento térmico de alambres barnizados en base a la disminución de la resistencia eléctrica de la película de laca.
  • CSN 34 6463-1983 Métodos de prueba de resistencia eléctrica de materiales aislantes sólidos a frecuencias industriales.
  • CSN 34 7021-2-1995 Ensayo sobre gases desprendidos durante la combustión de cables eléctricos Parte 2: Determinación del grado de acidez de los gases desprendidos durante la combustión de materiales extraídos de cables eléctricos midiendo el pH y la conductividad
  • CSN 35 0019 Cast.09-1979 Máquinas eléctricas rotativas. Métodos para determinar el aumento de temperatura en función del tiempo con el rotor bloqueado

Professional Standard - Machinery, tiempo del microscopio electrónico

  • JB/T 7503-1994 Espesor de la sección transversal de recubrimientos metálicos Método de medición mediante microscopio electrónico de barrido
  • JB/T 9426.3-2011 Lentes para cámaras cinematográficas. Parte 3: Marcas de escala de distancia y apertura.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, tiempo del microscopio electrónico

  • GJB 737.11-1993 Métodos de prueba para productos químicos pirotécnicos Determinación del tamaño de partículas Microscopía electrónica de barrido
  • GJB 8684.23-2015 Métodos de prueba para las propiedades pirotécnicas. Parte 23: Determinación de la distribución del tamaño de las partículas sólidas de humo mediante microscopía electrónica.
  • GJB 8684.22-2015 Métodos de prueba para las propiedades pirotécnicas. Parte 22: Determinación de la concentración del número de partículas sólidas de humo mediante microscopía electrónica.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, tiempo del microscopio electrónico

  • JJG 691-1990 Reglamento de verificación de contadores de vatios-hora de corriente alterna multilatos

SE-SIS, tiempo del microscopio electrónico

European Committee for Standardization (CEN), tiempo del microscopio electrónico

  • EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
  • EN ISO 21363:2022 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión (ISO 21363:2020)
  • EN ISO 9220:1994 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método de microscopio electrónico de barrido (ISO 9220: 1988)
  • prEN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).
  • EN 16866:2017 Recubrimientos metálicos y otros recubrimientos inorgánicos: determinación simultánea del espesor y del potencial del electrodo de capas individuales en depósitos multicapa de níquel (prueba STEP)

International Organization for Standardization (ISO), tiempo del microscopio electrónico

  • ISO 9220:1988 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; método de microscopio electrónico de barrido
  • ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • ISO 21363:2020 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de transmisión.
  • ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
  • ISO 21727:2016/AWI Amd 1 Cinematografía. Método de medición del volumen percibido de material sonoro cinematográfico de corta duración. Enmienda 1.
  • ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
  • ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.
  • ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
  • ISO 14966:2002/cor 1:2007 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido; Corrigendum técnico 1
  • ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
  • ISO 8322-10:1995 Construcción de edificios. Instrumentos de medición. Procedimientos para determinar la precisión en uso. Parte 10: Diferencia entre reflectores que no son de vidrio y prismas electrónicos para medir distancias (de vidrio tradicional).

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, tiempo del microscopio electrónico

  • ECA 448-20-1989 Método 20 Método de prueba para componentes electromecánicos Método de prueba para temperatura de contacto de la cara de la lente
  • ECA EIA-448-20-1989 Método 20 Método de prueba para componentes electromecánicos Método de prueba para temperatura de contacto de la cara de la lente
  • ECA SP 5156-2007 Temperatura de vida útil con o sin carga eléctrica Procedimiento de prueba para conectores y enchufes eléctricos Se publicará como ANSI/EIA/ECA-364-17C

Danish Standards Foundation, tiempo del microscopio electrónico

German Institute for Standardization, tiempo del microscopio electrónico

  • DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022
  • DIN EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021); Versión alemana e inglesa prEN ISO 9220:2021
  • DIN EN 13763-16:2004-03 Explosivos para uso civil - Detonadores y relés - Parte 16: Determinación de la precisión del retardo; Versión alemana EN 13763-16:2003 / Nota: Se sustituirá por DIN EN 13763-16 (2021-05).
  • DIN 41079:1974 Fijación de mecanismos de relojería y esferas para relojes secundarios eléctricos; dimensiones de montaje
  • DIN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988); Versión alemana EN ISO 9220:1994
  • DIN 15578-2:1978-07 Medición de longitud de películas cinematográficas perforadas y cintas magnéticas; Tablas de tiempos de ejecución de 1 a 60 s en relación con la duración de la película.
  • DIN EN 13763-16:2021-05 Explosivos para uso civil - Detonadores y relés de cordón detonante - Parte 16: Determinación de la precisión del retardo; Versión en alemán e inglés prEN 13763-16:2021 / Nota: Fecha de emisión 2021-04-23*Previsto como reemplazo de DIN EN 13763-16 (2004-03).
  • DIN 43856:1989 Contadores de electricidad, interruptores horarios de tarifas y receptores de control remoto; diagramas de conexión, marcado de terminales, diagramas de circuitos
  • DIN 15578-3:1978-07 Medición de longitud de películas cinematográficas perforadas y cintas magnéticas; tablas de tiempos de ejecución de 1 a 120 min en relación con la duración de la película
  • DIN 15578-2:1978 Medición de longitud de películas cinematográficas perforadas y cintas magnéticas; Tablas de tiempos de ejecución de 1 a 60 s en relación con la duración de la película.
  • DIN 15578-3:1978 Medición de longitud de películas cinematográficas perforadas y cintas magnéticas; tablas de tiempos de ejecución de 1 a 120 min en relación con la duración de la película
  • DIN EN 61000-4-11:2005 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-11: Técnicas de prueba y medición - Pruebas de inmunidad a caídas de tensión, interrupciones breves y variaciones de tensión (IEC 61000-4-11:2004); Versión alemana EN 61000-4-11:2004
  • DIN 43735:2011 Tecnología de control de procesos - Sensores de temperatura eléctricos - Insertos reemplazables para RTD y termopares
  • DIN EN ISO 16866:2023-01 Recubrimientos metálicos y otros revestimientos inorgánicos: determinación simultánea del espesor y del potencial del electrodo de capas individuales en depósitos multicapa de níquel (prueba STEP) (ISO 16866:2020); Versión alemana EN ISO 16866:2022

American Society for Testing and Materials (ASTM), tiempo del microscopio electrónico

  • ASTM D2219-97 Especificación estándar para aislamiento de poli(cloruro de vinilo) para alambres y cables, funcionamiento 60176C
  • ASTM D2219-21 Especificación estándar para aislamiento de poli(cloruro de vinilo) para alambres y cables, funcionamiento a 60 ��C
  • ASTM B979-12 Especificación estándar para acabado superficial no especular (NS) en conductores eléctricos aéreos de aluminio
  • ASTM B979-12(2018) Especificación estándar para acabado superficial no especular (NS) en conductores eléctricos aéreos de aluminio
  • ASTM B748-90(2006) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM B748-90(1997) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM B748-90(2010) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM B748-90(2021) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM D6504-07 Práctica estándar para la determinación en línea de la conductividad catiónica en agua de alta pureza
  • ASTM E423-71(2014) Método de prueba estándar para la emitancia espectral normal a temperaturas elevadas de muestras no conductoras
  • ASTM B748-90(2016) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM B748-90(2001) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM B764-04(2021) Método de prueba estándar para la determinación simultánea del espesor y el potencial del electrodo de capas individuales en depósitos multicapa de níquel (prueba STEP)
  • ASTM B764-94 Método de prueba estándar para la determinación simultánea del espesor y del potencial electroquímico de capas individuales en depósitos multicapa de níquel (prueba STEP)
  • ASTM B764-94(2003) Método de prueba estándar para la determinación simultánea del espesor y del potencial electroquímico de capas individuales en depósitos multicapa de níquel (prueba STEP)
  • ASTM D6056-96(2011) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de transmisión
  • ASTM D605-82(1996)e1 Especificación estándar para pigmento de silicato de magnesio (talco)
  • ASTM D6059-96(2011) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido

International Telecommunication Union (ITU), tiempo del microscopio electrónico

  • ITU-T R.50-1989 Límites tolerables para el grado de distorsión isócrona de circuitos telegráficos independientes de código de 50 baudios - Transmisión telegráfica (Grupo de Estudio IX) 1 pág.
  • ITU-T R.50-1988 LÍMITES TOLERABLES PARA EL GRADO DE DISTORSIÓN ISOCRÓNICA DEL CÓDIGO - CIRCUITOS TELÉGRAFICOS INDEPENDIENTES DE 50 BAUDIOS
  • ITU-T D.195-2006 Calendario para la liquidación de cuentas de los servicios de telecomunicaciones internacionales Comisión de Estudio 3
  • ITU-T R.50 FRENCH-1988 LÍMITES TOLERABLES PARA EL GRADO DE DISTORSIÓN ISOCRÓNICA DEL CÓDIGO - CIRCUITOS TELÉGRAFICOS INDEPENDIENTES DE 50 BAUDIOS
  • ITU-T R.50 SPANISH-1988 LÍMITES TOLERABLES PARA EL GRADO DE DISTORSIÓN ISOCRÓNICA DEL CÓDIGO - CIRCUITOS TELÉGRAFICOS INDEPENDIENTES DE 50 BAUDIOS
  • ITU-T R.120-1989 Límites tolerables para el grado de distorsión isócrona de circuitos telegráficos independientes de código que funcionan a velocidades de modulación de 75, 100 y 200 baudios - Transmisión telegráfica (Comisión de Estudio IX) 1 pág.
  • ITU-T R.120-1988 LÍMITES TOLERABLES PARA EL GRADO DE DISTORSIÓN ISOCRÓNICA DE CIRCUITOS TELEGRÁFICOS INDEPENDIENTES DE CÓDIGO QUE FUNCIONAN A VELOCIDADES DE MODULACIÓN DE 75, 100 Y 200 BAUDOS
  • ITU-T Y.1365.1-2010 Perfil de telecomunicaciones con protocolo de tiempo de precisión para la sincronización de frecuencias Comisión de Estudio 15
  • ITU-R QUESTION 111-17-1997 Retrasos de señal en antenas y otros circuitos y su calibración para transferencia de tiempo de alta precisión
  • ITU-T R.111 FRENCH-1993 SISTEMA TDM INDEPENDIENTE DE CÓDIGO Y VELOCIDAD PARA TELEGRAFÍA ANISOCRÓNICA Y TRANSMISIÓN DE DATOS
  • ITU-T R.111 SPANISH-1993 SISTEMA TDM INDEPENDIENTE DE CÓDIGO Y VELOCIDAD PARA TELEGRAFÍA ANISOCRÓNICA Y TRANSMISIÓN DE DATOS
  • ITU-T R.120 FRENCH-1988 LÍMITES TOLERABLES PARA EL GRADO DE DISTORSIÓN ISOCRÓNICA DE CIRCUITOS TELEGRÁFICOS INDEPENDIENTES DE CÓDIGO QUE FUNCIONAN A VELOCIDADES DE MODULACIÓN DE 75, 100 Y 200 BAUDOS
  • ITU-T R.120 SPANISH-1988 LÍMITES TOLERABLES PARA EL GRADO DE DISTORSIÓN ISOCRÓNICA DEL CÓDIGO - CIRCUITOS TELEGRÁFICOS INDEPENDIENTES QUE FUNCIONAN A VELOCIDADES DE MODULACIÓN DE 75, 100 Y 200 BAUDS

Society of Automotive Engineers (SAE), tiempo del microscopio electrónico

  • SAE AS4851A-2005 Índice de temperatura y vida térmica relativa para cables eléctricos aislados
  • SAE ARP5107B-2006 Directrices para el análisis de envío por tiempo limitado (TLD) para sistemas de control electrónico del motor
  • SAE J1647-1995 Materiales plásticos y revestimientos para uso en o sobre piezas ópticas como lentes y reflectores de dispositivos de iluminación frontal de descarga de alta intensidad utilizados en vehículos de motor, práctica recomendada de marzo de 1995

YU-JUS, tiempo del microscopio electrónico

  • JUS N.N6.188-1984 Radiocomunicaciones. Distribución cableada y sistemas CATV. Métodos de mediciones. Crominancia: ganancia de luminancia y desigualdades de retardo

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, tiempo del microscopio electrónico

  • GB/T 38783-2020 Método de determinación del espesor del recubrimiento para compuestos de metales preciosos mediante microscopio electrónico de barrido.
  • GB/T 35097-2018 Análisis de microhaz: microscopía electrónica de barrido con espectrometría de rayos X de energía dispersiva: determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas en el aire ambiente.

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, tiempo del microscopio electrónico

  • DB32/T 3459-2018 Microscopía electrónica de barrido para medir la cobertura de microáreas de películas de grafeno

ES-UNE, tiempo del microscopio electrónico

  • UNE-EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
  • UNE-EN 16866:2018 Recubrimientos metálicos y otros recubrimientos inorgánicos: determinación simultánea del espesor y del potencial del electrodo de capas individuales en depósitos multicapa de níquel (prueba STEP)

PH-BPS, tiempo del microscopio electrónico

  • PNS ISO 21363:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión

Professional Standard - Energy, tiempo del microscopio electrónico

  • NB/T 20338-2015 Mediciones in situ del tiempo de respuesta de detectores de temperatura de resistencia importantes para la seguridad en centrales nucleares
  • DL/T 2247.3-2021 Gestión de la operación de despacho de una central eléctrica de almacenamiento de energía electroquímica. Parte 3: Monitoreo y control en tiempo real en el extremo del despacho.

IPC - Association Connecting Electronics Industries, tiempo del microscopio electrónico

  • IPC TR-585 CD-2006 Tiempo @ Temperatura y humedad Estrés del acabado final de la placa Soldabilidad

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, tiempo del microscopio electrónico

  • GJB 5891.6-2006 Método de prueba de carga de material para iniciar un dispositivo explosivo Parte 6: Medición del tamaño de grano Microscopía electrónica de barrido
  • GJB 5384.23-2005 Métodos de prueba de rendimiento para composiciones pirotécnicas Parte 23: Determinación de la distribución del tamaño de partículas para partículas sólidas de humo Método de microscopio electrónico
  • GJB 5384.22-2005 Métodos de prueba de rendimiento para composiciones pirotécnicas Parte 21: Determinación de la concentración de cantidades de partículas sólidas de humo Método del microscopio electrónico

AENOR, tiempo del microscopio electrónico

  • UNE-EN ISO 9220:1996 RECUBRIMIENTOS METÁLICOS. MEDICIÓN DEL ESPESOR DEL RECUBRIMIENTO. MÉTODO DEL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO. (ISO 9220:1988).
  • UNE 40292-1:1975 REVESTIMIENTOS TEXTILES DE PISOS. DETERMINACIÓN DEL ESPESOR SE PIERDE DESPUÉS DE LA APLICACIÓN PROLONGADA DE UNA ALTA ESTÁTICA.
  • UNE-EN 61000-4-11:2005/A1:2017 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-11: Técnicas de prueba y medición - Pruebas de inmunidad a caídas de tensión, interrupciones breves y variaciones de tensión
  • UNE-EN 61000-4-11:2005 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-11: Técnicas de prueba y medición - Pruebas de inmunidad a caídas de tensión, interrupciones breves y variaciones de tensión

Lithuanian Standards Office , tiempo del microscopio electrónico

  • LST EN ISO 9220:2001 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).

BR-ABNT, tiempo del microscopio electrónico

  • ABNT EB-360-1973 FIOS E CABOS CONDUTORES DE ALUM?NIO, COBERTOS COM POLIETILENO, ? PROVA DE TEMPO, PARA TEMPERATURAS AT? 75 "C

RU-GOST R, tiempo del microscopio electrónico

  • GOST 30501-1997
  • GOST R IEC 811-5-1-1995
  • GOST 23089.10-1983 Circuitos integrados. Método para medir la velocidad y el tiempo máximos de acumulación del voltaje de salida de los amplificadores operacionales
  • GOST 30804.4.11-2013 Compatibilidad electromagnética de equipos técnicos. Inmunidad a caídas de tensión, interrupciones breves y variaciones de tensión. Requisitos y métodos de prueba.
  • GOST IEC 60754-2-2011 Ensayos de materiales de cables durante la combustión. Determinación del grado de acidez de los gases desprendidos midiendo el pH y la conductividad.

AT-ON, tiempo del microscopio electrónico

  • OENORM EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).

ECIA - Electronic Components Industry Association, tiempo del microscopio electrónico

  • EIA-448-20-1989 Método 20 Método de prueba para componentes electromecánicos Método de prueba para temperatura de contacto de la cara de la lente

Professional Standard - Electron, tiempo del microscopio electrónico

  • SJ/T 11042-1996 Método de prueba para temperatura (Tk-100) de vidrio electrónico con resistividad volumétrica de 100MΩ·cm

KR-KS, tiempo del microscopio electrónico

  • KS A ISO 21727-2018(2023) Cinematografía: método de medición del volumen percibido de material de audio cinematográfico de corta duración.

SAE - SAE International, tiempo del microscopio electrónico

  • SAE ARP5107A-2005 Directrices para el análisis de envío por tiempo limitado (TLD) para sistemas de control electrónico del motor
  • SAE ARP5107-1997 Directrices para el análisis de envío por tiempo limitado (TLD) para sistemas de control electrónico del motor
  • SAE ARP5107C-2018 Directrices para el análisis de envío por tiempo limitado (TLD) para sistemas de control electrónico del motor

BE-NBN, tiempo del microscopio electrónico

  • NBN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, tiempo del microscopio electrónico

  • CNS 12565-1989 Procedimientos básicos de pruebas ambientales Parte 2: Pruebas, prueba Db: calor húmedo, ciclo (ciclo de 12+12 horas)

未注明发布机构, tiempo del microscopio electrónico

  • BS CECC 13:1985(1999) Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos: Especificaciones básicas: Inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores.
  • DIN VDE 0260-264-2:2003 Cables y alambres para vehículos ferroviarios con comportamiento mejorado en caso de incendio – Espesores de pared de aislamiento estándar Parte 2: Cables unipolares
  • BS ISO 16866:2020 Recubrimientos metálicos y otros recubrimientos inorgánicos. Determinación simultánea del espesor y del potencial del electrodo de capas individuales en depósitos multicapa de níquel (prueba STEP)

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, tiempo del microscopio electrónico

  • JEDEC JESD202-2006 Método para caracterizar la distribución del tiempo de falla de electromigración de interconexiones bajo estrés de temperatura y corriente constante

American National Standards Institute (ANSI), tiempo del microscopio electrónico

  • ANSI/ASTM D6059:2001 Método de prueba para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido
  • ANSI/ASTM D6056:2001 Método de prueba para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de transmisión
  • ANSI/ASTM D2520:2013 Nuevos métodos de prueba estándar para la constante dieléctrica de permitividad compleja de materiales aislantes eléctricos sólidos a frecuencias de microondas y temperaturas de 1650 C

Underwriters Laboratories (UL), tiempo del microscopio electrónico

  • UL 1666-2000 Prueba de altura de propagación de llama de cables eléctricos y de fibra óptica instalados verticalmente en pozos
  • UL 1666-1991 Prueba de altura de propagación de llama de cables eléctricos y de fibra óptica instalados verticalmente en pozos

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, tiempo del microscopio electrónico

  • QUESTION 111-1/7-1997 Retrasos de señal en antenas y otros circuitos y su calibración para transferencia de tiempo de alta precisión

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Defense Logistics Agency, tiempo del microscopio electrónico

Professional Standard - Electricity, tiempo del microscopio electrónico

  • DL/T 1709.4-2017 Especificación técnica del sistema de control de despacho de redes inteligentes, parte 4: monitoreo en tiempo real y alerta temprana

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Japanese Industrial Standards Committee (JISC), tiempo del microscopio electrónico

  • JIS C 61000-4-11:2008 Compatibilidad electromagnética (CEM) -- Parte 4-11: Técnicas de prueba y medición -- Pruebas de inmunidad a caídas de tensión, interrupciones breves y variaciones de tensión

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  • SANS 61000-4-11:2005 Compatibilidad electromagnética (EMC) Parte 4-11: Técnicas de prueba y medición - Pruebas de inmunidad a caídas de tensión, interrupciones breves y variaciones de tensión

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RO-ASRO, tiempo del microscopio electrónico

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CN-QIYE, tiempo del microscopio electrónico

  • Q/GDW 680.43-2011 ¿Sistema de soporte técnico de despacho de redes inteligentes? Parte 4-3: ¿Aplicaciones de alerta temprana y monitoreo en tiempo real? Control automático de la red eléctrica.




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