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método xps

método xps, Total: 6 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en método xps son: Química analítica.

International Organization for Standardization (ISO), método xps

• ISO/CD 5861 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Método de calibración de intensidad para instrumentos Al Kα XPS monocromáticos de cristal de cuarzo.
• ISO/DIS 5861:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Método de calibración de intensidad para instrumentos Al Kα XPS monocromáticos de cristal de cuarzo.

British Standards Institution (BSI), método xps

• BS ISO 16531:2020 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Métodos para la alineación del haz de iones y la medición asociada de la corriente o la densidad de corriente para perfiles de profundidad en AES y XPS
• 19/30399949 DC BS ISO 16531. Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Métodos para la alineación del haz de iones y la medición asociada de la corriente o la densidad de corriente para perfiles de profundidad en AES y XPS

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, método xps

• GB/T 34326-2017 Análisis químico de superficie—Perfiles de profundidad—Métodos para la alineación del haz de iones y la medición asociada de corriente o densidad de corriente para perfiles de profundidad en AES y XPS

American Society for Testing and Materials (ASTM), método xps

• ASTM E2735-13 Guía estándar para la selección de calibraciones necesarias para experimentos de espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)

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