ZH

RU

EN

La resolución de un microscopio electrónico.

La resolución de un microscopio electrónico., Total: 170 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en La resolución de un microscopio electrónico. son: Óptica y medidas ópticas., Química analítica, Equipo óptico, Calidad del aire, Vocabularios, Metales no ferrosos, Optoelectrónica. Equipo láser, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Educación, Termodinámica y mediciones de temperatura., pruebas de metales, Medidas lineales y angulares., Materiales para la construcción aeroespacial., Componentes electrónicos en general., Sistemas y componentes de fluidos aeroespaciales., Equipo medico, Condiciones y procedimientos de prueba en general., Física. Química, Dispositivos de visualización electrónica., Protección contra el crimen, Materiales para el refuerzo de composites., ingeniería de energía nuclear, Tratamiento superficial y revestimiento., Materias primas para caucho y plástico., Materiales de construcción, Lubricantes, aceites industriales y productos afines., Productos de hierro y acero..


Professional Standard - Machinery, La resolución de un microscopio electrónico.

  • JB/T 5585-1991 Método de prueba de resolución del microscopio electrónico de transmisión.
  • JB/T 5586-1991 Clasificación y parámetro básico del microscopio electrónico de transmisión.

British Standards Institution (BSI), La resolución de un microscopio electrónico.

  • BS ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
  • 20/30380369 DC BS ISO 23420. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
  • BS ISO 25498:2018 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión.
  • BS ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.
  • BS ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito
  • 18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
  • 21/30412880 DC BS ISO 23729. Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito
  • BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • BS ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
  • BS ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas por CDSEM
  • BS ISO 18337:2015 Análisis químico de superficies. Caracterización de superficies. Medición de la resolución lateral de un microscopio de fluorescencia confocal.
  • 23/30420097 DC BS ISO 23124 Análisis químico de superficies. Medición de resoluciones laterales y axiales del microscopio Raman.
  • PD IEC TS 62607-9-1:2021 Nanofabricación. Características clave de control. Mediciones de campos magnéticos parásitos a escala nanométrica trazables y resueltas espacialmente. Microscopía de fuerza magnética
  • BS ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
  • BS ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
  • BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
  • 18/30344520 DC BS ISO 21466. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas mediante CD-SEM
  • 19/30351707 DC BS ISO 21222. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
  • 21/30404763 DC BS ISO 24639. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
  • BS ISO 20263:2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la posición de la interfaz en la imagen transversal de los materiales estratificados.
  • BS ISO 13794:1999 Aire ambiente - Determinación de fibras de amianto - Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta

International Organization for Standardization (ISO), La resolución de un microscopio electrónico.

  • ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la resolución de energía para el análisis del espectro de pérdida de energía de los electrones.
  • ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
  • ISO/CD 25498:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas utilizando un microscopio electrónico de transmisión.
  • ISO/CD 19214:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
  • ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano
  • ISO 15932:2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Vocabulario
  • ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Microscopía de fuerza atómica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito.
  • ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
  • ISO 19214:2017 Análisis de microhaz - Microscopía electrónica analítica - Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión
  • ISO/DIS 23124:2023 Análisis químico de superficies: medición de resoluciones laterales y axiales del microscopio Raman
  • ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
  • ISO 25498:2018 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión
  • ISO 11884-2:2007 Óptica y fotónica. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Parte 2: Microscopios de alto rendimiento.
  • ISO 11884-1:2006 Óptica y fotónica. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Parte 1: Microscopios estereoscópicos para uso general.
  • ISO 18337:2015 Análisis químico de superficies - Caracterización de superficies - Medición de la resolución lateral de un microscopio de fluorescencia confocal
  • ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles utilizando un microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
  • ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método para evaluar dimensiones críticas mediante CD-SEM.
  • ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
  • ISO 21363:2020 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de transmisión.
  • ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
  • ISO/CD 20263:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la posición de la interfaz en la imagen transversal de los materiales estratificados.
  • ISO 13794:1999 Aire ambiente - Determinación de fibras de amianto - Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta
  • ISO 10312:1995 Aire ambiente - Determinación de fibras de amianto - Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa
  • ISO 20263:2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la posición de la interfaz en la imagen transversal de los materiales estratificados.
  • ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, La resolución de un microscopio electrónico.

  • GB/Z 21738-2008 Estructuras fundamentales de nanomateriales unidimensionales. Caracterización por microscopía electrónica de transmisión de alta resolución.
  • GB/T 18907-2002 Método de difracción de electrones de área seleccionada para microscopios electrónicos de transmisión.
  • GB/T 18907-2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de área seleccionada mediante un microscopio electrónico de transmisión.
  • GB/T 31227-2014 Método de prueba para la rugosidad de la superficie mediante microscopio de fuerza atómica para películas delgadas pulverizadas
  • GB/T 19267.6-2003 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopía electrónica de barrido.
  • GB/T 18295-2001 Método de análisis de muestras de arenisca de yacimientos de petróleo y gas mediante microscopio electrónico de barrido.
  • GB/T 32189-2015 Examen de microscopía de fuerza atómica de la rugosidad de la superficie del sustrato monocristalino de nitruro de galio
  • GB/T 18873-2002 Especificación general del microscopio electrónico de transmisión (TEM): microanálisis cuantitativo del espectro dispersivo de energía de rayos X (EDS) para muestras biológicas delgadas
  • GB/T 18873-2008 Guía general de microanálisis cuantitativo con microscopio electrónico de transmisión (TEM) y espectrometría de dispersión de energía de rayos X (EDS) para muestras biológicas delgadas

Association Francaise de Normalisation, La resolución de un microscopio electrónico.

  • NF ISO 15932:2014 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Vocabulario
  • NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
  • XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
  • XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido: métodos para evaluar la nitidez de la imagen
  • NF A91-108:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
  • NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
  • NF T16-404:2020 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión
  • NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
  • NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión
  • NF T25-111-4:1991 Fibras de carbono- Textura y estructura- Parte 4: Fractografía mediante microscopio electrónico de barrido

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), La resolución de un microscopio electrónico.

  • KS D 2713-2006 Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
  • KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Vocabulario
  • KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
  • KS D 2713-2016 Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
  • KS D 2713-2016(2021) Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
  • KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Vocabulario
  • KS M 0044-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS I 0051-1999(2019) Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • KS B ISO 11884-2:2011 Óptica y fotónica-Requisitos mínimos para microscopio estereoscópico-Parte 2: Microscopios de alto rendimiento
  • KS P ISO 10936-2:2020 Óptica y fotónica. Microscopios quirúrgicos. Parte 2: Peligro luminoso procedente de los microscopios quirúrgicos utilizados en cirugía ocular.
  • KS D 2716-2008 Medición del diámetro de nanopartículas-Microscopio electrónico de transmisión
  • KS D ISO 16700-2013(2018) Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • KS D 2716-2008(2018) Medición del diámetro de nanopartículas-Microscopio electrónico de transmisión
  • KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
  • KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
  • KS B ISO 19012-1-2016(2021) Óptica y fotónica-Designación de objetivos del microscopio-Parte 1:Planitud del campo/Plano
  • KS I ISO 10312:2008 Aire ambiente-Determinación de fibras de amianto-Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa
  • KS I ISO 13794:2008 Aire ambiente-Determinación de fibras de amianto-Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta
  • KS I ISO 10312-2008(2018) Aire ambiente-Determinación de fibras de amianto-Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), La resolución de un microscopio electrónico.

  • JIS K 3850-1:2006 Determinación de partículas fibrosas en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
  • JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
  • JIS K 0149-1:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • JIS K 3850-3:2000 Método de medición de partículas fibrosas suspendidas en el aire. Parte 3: Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta.
  • JIS K 3850-2:2000 Método de medición de partículas fibrosas en el aire. Parte 2: Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa.

KR-KS, La resolución de un microscopio electrónico.

  • KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
  • KS P ISO 10936-2-2020 Óptica y fotónica. Microscopios quirúrgicos. Parte 2: Peligro luminoso procedente de los microscopios quirúrgicos utilizados en cirugía ocular.
  • KS D 2716-2023 Medición del diámetro de nanopartículas: microscopio electrónico de transmisión
  • KS B ISO 19012-1-2016 Óptica y fotónica-Designación de objetivos del microscopio-Parte 1:Planitud del campo/Plano

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, La resolución de un microscopio electrónico.

  • GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas
  • GB/T 32262-2015 Preparación de muestra de ácido desoxirribonucleico para medición con microscopio de fuerza atómica.

RU-GOST R, La resolución de un microscopio electrónico.

  • GOST 15114-1978 Sistema de telescopio para dispositivos ópticos. Método visual de determinación de límites de resolución.
  • GOST R ISO 27911-2015 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.
  • GOST R 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido

Association of German Mechanical Engineers, La resolución de un microscopio electrónico.

  • DVS 2803-1974 Soldadura por haz de electrones en microscopía (encuesta)

Professional Standard - Education, La resolución de un microscopio electrónico.

  • JY/T 0581-2020 Reglas generales para los métodos de análisis de microscopía electrónica de transmisión.
  • JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.
  • JY/T 010-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de barrido analítica.

German Institute for Standardization, La resolución de un microscopio electrónico.

  • DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)
  • DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, La resolución de un microscopio electrónico.

  • GB/T 35098-2018 Análisis de microhaz—Microscopía electrónica de transmisión—Método de identificación morfológica de virus vegetales mediante microscopía electrónica de transmisión

Group Standards of the People's Republic of China, La resolución de un microscopio electrónico.

工业和信息化部, La resolución de un microscopio electrónico.

  • YB/T 4676-2018 Análisis de fases precipitadas en acero mediante microscopía electrónica de transmisión

American Society for Testing and Materials (ASTM), La resolución de un microscopio electrónico.

  • ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
  • ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E2859-11(2017) Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
  • ASTM E285-08(2015) Método de prueba estándar para pruebas de ablación con oxiacetileno de materiales de aislamiento térmico
  • ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
  • ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
  • ASTM E2859-11(2023) Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
  • ASTM E2859-11 Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
  • ASTM E2090-00 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas por limpiadores de salas limpias mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
  • ASTM E2090-12 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
  • ASTM E986-97 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E986-04(2017) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E766-14 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E766-98(2008)e1 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E3143-18a Práctica estándar para realizar microscopía electrónica de criotransmisión de liposomas
  • ASTM E3143-18 Práctica estándar para realizar microscopía electrónica de criotransmisión de liposomas
  • ASTM E3143-18b Práctica estándar para realizar microscopía electrónica de criotransmisión de liposomas
  • ASTM D3849-02 Método de prueba estándar para la caracterización morfológica del negro de humo mediante microscopía electrónica
  • ASTM D3849-04 Método de prueba estándar para la caracterización morfológica del negro de humo mediante microscopía electrónica
  • ASTM C1723-16(2022) Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
  • ASTM C1723-10 Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
  • ASTM C1723-16
  • ASTM D3849-13 Método de prueba estándar para negro de humo mdash; caracterización morfológica del negro de humo mediante microscopía electrónica
  • ASTM D3849-14 Método de prueba estándar para negro de humo mdash; caracterización morfológica del negro de humo mediante microscopía electrónica
  • ASTM E766-14(2019) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM D7416-08 Práctica estándar para el análisis de lubricantes en servicio utilizando un sistema particular de cinco partes (permisividad dieléctrica, permitividad dieléctrica resuelta en el tiempo con campos magnéticos de conmutación, recuento de partículas láser
  • ASTM E2142-08 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
  • ASTM D3849-95a(2000) Método de prueba estándar para negro de carbón: dimensiones del agregado primario a partir del análisis de imágenes con microscopio electrónico
  • ASTM D3849-07 Método de prueba estándar para la caracterización morfológica del negro de humo mediante microscopía electrónica
  • ASTM D3849-22 Método de prueba estándar para negro de humo: caracterización morfológica del negro de humo mediante microscopía electrónica
  • ASTM E3143-18b(2023) Práctica estándar para realizar microscopía electrónica de criotransmisión de liposomas
  • ASTM E2142-08(2015) Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), La resolución de un microscopio electrónico.

Professional Standard - Petroleum, La resolución de un microscopio electrónico.

  • SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
  • SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
  • SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas

国家能源局, La resolución de un microscopio electrónico.

  • SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.

International Electrotechnical Commission (IEC), La resolución de un microscopio electrónico.

  • IEC PAS 62191:2000 Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados no herméticos.
  • IEC TS 62607-9-1:2021 Nanofabricación - Características de control clave - Parte 9-1: Mediciones de campos magnéticos parásitos a nanoescala resueltas espacialmente trazables - Microscopía de fuerza magnética

Society of Automotive Engineers (SAE), La resolución de un microscopio electrónico.

  • SAE ARP598C-2003 (R) Dimensionamiento microscópico aeroespacial y recuento de contaminación de partículas para sistemas de energía fluida

Danish Standards Foundation, La resolución de un microscopio electrónico.

  • DS/ISO 10936-2:2010 Óptica y fotónica. Microscopios quirúrgicos. Parte 2: Peligro de luz procedente de los microscopios quirúrgicos utilizados en cirugía ocular.
  • DS/EN ISO 9220:1995
  • DS/ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.

Professional Standard - Nuclear Industry, La resolución de un microscopio electrónico.

  • EJ/T 20176-2018 Microscopio de fuerza atómica Método de medición de la nitidez del borde de la herramienta de diamante

European Committee for Standardization (CEN), La resolución de un microscopio electrónico.

  • EN ISO 21363:2022 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión (ISO 21363:2020)

SE-SIS, La resolución de un microscopio electrónico.

  • SIS SS CECC 00013-1985 Especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, La resolución de un microscopio electrónico.

  • SPB-M2-1-2007 Propiedades interfaciales y reológicas de asfaltenos estudiadas mediante microscopía de fuerza atómica.

IT-UNI, La resolución de un microscopio electrónico.

  • UNI 7604-1976 Examen con microscopio electrónico de materiales metálicos mediante la técnica de réplica. Preparación de réplicas para examen de microfractografía.
  • UNI 7329-1974 Examen con microscopio electrónico de materiales metálicos mediante la técnica de réplica. Preparación de réplicas para examen de microestructura.

ES-UNE, La resolución de un microscopio electrónico.

  • UNE-EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).

PH-BPS, La resolución de un microscopio electrónico.

  • PNS ISO 21363:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión




©2007-2023 Reservados todos los derechos.