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Espectro de reflectancia espectral

Espectro de reflectancia espectral, Total: 499 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Espectro de reflectancia espectral son: Astronomía. Geodesia. Geografía, Óptica y medidas ópticas., Química analítica, Metrología y medición en general., Cerámica, Agricultura y silvicultura, Equipo medico, Fotografía, Comunicaciones de fibra óptica., pruebas de metales, Materiales semiconductores, Vocabularios, Telecomunicaciones en general, ingeniería de energía solar, Pruebas eléctricas y electrónicas., Equipo óptico, Aparatos de calefacción domésticos, comerciales e industriales., Optoelectrónica. Equipo láser, Mediciones de radiación, Metales no ferrosos, Metales ferrosos, Plástica, Minerales metalíferos, Materiales de construcción, Productos de hierro y acero., Dispositivos semiconductores, Pruebas no destructivas, Artículos de arte y artesanía., Métodos generales de pruebas y análisis para productos alimenticios., Refractarios, Vaso, Productos de la industria química., Educación, Ferroaleaciones, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Pinturas y barnices, Papel y cartón, Terminología (principios y coordinación), Residuos, Productos petrolíferos en general, Té. Café. Cacao, Ingredientes de pintura, Joyería, Componentes electrónicos en general., Productos de caucho y plástico., Calidad del agua, ingeniería de energía nuclear, Calidad del suelo. Pedología, Protección contra el fuego, Combustibles, Alimentos para animales, Químicos orgánicos, Materiales para la construcción aeroespacial., Estandarización. Reglas generales, Productos de la industria textil., químicos inorgánicos, Protección de radiación.


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Espectro de reflectancia espectral

  • GB/T 36540-2018(英文版) Medición de reflectividad espectral VIS SWIR del agua
  • GB/T 36540-2018 Medición de reflectividad espectral del agua VIS-SWIR
  • GB/T 26828-2011 Especificación para recubrimientos antirreflectantes multiespectrales.
  • GB/T 33988-2017(英文版) Medición de reflectividad espectral VIS SWIR de características de la superficie urbana
  • GB/T 42360-2023 Análisis espectroscópico de fluorescencia de rayos X de reflexión total de agua para análisis químico de superficies
  • GB/T 24578-2015 Método de prueba para medir la contaminación metálica de la superficie de obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total
  • GB/T 24578-2009 Método de prueba para medir la contaminación metálica de la superficie de obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total
  • GB/T 26179-2010 La medición espectroradiométrica de fuentes de luz.
  • GB/T 7287.10-1987 Método de medición de la emisión espectral normal de un calentador de infrarrojos.
  • GB/T 28208-2011 Espectroradiometría de fuentes de radiación óptica pulsada.
  • GB/T 11170-1989 Método para el análisis espectroscópico de emisión fotoeléctrica de acero inoxidable.
  • GB/T 16599-1996 Métodos para el análisis del espectro de emisión de molibdeno.
  • GB/T 16600-1996 Métodos para el análisis del espectro de emisión de tungsteno.
  • GB/T 9259-1988 Terminología del análisis espectroquímico de emisiones.
  • GB/Z 26209-2010 Determinación de la capacidad de respuesta espectral de detectores de radiación óptica.
  • GB/T 7286.2-1987 Método de prueba para la emitancia espectral normal de metales y materiales no metálicos.
  • GB/T 7999-2000 Método estándar para análisis espectrométrico de lectura directa de aluminio y sus aleaciones.
  • GB/T 14203-1993 Regla general para el análisis espectroscópico de emisión fotoeléctrica de hierro, acero y aleaciones.
  • GB/T 26042-2010 Métodos de análisis de zinc y aleaciones de zinc. La espectrometría de emisión óptica.
  • GB/T 28632-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral.
  • GB/T 20150-2006 Espectro de acción de referencia del eritema y dosis estándar de eritema
  • GB/T 7999-2015
  • GB/T 7999-2007 Método de análisis espectrométrico de emisión óptica de aluminio y aleaciones de aluminio.
  • GB/T 28020-2011 Adorno.Determinación de elementos nocivos.Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • GB/T 18043-2008 Joyería.Determinación del contenido de metales preciosos.Método mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X.
  • GB/T 18043-2013 Joyería. Determinación del contenido de metales preciosos. Método mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X.
  • GB/T 16597-1996 Métodos analíticos de productos metalúrgicos. Regla general para los métodos espectrométricos de fluorescencia de rayos X.
  • GB/T 19502-2004 Análisis químico de superficies-Espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa (GD-OSE)-Introducción al uso
  • GB/T 25184-2010 Método de verificación para espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.
  • GB/T 26070-2010 Caracterización del daño subsuperficial en obleas semiconductoras compuestas pulidas mediante el método de espectroscopia de diferencia de reflectancia
  • GB/T 7962.12-1987 Métodos de prueba de vidrio óptico incoloro: transmitancia interna espectral
  • GB/T 2590.9-1981 Óxido de hafnio. Determinación del contenido de óxido de circonio. Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • GB/Z 42520-2023 Directrices para la práctica de laboratorio de espectrometría de fluorescencia de rayos X para el análisis de minerales de hierro
  • GB/T 16481-1996 Tablas de espectro estándar del espectro de emisión atómica de antorcha de plasma de microondas de tierras raras
  • GB/T 19500-2004 Reglas generales para el método de análisis espectroscópico de fotoelectrones de rayos X.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Espectro de reflectancia espectral

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Espectro de reflectancia espectral

  • GB/T 33988-2017 Medición de reflectividad espectral VIS-SWIR de características de la superficie urbana
  • GB/T 34534-2017 Coque. Determinación de la composición de las cenizas. Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Espectro de reflectancia espectral

  • ASTM E573-01(2021) Prácticas estándar para espectroscopia de reflexión interna
  • ASTM E573-96 Prácticas estándar para espectroscopia de reflexión interna
  • ASTM E573-01 Prácticas estándar para espectroscopia de reflexión interna
  • ASTM E573-01(2007) Prácticas estándar para espectroscopia de reflexión interna
  • ASTM E573-01(2013) Prácticas estándar para espectroscopia de reflexión interna
  • ASTM E307-72(2019) Método de prueba estándar para emitancia espectral normal a temperaturas elevadas
  • ASTM E2193-16 Método de prueba estándar para la transmitancia ultravioleta del monoetilenglicol (mediante espectrofotometría ultravioleta)
  • ASTM E3029-15(2023) Práctica estándar para determinar factores de corrección espectral relativa para señales de emisión de espectrómetros de fluorescencia
  • ASTM D3649-91 Método de prueba estándar para espectrometría de agua de rayos gamma de alta resolución
  • ASTM D3649-98a Método de prueba estándar para espectrometría de agua de rayos gamma de alta resolución
  • ASTM E1621-21 Guía estándar para el análisis espectrométrico de emisión de rayos X
  • ASTM E995-04 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
  • ASTM E3029-15 Práctica estándar para determinar factores de corrección espectral relativa para señales de emisión de espectrómetros de fluorescencia
  • ASTM E1654-94(2004) Guía estándar para medir cambios espectrales inducidos por radiación ionizante en fibras y cables ópticos para su uso en espectroscopia remota de fibra óptica Raman
  • ASTM D3649-23 Práctica estándar para espectrometría de agua de rayos gamma de alta resolución
  • ASTM E995-16 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
  • ASTM C523-68(1987) Método de prueba de reflectancia de la luz de materiales acústicos mediante el reflectómetro de esfera integradora
  • ASTM E1654-94(1999) Guía estándar para medir cambios espectrales inducidos por radiación ionizante en fibras y cables ópticos para su uso en espectroscopia remota de fibra óptica Raman
  • ASTM E971-11 Práctica estándar para el cálculo de la transmitancia fotométrica y la reflectancia de materiales a la radiación solar
  • ASTM D5381-93(2003) Guía estándar para espectroscopia de fluorescencia de rayos X (XRF) de pigmentos y extensores
  • ASTM D5381-93(1998) Guía estándar para espectroscopia de fluorescencia de rayos X (XRF) de pigmentos y extensores
  • ASTM D3649-06 Práctica estándar para espectrometría de agua de rayos gamma de alta resolución
  • ASTM E996-04 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E996-10 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM F1252-89(2002) Método de prueba estándar para medir la reflectividad óptica de materiales transparentes
  • ASTM F1252-89(1996) Método de prueba estándar para medir la reflectividad óptica de materiales transparentes
  • ASTM F1252-08 Método de prueba estándar para medir la reflectividad óptica de materiales transparentes
  • ASTM D7990-21 Método de prueba estándar para utilizar espectros de reflectancia para producir un índice de aumento de temperatura en revestimientos poliméricos
  • ASTM D7990-15 Método de prueba estándar para utilizar espectros de reflectancia para producir un índice de aumento de temperatura en revestimientos poliméricos
  • ASTM E944-96 Guía estándar para la aplicación de métodos de ajuste del espectro de neutrones en la vigilancia de reactores (IIA)
  • ASTM E1097-97 Guía estándar para el análisis de espectrometría de emisión de plasma de corriente directa
  • ASTM E10-08 Método de prueba estándar para la dureza Brinell de materiales metálicos
  • ASTM E10-15
  • ASTM C1402-04 Guía estándar para espectrometría de rayos gamma de alta resolución de muestras de suelo
  • ASTM C1402-98 Guía estándar para espectrometría de rayos gamma de alta resolución de muestras de suelo
  • ASTM C1402-04(2009) Guía estándar para espectrometría de rayos gamma de alta resolución de muestras de suelo
  • ASTM E423-71(2019) Método de prueba estándar para la emitancia espectral normal a temperaturas elevadas de muestras no conductoras
  • ASTM D3649-06(2014) Práctica estándar para espectrometría de agua de rayos gamma de alta resolución
  • ASTM E1621-05 Guía estándar para el análisis espectrométrico de emisión de rayos X
  • ASTM E996-94(1999) Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM F1252-21 Método de prueba estándar para medir la reflectividad óptica de materiales transparentes
  • ASTM E1507-98 Guía estándar para describir y especificar el espectrómetro de un instrumento de lectura directa por emisión óptica
  • ASTM E2626-08 Guía estándar para análisis espectrométrico de metales reactivos y refractarios
  • ASTM E2626-08e1 Guía estándar para análisis espectrométrico de metales reactivos y refractarios
  • ASTM E1021-12 Método de prueba estándar para mediciones de respuesta espectral de dispositivos fotovoltaicos
  • ASTM E971-88(2003) Práctica estándar para el cálculo de la transmitancia fotométrica y la reflectancia de materiales a la radiación solar
  • ASTM E971-88(1996)e1 Práctica estándar para el cálculo de la transmitancia fotométrica y la reflectancia de materiales a la radiación solar
  • ASTM E971-11(2019) Práctica estándar para el cálculo de la transmitancia fotométrica y la reflectancia de materiales a la radiación solar

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Espectro de reflectancia espectral

  • JJF 1601-2016 Especificación de calibración para espectrofotómetros para medición de reflectancia difusa
  • JJF 1335-1990 Norma técnica de funcionamiento del estándar secundario para reflectancia espectral en el rango de 800~2000 nm
  • JJF 1975-2022 Especificaciones de calibración para espectroradiómetros
  • JJF 2024-2023 Especificaciones de calibración para espectrómetros de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva
  • JJF 1807-2020 Especificación de calibración para lámparas de flujo radiante espectral total
  • JJF 1133-2005 Especificación de calibración del medidor de oro mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X

RU-GOST R, Espectro de reflectancia espectral

  • GOST 8.197-2013 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Esquema de verificación estatal para instrumentos que miden la radiancia espectral, la potencia radiante espectral, la irradiancia espectral, la intensidad radiante espectral, la potencia y la intensidad radiante en el rango espectral.
  • GOST R 55080-2012 Hierro fundido. Método de análisis de fluorescencia de rayos X (XRF)
  • GOST 19834.3-1976 Emisores semiconductores. Métodos para medir la distribución relativa de energía espectral y el ancho de banda espectral.
  • GOST 22091.8-1984 Dispositivos de rayos X. Método de medición de la estructura espectral y la contaminación relativa del espectro.
  • GOST 17261-2008 Zinc. Métodos de análisis espectral de emisiones atómicas.
  • GOST R 59742-2021 Óptica y fotónica. Láseres y equipos relacionados con el láser. Elementos ópticos para equipos láser. Métodos de prueba para reflectancia especular y transmitancia regular.
  • GOST R 54153-2010 Acero. Método de análisis espectral de emisiones atómicas.
  • GOST 8.332-1978 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Medidas de luz. Valores de eficiencia lumínica espectral relativa de la radiación monocromática para visión fotópica.
  • GOST 27981.3-1988 Cobre de alta pureza. Método de análisis espectral de emisión con registro fotoeléctrico del espectro / Nota: Será reemplazado por GOST 31382 (2009).
  • GOST R 53203-2008 Productos derivados del petróleo. Determinación de azufre mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X dispersiva de longitud de onda
  • GOST 6012-2011 Níquel. Métodos de análisis espectral de emisiones químico-atómicas.
  • GOST 8776-2010 Cobalto. Métodos de análisis espectral de emisiones químico-atómicas.
  • GOST 6012-1978 Níquel. Métodos de análisis espectral de emisiones químico-atómicas.
  • GOST 33850-2016 Suelos. Determinación de la composición química mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X.
  • GOST 8.332-2013 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Medidas de luz. Valores de la función de eficiencia luminosa espectral relativa de la radiación monocromática para visión fotópica
  • GOST 21195-1984 Fuentes espectrales de radiación óptica de descarga de gas de alta intensidad. Especificaciones generales

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Espectro de reflectancia espectral

  • JIS R 1698:2015 Medición de la reflectancia espectral de películas delgadas de cerámica fina en condiciones húmedas.
  • JIS B 7107:1997 Fotografía - Lentes de cámaras - Medición de la transmitancia espectral ISO
  • JIS G 1256:1997 Hierro y acero - Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
  • JIS K 0119:1997 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • JIS K 0119:2008 Reglas generales para el análisis de fluorescencia de rayos X.
  • JIS M 8205:2000 Minerales de hierro: análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
  • JIS H 1123:2021 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica del metal de plomo.
  • JIS H 1305:2005 Método para el análisis espectroquímico de emisión óptica de aluminio y aleaciones de aluminio.
  • JIS R 2216:2005 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
  • JIS H 1691:1968 Método para el análisis espectroquímico del tantalio.
  • JIS H 1183:2007 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de plata.
  • JIS H 1123:1995 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica del metal de plomo.
  • JIS H 1631:2008 Aleaciones de titanio: método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
  • JIS G 1256 AMD 1:2010 Hierro y acero - Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X (Enmienda 1)
  • JIS G 1351:2006 Ferroaleaciones - Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
  • JIS R 1694:2012 Medición de la transmitancia espectral de películas finas de cerámica en condiciones húmedas.
  • JIS H 1630:1995 Método para el análisis espectrométrico de emisión atómica de titanio.
  • JIS H 1630:1975 Método para el análisis espectrométrico de emisión atómica de titanio.
  • JIS K 0116:2003 Reglas generales para la espectrometría de emisión atómica.
  • JIS K 0116:2014 Reglas generales para la espectrometría de emisión atómica.
  • JIS H 1163:1991 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cadmio metálico.
  • JIS H 1292:1997 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de cobre y aleaciones de cobre.
  • JIS H 1287:2015 Níquel y aleaciones de níquel. Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • JIS G 1256 AMD 2:2013 Hierro y acero. Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X (Enmienda 2)
  • JIS H 1113:2022 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica del zinc metálico.
  • JIS B 7158-3:2017 Microscopios - Designación de los objetivos del microscopio - Parte 3: Transmitancia espectral
  • JIS R 1693-1:2012 Método de medición de la emisividad de cerámicas finas y compuestos de matriz cerámica. Parte 1: Emisividad espectral normal mediante el método de referencia del cuerpo negro utilizando FTIR.
  • JIS H 1669:1990 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de aleaciones de circonio.
  • JIS H 1103:1995 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cobre de cátodo electrolítico.
  • JIS H 1560:2016 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de aleaciones de zinc fundidas a presión.
  • JIS G 1351:1987 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroaleaciones.
  • JIS G 1202:1975 Normas generales sobre análisis espectroscópico de emisiones para el hierro y el acero
  • JIS B 7081:2017 Óptica y fotónica - Métodos de medición espectroscópica para la dispersión integrada por elementos ópticos planos
  • JIS R 1693-2:2012 Método de medición de la emisividad de cerámicas finas y compuestos de matriz cerámica. Parte 2: Emisividad normal mediante método reflectante utilizando FTIR.
  • JIS C 6122-5-1:2001 Amplificadores de fibra óptica. Métodos de prueba. Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia. Método de prueba del analizador de espectro óptico.
  • JIS H 1305:1976 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de aluminio y aleaciones de aluminio.
  • JIS H 1303:1976 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de aluminio.
  • JIS H 1322:1976 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de magnesio.
  • JIS R 2216:1995 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ladrillos refractarios y morteros refractarios.
  • JIS Z 2611:1977 Reglas generales para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de materiales metálicos.

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, Espectro de reflectancia espectral

  • DB37/T 2188-2012 Reglamento Técnico para la Determinación de la Espectroscopía de Reflexión de la Flor de Manzano
  • DB37/T 2189-2012 Reglamento técnico para la detección de espectroscopía de reflectancia del dosel en el período de floración del manzano.

German Institute for Standardization, Espectro de reflectancia espectral

  • DIN EN 61290-5-1:2007-03 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006); Versión alemana EN 61290-5-1:2006 / Nota: DIN EN 61290-5-1 (2001-06) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2009-06-01.
  • DIN 5030-3:2021-09 Medición espectral de radiación - Aislamiento espectral - Definiciones y características
  • DIN 58141-2:2012-09 Medición de elementos de fibra óptica - Parte 2: Determinación de la transmitancia espectral de guías de luz; Texto en alemán e inglés.
  • DIN 5030-3:1984 Medición espectral de radiación; aislamiento espectral; definiciones y características
  • DIN 5030-3:2021 Medición espectral de radiación - Aislamiento espectral - Definiciones y características
  • DIN EN 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006); Versión alemana EN 61290-5-1:2006
  • DIN 5030-5:1987 Medición espectral de radiación; detectores físicos para mediciones espectrales de radiación; terminología, cantidades características, criterios de selección
  • DIN EN ISO 13697:2006-08 Óptica y fotónica - Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos de prueba para la reflectancia especular y la transmitancia regular de componentes de láseres ópticos (ISO 13697:2006); Versión alemana EN ISO 13697:2006
  • DIN 5030-2:1982-09 Medición espectral de radiación; fuentes de radiación; Criteria de selección
  • DIN 19011-3:1989 fuentes de linterna; números de identificación para la distribución espectral de la radiación
  • DIN 5030-5:2019-08 Medición espectral de radiación - Detectores físicos para medición espectral de radiación - Terminología, magnitudes características, criterios de selección
  • DIN 5030-2:1982 Medición espectral de radiación; fuentes de radiación; Criteria de selección
  • DIN 5036-3:1979-11 Propiedades radiométricas y fotométricas de materiales; Métodos de medición de características fotométricas y radiométricas espectrales.
  • DIN 51418-1:1996 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Definiciones y principios básicos
  • DIN ISO 16129:2020-11 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
  • DIN EN ISO 10545-18:2022-08 Baldosas cerámicas - Parte 18: Determinación del valor de reflectancia de la luz (LRV) (ISO 10545-18:2022); Versión alemana EN ISO 10545-18:2022
  • DIN EN 15079:2015-07 Cobre y aleaciones de cobre - Análisis por espectrometría de emisión óptica por chispa (S-OES); Versión alemana EN 15079:2015
  • DIN IEC 62484:2014 Instrumentación de protección radiológica: monitores de portal basados en espectroscopia utilizados para la detección e identificación del tráfico ilícito de material radiactivo (IEC 62484:2010)
  • DIN 5030-1:1985-06 Medición espectral de radiación; terminología, cantidades, valores característicos
  • DIN 5030-1:2023-07 Medición espectral de radiación - Terminología, cantidades, valores característicos / Nota: Fecha de emisión 2023-05-26*Previsto como reemplazo de DIN 5030-1 (1985-06).
  • DIN 4522-4:1993-04 Lentes fotográficas; método para medir la transmitancia espectral
  • DIN EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-2:2003); Versión alemana EN 61290-5-2:2004
  • DIN 58141-2:1989
  • DIN EN ISO 10703:2022-11 Calidad del agua - Radionucleidos emisores de rayos gamma - Método de prueba mediante espectrometría de rayos gamma de alta resolución (ISO 10703:2021); Versión alemana EN ISO 10703:2021

Association Francaise de Normalisation, Espectro de reflectancia espectral

  • NF EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
  • NF S11-687:1997 Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Determinación de la transmitancia espectral y luminosa.
  • NF X21-061:2008 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral.
  • NF EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
  • NF EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 5-3: métodos de prueba para parámetros de reflectancia. Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico.
  • NF S10-114*NF EN ISO 13697:2006 Óptica y fonótica - Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos de prueba para la reflectancia y transmitancia especular de componentes de láseres ópticos.
  • NF C93-805-5-1*NF EN 61290-5-1:2006 Métodos de prueba de amplificadores ópticos. Parte 5-1: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
  • NF A06-840:1998 Zinc y aleaciones de zinc. Análisis espectrométrico de emisión óptica.
  • NF EN ISO 13697:2006 Óptica y fotónica - Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos de prueba para la reflectancia y transmitancia especular de componentes ópticos láser
  • NF S10-049*NF ISO 15368:2021 Óptica y fotónica - Medición de reflectancia de superficies planas y transmitancia de elementos planos paralelos
  • NF ISO 15368:2021 Óptica y fotónica - Medición del factor de reflexión de superficies planas y la transmitancia de elementos planos paralelos
  • NF A07-510X2:1975 ANÁLISIS DE ALUMINIO NO ALADO MEDIANTE ESPECTROGRAFÍA DE EMISIÓN.
  • NF C93-805-5-3*NF EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-3: métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico.
  • NF A07-510:1971 Análisis de aluminio no aleado mediante espectrografía de emisión.
  • NF A07-515:1971 Análisis de aleaciones de aluminio y cobre mediante espectrografía de emisión.
  • NF C93-805-5-1:2001 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico.
  • NF B30-111*NF ISO 1776:1986 Vaso. Resistencia al ataque del ácido clorhídrico a 100 grados centígrados. Método espectrométrico de emisión de llama o absorción atómica de llama.
  • NF A07-500:1979 Análisis del aluminio y sus aleaciones mediante espectrometría de emisión.
  • NF S10-049:2003 Óptica e instrumentos ópticos - Medida de reflectancia de superficies planas y transmitancia de elementos planos paralelos.
  • NF A06-590:2005 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Guía para el análisis espectrométrico de emisión óptica de chispa.
  • NF M60-818:2008 Calidad del agua - Determinación de la concentración de actividad de radionúclidos - Método por espectrometría de rayos gamma de alta resolución.
  • NF EN 15079:2015 Cobre y aleaciones de cobre - Análisis por espectrometría de emisión óptica por chispa (SEO-E)
  • NF S10-048*NF ISO 19962:2019 Óptica y fotónica: métodos de medición espectroscópica para la dispersión integrada por elementos ópticos planos paralelos
  • NF ISO 19962:2019 Óptica y fotónica - Métodos de medición espectroscópica para la dispersión integrada por elementos ópticos con planos paralelos
  • NF C57-805-2*NF EN 62805-2:2017 Método para medir vidrio fotovoltaico (PV) - Parte 2: Medición de transmitancia y reflectancia
  • NF EN 62805-2:2017 Método de medición de vidrio fotovoltaico (PV) - Parte 2: medición de transmitancia y reflectancia
  • NF ISO 14707:2006 Análisis químico de superficies - Espectrometría de emisión óptica de descarga luminiscente - Introducción a su uso
  • NF M60-302:1996 DESPERDICIAR. MEDIDAS NO DESTRUCTIVAS POR ESPECTROMETRÍA GAMMA. MEDICIONES NO DESTRUCTIVAS DE ESPECTROMETRIA GAMMA DE LA ACTIVIDAD DE RADIONUCLIDOS EN RESIDUOS ENVASADOS PARA FINES DE CARACTERIZACIÓN E INSPECCIÓN.

International Commission on Illumination (CIE), Espectro de reflectancia espectral

  • CIE 64-1984 Determinación de la capacidad de respuesta espectral de los detectores de radiación óptica (E)
  • CIE 63-1984 La medición espectroradiométrica de fuentes de luz (E)
  • CIE 151-2003 PONDERACIÓN ESPECTRAL DE LA RADIACIÓN SOLAR ULTRAVIOLETA
  • CIE 105-1993 Espectrorradiometría de fuentes de radiación óptica pulsada (1.ª edición) (E)
  • CIE 202-2011 MEDICIÓN DE RESPONSABILIDAD ESPECTRAL DE DETECTORES, RADIÓMETROS Y FOTÓMETROS
  • CIE 86-1990 CIE 1988 Función de eficiencia luminosa espectral de 2 grados para visión fotópica (1.ª edición) (E)

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Espectro de reflectancia espectral

  • KS B ISO 8599:2004 Óptica e instrumentos ópticos-Lentes de contacto-Determinación de la transmitancia espectral y luminosa
  • KS B ISO 8599:2014 Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Determinación de la transmitancia espectral y luminosa.
  • KS C IEC 61290-5-1-2007(2022) Amplificadores ópticos-Métodos de prueba-Parte 5-1:Parámetros de reflectancia -Método del analizador de espectro óptico
  • KS C IEC 61290-5-1-2007(2017) Amplificadores ópticos-Métodos de prueba-Parte 5-1:Parámetros de reflectancia -Método del analizador de espectro óptico
  • KS D 1655-2008 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero.
  • KS D 1898-2009 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de aleaciones de cobre.
  • KS D 1654-1993 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero
  • KS D 1682-2020 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica del metal de plomo.
  • KS D 1654-2003(2016) Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero.
  • KS D 2710-2019 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroniobio.
  • KS D 2086-2004 Método para el análisis espectrométrico de emisión atómica de titanio.
  • KS D ISO 14706:2003 Análisis químico de superficie: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
  • KS P ISO 9913-1-2014(2019) Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Parte 1: Determinación de la permeabilidad y transmisibilidad al oxígeno con el método polarográfico.
  • KS D 1686-2011 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroaleaciones.
  • KS D 2518-2015 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cadmio metálico.
  • KS D 1655-1993 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero
  • KS M 0017-1995 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • KS D 1898-2019 Aleaciones de cobre: métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • KS B ISO 8599-2014(2019) Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Determinación de la transmitancia espectral y luminosa.
  • KS D 2558-1995 Método para el análisis espectrográfico de emisión de tantalio.
  • KS D 1684-1993 Métodos para el análisis espectrográfico de emisión de lingotes de magnesio.
  • KS D 1682-1993 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de plomo.
  • KS D 1684-1985 Métodos para el análisis espectrográfico de emisión de lingotes de magnesio.
  • KS D 2597-1996 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de circonio y aleaciones de circonio.
  • KS D 1654-2003 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero.
  • KS L 3316-2014 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
  • KS D 1686-2011(2021) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroaleaciones.
  • KS L 3316-2014(2019) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
  • KS D 2518-2015(2020) Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cadmio metálico.
  • KS L 3316-1998 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
  • KS L 3316-1988 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
  • KS M ISO 22891:2014 Artículo — Determinación de la transmitancia mediante medición de reflectancia difusa
  • KS M ISO 22891:2020 Papel — Determinación de la transmitancia por Papel — Determinación de la transmitancia por
  • KS B ISO 15368-2006(2016) Óptica e instrumentos ópticos. Medición de la reflectancia de superficies planas y la transmitancia de elementos planos paralelos.
  • KS C IEC 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos-Métodos de prueba-Parte 5-1:Parámetros de reflectancia-Método del analizador de espectro óptico
  • KS D 2569-2005 Métodos para el análisis espectrométrico de emisión ICP de tantalio.
  • KS D 2569-2016 Métodos para el análisis espectrométrico de emisión ICP de tantalio.
  • KS D 2569-2016(2021) Métodos para el análisis espectrométrico de emisión ICP de tantalio.
  • KS B 5426-2013(2018) Método para medir la transmitancia espectral de una lente fotográfica.
  • KS B ISO 15368:2006 Óptica e instrumentos ópticos-Medición de reflectancia de superficies planas y transmitancia de elementos planos paralelos
  • KS B ISO 15368-2006(2021) Óptica e instrumentos ópticos. Medición de la reflectancia de superficies planas y la transmitancia de elementos planos paralelos.
  • KS D 1650-1993 Reglas generales para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de materiales metálicos.
  • KS M 5506-2011(2021) Método de prueba de reflectancia infrarroja (a partir de la fecha espectrofotométrica)
  • KS E 3076-2017 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra de sílice y arena de sílice.
  • KS D 1650-2008 Reglas generales para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de materiales metálicos.
  • KS E 3076-2022 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra de sílice y arena de sílice.
  • KS D 1899-2019 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cobre de cátodo electrolítico.
  • KS D 1929-2019 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de aleaciones de zinc fundidas a presión.
  • KS D 1929-2004 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de aleaciones de zinc fundidas a presión.
  • KS D 2597-1996(2021) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de circonio y aleaciones de circonio.
  • KS D 1681-2003 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de aluminio.
  • KS D 1684-2008 Métodos para el análisis espectrográfico de emisión de lingotes de magnesio.
  • KS D 1682-2008 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de plomo.
  • KS D 1681-1993 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de aluminio.
  • KS D 2086-1993 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión de titanio.
  • KS D 1684-2008(2018) Métodos para el análisis espectrográfico de emisión de lingotes de magnesio.
  • KS D 2086-2019 Métodos para el análisis espectrométrico de emisión atómica de titanio.
  • KS C IEC 61452-2017(2022) Instrumentación nuclear. Medición de las tasas de emisión de rayos gamma de radionucleidos. Calibración y utilización de espectrómetros de germanio.
  • KS I ISO 10703:2008 Calidad del agua-Determinación de la concentración de actividad de radionucleidos-Método por espectrometría de rayos gamma de alta resolución
  • KS D 1852-2005 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de aluminio y aleaciones de aluminio.
  • KS L 3316-2009 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ladrillos y morteros refractarios.
  • KS E 3075-2002 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra caliza y dolomita.
  • KS D 1852-2015 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de aluminio y aleaciones de aluminio.
  • KS D 1852-2020 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión óptica de aluminio y aleaciones de aluminio.
  • KS D 1655-2008(2019) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero.
  • KS D 1899-2003 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión de cobre de cátodo electrolítico.
  • KS D 1683-1993 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de plata.
  • KS D 1681-2018 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de aluminio.
  • KS M 0032-2009(2019) Reglas generales para el análisis espectroquímico de emisión ICP
  • KS I ISO 10703:2019 Calidad del agua. Determinación de la concentración de actividad de los radionucleidos. Método mediante espectrometría de rayos gamma de alta resolución.
  • KS C IEC 61290-5-3-2003(2018) Método de prueba básico para amplificadores de fibra óptica. Parte 5-3: Método de prueba para parámetros de reflexión. Método de prueba para tolerancia a la reflexión utilizando un analizador de espectro eléctrico.
  • KS D ISO 3815-1:2006 Zinc y aleaciones de zinc-Parte 1: Análisis de muestras sólidas mediante espectrometría de emisión óptica
  • KS M ISO 6955:2011 Métodos espectroscópicos analíticos-Emisión de llama, absorción atómica y fluorescencia atómica-Vocabulario
  • KS E 3075-2017 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra caliza y dolomita.
  • KS D 1686-2011(2016) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroaleaciones.
  • KS E 3075-2022 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra caliza y dolomita.

European Committee for Standardization (CEN), Espectro de reflectancia espectral

  • EN ISO 8599:1996 Óptica e Instrumentos Ópticos - Lentes de Contacto - Determinación de la Transmitancia Espectral y Luminosa ISO 8599 : 1994
  • EN 12019:1997 Zinc y aleaciones de zinc: análisis espectrométrico de emisión óptica
  • EN 14726:2005 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Directrices para el análisis espectrométrico de emisión óptica por chispa
  • PREN 14726-2003 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Directrices para el análisis espectrométrico de emisión óptica por chispa
  • DD ENV 12908-1997 Plomo y aleaciones de plomo - Análisis por Espectrometría de Emisión Óptica (OES) con excitación por chispa

International Organization for Standardization (ISO), Espectro de reflectancia espectral

  • ISO 8599:1994 Óptica e instrumentos ópticos - Lentes de contacto - Determinación de la transmitancia espectral y luminosa
  • ISO 18516:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
  • ISO 26723:2020 Plásticos. Determinación de la transmitancia y reflectancia luminosa total.
  • ISO/TS 18507:2015 Análisis químico de superficies: uso de espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total en análisis biológicos y ambientales
  • ISO 13142:2021 Óptica y fotónica. Láseres y equipos relacionados con el láser. Método de anillo de cavidad para mediciones de alta reflectancia y alta transmitancia.
  • ISO/CD 23698 Cosméticos Métodos de prueba de protección solar: medición de la eficacia de la protección solar mediante espectroscopía de reflectancia difusa
  • ISO 19012-3:2015 Microscopios - Designación de objetivos de microscopio - Parte 3: Transmitancia espectral
  • ISO 8478:2017 Óptica y fotónica - Lentes para cámaras - Medición de la transmitancia espectral ISO
  • ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
  • ISO 7669:1986 Aluminio anodizado y aleaciones de aluminio. Medición de la reflectividad total mediante un reflectómetro fotoeléctrico.
  • ISO 15368:2001 Óptica e instrumentos ópticos - Medición de reflectancia de superficies planas y transmitancia de elementos planos paralelos
  • ISO 19618:2017 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada): método de medición de la emisividad espectral normal utilizando referencia de cuerpo negro con un espectrómetro FTIR
  • ISO/TR 16043:2015 Minerales de hierro - Determinación del contenido de cloro - Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X
  • ISO 10703:2007 Calidad del agua - Determinación de la concentración de actividad de radionucleidos - Método por espectrometría de rayos gamma de alta resolución
  • ISO 10703:2021 Calidad del agua - Radionucleidos emisores de rayos gamma - Método de prueba mediante espectrometría de rayos gamma de alta resolución
  • ISO 16129:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X.
  • ISO 19962:2019 Óptica y fotónica. Métodos de medición espectroscópica para la dispersión integrada por elementos ópticos planos paralelos.
  • ISO 13142:2015 Sistemas electroópticos: técnica de cavidad anular para medición de alta reflectancia
  • ISO 15368:2021 Óptica e instrumentos ópticos. Medición de la reflectancia de superficies planas y la transmitancia de elementos planos paralelos.
  • ISO/TR 18231:2016 Minerales de hierro - Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda - Determinación de la precisión
  • ISO 23738:2021 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada) - Método de medición de la reflectancia espectral de películas delgadas de cerámica fina en condiciones de humedad

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Espectro de reflectancia espectral

  • JJG 768-2005 Espectrómetro de emisión
  • JJG 2083-1990 Esquema de verificación de instrumentos de medición de radiancia e irradiancia espectrales.
  • JJG 2083-2005 Radiancia espectral, tabla del sistema de verificación de instrumentos de medición de irradiancia espectral
  • JJG 768-1994 Reglamento de verificación del espectrómetro de emisión
  • JJG(地质) 1006-1990 Normas de verificación para el espectrómetro de fluorescencia de rayos X 3080E
  • JJG(电子) 30902-2006 Especificación para la verificación de la tasa de respuesta espectral absoluta de fotodetectores.
  • JJG 810-1993 Reglamento de verificación para espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda
  • JJG 383-2002 Reglamento de Verificación de Lámparas Estándar de Radiancia Espectral
  • JJG 384-2002 Reglamento de verificación de lámparas estándar de irradiancia espectral

British Standards Institution (BSI), Espectro de reflectancia espectral

  • BS ISO 8478:2017 Óptica y fotónica. Lentes de cámara. Medición de la transmitancia espectral ISO.
  • BS EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros de reflectancia - Método del analizador de espectro óptico
  • BS ISO 18516:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
  • BS EN 60904-8:1998 Dispositivos fotovoltaicos: medición de la respuesta espectral de un dispositivo fotovoltaico (PV)
  • BS EN 60904-8:2014 Dispositivos fotovoltaicos. Medición de la capacidad de respuesta espectral de un dispositivo fotovoltaico (PV)
  • BS ISO 19012-3:2015 Microscopios. Designación de objetivos de microscopio. transmitancia espectral
  • BS EN 61280-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Analizadores de espectro básicos - Medición de potencia óptica de salida de transmisor para cable de fibra óptica monomodo
  • BS EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico
  • PD ISO/TS 18507:2015 Análisis químico de superficies. Uso de la espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total en análisis biológicos y ambientales.
  • BS EN ISO 10545-18:2022 Baldosas cerámicas - Determinación del valor de reflexión de la luz (LRV)
  • BS EN 12019:1998 Zinc y aleaciones de zinc: análisis espectrométrico de emisión óptica
  • BS ISO 26723:2020 Plástica. Determinación de la transmitancia y reflectancia luminosa total.
  • BS PD ISO/TS 18507:2015 Análisis químico de superficies. Uso de la espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total en análisis biológicos y ambientales.
  • BS IEC 60747-5-15:2022 Dispositivos semiconductores - Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba del voltaje de banda plana basado en la espectroscopia de electrorreflectancia.
  • BS ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
  • 20/30352222 DC BS ISO 15368. Óptica y fotónica. Medición de reflectancia de superficies planas y transmitancia de elementos planos paralelos.
  • BS EN 62805-2:2017 Método para medir vidrio fotovoltaico (PV). Medición de transmitancia y reflectancia.
  • BS ISO 14706:2000 Análisis químico de superficies: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
  • BS ISO 14706:2014 Análisis químico de superficies. Determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
  • BS ISO 14706:2001 Análisis químico de superficies. Determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
  • 19/30368985 DC BS ISO 26723. Plásticos. Determinación de la transmitancia y reflectancia luminosa total.
  • BS ISO 19618:2017 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de medición de la emisividad espectral normal utilizando referencia de cuerpo negro con un espectrómetro FTIR
  • BS ISO 15368:2021 Cambios rastreados. Óptica y fotónica. Medición de reflectancia de superficies planas y transmitancia de elementos planos paralelos.
  • PD ISO/TR 16043:2015 Minerales de hierro. Determinación del contenido de cloro. Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • 20/30384001 DC BS ISO 13142. Óptica y fotónica. Láseres y equipos relacionados con el láser. Método de anillo de cavidad para mediciones de alta reflectancia y alta transmitancia
  • BS ISO 14707:2015 Análisis químico de superficies. Espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa (GD-OES). Introducción al uso
  • BS ISO 14707:2000 Análisis químico de superficies - Espectrometría de emisión óptica de descarga luminiscente (GD-OES) - Introducción al uso
  • BS ISO 19962:2019 Óptica y fotónica. Métodos de medición espectroscópica para la dispersión integrada por elementos ópticos planos paralelos.
  • BS EN 61290-5-2:2004 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Método analizador de espectro eléctrico
  • BS ISO 13142:2015 Sistemas electroópticos. Técnica de cavidad anular para medición de alta reflectancia
  • BS ISO 13142:2021 Óptica y fotónica. Láseres y equipos relacionados con el láser. Método de anillo de cavidad para mediciones de alta reflectancia y alta transmitancia
  • BS ISO 15368:2001 Óptica e instrumentos ópticos - Medición de reflectancia de superficies planas y transmitancia de elementos planos paralelos
  • BS EN 14726:2005 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Directrices para el análisis espectrométrico de emisión óptica por chispa

Professional Standard - Machinery, Espectro de reflectancia espectral

未注明发布机构, Espectro de reflectancia espectral

  • BS EN ISO 8599:1997 Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Determinación de la transmitancia espectral y luminosa.
  • BS ISO 18516:2006(2010) Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral.

TIA - Telecommunications Industry Association, Espectro de reflectancia espectral

  • EIA/TIA-455-46A-1990 Medición de atenuación espectral FOTP-46 para fibras ópticas de índice graduado de longitud larga
  • TIA/EIA-455-115-1996 Medición de atenuación espectral FOTP-115 de fibras ópticas multimodo de índice escalonado
  • 455-50A-1987 Condiciones de lanzamiento de luz FOTP-50 para mediciones de atenuación espectral de fibra óptica de índice gradual de longitud larga
  • TIA/EIA-455-50B-1998 Condiciones de lanzamiento de luz FOTP-50 para mediciones de atenuación espectral de fibra óptica de índice gradual de longitud larga
  • TIA-455-50-B-1998 Condiciones de lanzamiento de luz FOTP 50 para mediciones de atenuación espectral de fibra óptica de índice gradual de longitud larga (APROBACIÓN ANSI RETIRADA EN JUNIO DE 2003)
  • TIA-455-46A-1990 Medición de atenuación espectral FOTP-46 para fibras ópticas de índice graduado de longitud larga (revisión de EIA-455-46)
  • TIA-455-115-1996 FOTP 115 Medición de atenuación espectral de fibras ópticas multimodo de índice escalonado (APROBACIÓN ANSI CON DIBUJO DE JUNIO DE 2003)
  • TIA/EIA-455-168A-1992 FOTP-168 Medición de dispersión cromática de fibras ópticas monomodo y de índice graduado multimodo mediante medición de retardo de grupo espectral en el dominio del tiempo

Professional Standard - Agriculture, Espectro de reflectancia espectral

  • 58药典 四部-2020 0461 Espectrometría de fluorescencia de rayos X
  • 776兽药典 二部-2015 Contenido del Apéndice 0400 Espectroscopia 0412 Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
  • 780兽药典 一部-2015 Contenido del Apéndice 0400 Espectroscopia 0411 Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
  • JJG(教委) 016-1996 Reglas de verificación para el espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda
  • 784兽药典 一部-2015 Apéndice Contenido 0400 Espectroscopia 0451 Difracción de rayos X
  • NY/T 1423-2007 Método para la discriminación rápida de harina de carne y huesos en suplementos concentrados de harina de pescado y rumiantes: espectroscopía de rectancia del infrarrojo cercano

KR-KS, Espectro de reflectancia espectral

  • KS B 5426-2023 Método para medir la transmitancia espectral de lentes fotográficas.
  • KS M ISO 22891-2020 Papel — Determinación de la transmitancia por Papel — Determinación de la transmitancia por
  • KS C IEC 61452-2017 Instrumentación nuclear. Medición de las tasas de emisión de rayos gamma de radionucleidos. Calibración y utilización de espectrómetros de germanio.
  • KS I ISO 10703-2019 Calidad del agua. Determinación de la concentración de actividad de los radionucleidos. Método mediante espectrometría de rayos gamma de alta resolución.
  • KS D ISO 14707-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectroscopia de emisión de descarga luminosa (GD-OES) - Introducción

Group Standards of the People's Republic of China, Espectro de reflectancia espectral

  • T/ZZB 2793-2022 Medidor de radiancia espectral
  • T/CSTM 00197-2021 Puntos cuánticos de grafeno. Determinación de la eficiencia cuántica de fluorescencia relativa para la emisión azul. Espectroscopia de fluorescencia molecular.
  • T/CSTM 00313-2021 Método de prueba de constantes ópticas para películas delgadas ópticas basado en el método espectrofotométrico.
  • T/CAIA SH003-2015 Arroz -Determinación de cadmio-¿Método de espectrometría de fluorescencia de rayos X?
  • T/SHDSGY 031-2023 Especificación técnica para espectrómetro de alta resolución.
  • T/CSTM 00901-2023 Especificación de calibración para espectrómetro de fluorescencia de rayos X portátil
  • T/GZTPA 0005-2020 Determinación de los principales componentes químicos del té verde de Guizhou mediante espectroscopía de reflectancia difusa del infrarrojo cercano
  • T/CACE 064-2022 Determinación de composiciones de escoria de gasificación de carbón: método espectrométrico de fluorescencia de rayos X
  • T/GZTSS 1-2021 Método para la determinación de los componentes de teanina y teobromina en el té mediante espectroscopía de reflectancia difusa en el infrarrojo cercano
  • T/SZFAA 01-2018 Especificación de parámetros espectrales de fuentes de radiación artificiales para plantas

International Telecommunication Union (ITU), Espectro de reflectancia espectral

  • ITU-R SM.328-2006 Espectros y ancho de banda de emisiones.
  • ITU-R SM.328-11-2006 Espectros y ancho de banda de emisiones.
  • ITU-R SM.328-11 FRENCH-2006 Espectros y ancho de banda de emisiones.
  • ITU-R SM.328-11 SPANISH-2006 Espectros y ancho de banda de emisiones.
  • ITU-R SM.856-1 FRENCH-1997 NUEVAS TÉCNICAS Y SISTEMAS ESPECTRALMENTE EFICIENTES
  • ITU-R QUESTION 222/1-2000
  • ITU-T G.694.1-2002 Rejillas espectrales para aplicaciones WDM: Rejilla de frecuencias DWDM Serie G: Sistemas y Medios de Transmisión, Sistemas y Redes Digitales Características de los medios de transmisión - Características de los componentes y subsistemas ópticos Comisión de Estudio 15
  • ITU-T G.694.2-2003 Rejillas espectrales para aplicaciones WDM: Rejilla de longitud de onda CWDM Serie G: Sistemas y medios de transmisión Sistemas y redes digitales Características de los medios de transmisión - Características de los componentes y subsistemas ópticos Grupo de Estudio 15

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, Espectro de reflectancia espectral

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Espectro de reflectancia espectral

  • CNS 11993-1987 Método de prueba para dispositivos de fibra óptica (condiciones de lanzamiento de luz FOTP-50 para medición de atenuación espectral de fibra óptica de índice gradual de longitud larga)
  • CNS 11789-1986 Método de prueba para dispositivos de fibra óptica (medición de atenuación espectral FOTP-46 para fibras ópticas de índice gradual y longitud larga)
  • CNS 12381-1988 Método de prueba de transmitancia y reflectancia de luz diurna y radiación solar y coeficiente de ganancia de calor solar del vidrio plano
  • CNS 12788-1990 Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ladrillos y morteros refractarios

ES-UNE, Espectro de reflectancia espectral

  • UNE-EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-3: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico. (Ratificada por AENOR en octubre de 2002.)
  • UNE-EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006). (Ratificada por AENOR en octubre de 2006.)
  • UNE-EN ISO 10545-18:2022 Baldosas cerámicas - Parte 18: Determinación del valor de reflectancia de la luz (LRV) (ISO 10545-18:2022)
  • UNE-EN 15079:2015 Cobre y aleaciones de cobre - Análisis por espectrometría de emisión óptica por chispa (S-OES)
  • UNE-EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 5-2: Parámetros de reflectancia - Método analizador de espectro eléctrico (Ratificado por AENOR en septiembre de 2004.)
  • UNE-EN 62805-2:2017 Método de medición de vidrio fotovoltaico (PV) - Parte 2: Medición de transmitancia y reflectancia (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2018.)
  • UNE-EN ISO 10703:2021 Calidad del agua - Radionucleidos emisores de rayos gamma - Método de prueba mediante espectrometría de rayos gamma de alta resolución (ISO 10703:2021)

Danish Standards Foundation, Espectro de reflectancia espectral

RO-ASRO, Espectro de reflectancia espectral

  • STAS 5177-1981 Terminología del ANÁLISIS ESPECTROGRÁFICO DE EMISIÓN
  • STAS 12814-1990 ALUMINIO Y ALEACIONES DE ALUMINIO Análisis por espectrometría de emisión óptica

Illuminating Engineering Society of North America, Espectro de reflectancia espectral

  • IESNA LM-58-1994 Guía de mediciones espectrorradiométricas
  • IESNA LM-58-2013 Método aprobado para métodos de medición espectroradiométrica de fuentes de luz

International Electrotechnical Commission (IEC), Espectro de reflectancia espectral

  • IEC 61976:2000 Instrumentación nuclear - Espectrometría - Caracterización del fondo espectral en espectrometría de rayos gamma nuclear HPGe
  • IEC 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
  • IEC 60904-8:1995 Dispositivos fotovoltaicos - Parte 8: Guía para la medición de la respuesta espectral de un dispositivo fotovoltaico (PV)
  • IEC 61290-5-1:2000 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
  • IEC 61290-5-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 5-2: Parámetros de reflectancia; Método del analizador de espectro eléctrico.
  • IEC 62805-2:2017 Método para medir vidrio fotovoltaico (PV) - Parte 2: Medición de transmitancia y reflectancia
  • IEC 60747-5-15:2022 Dispositivos semiconductores - Parte 5-15: Dispositivos optoelectrónicos - Diodos emisores de luz - Método de prueba del voltaje de banda plana basado en la espectroscopia de electrorreflectancia

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Espectro de reflectancia espectral

  • YS/T 631-2007 Métodos de análisis del zinc. La espectrometría de emisión óptica.
  • YS/T 558-2009 Métodos para el análisis del espectro de emisión de molibdeno.
  • YS/T 559-2009 Métodos para el análisis del espectro de emisión de tungsteno.
  • YS/T 558-2006 Método de análisis de espectroscopía de emisión de molibdeno
  • YS/T 559-2006 Método de análisis de espectroscopía de emisión de tungsteno
  • YS/T 482-2005 Métodos de análisis de cobre y aleaciones de cobre. La espectrometría de emisión atómica.
  • YS/T 1036-2015
  • YS/T 568.9-2006 Determinación de la cantidad de circonio en óxido de hafnio (espectrometría de fluorescencia de rayos X)
  • YS/T 361-2006 Determinación de trazas de impurezas en platino puro mediante espectrometría de emisión atómica.
  • YS/T 362-2006 Determinación de trazas de impurezas en paladio de pureza mediante espectrometría de emisión atómica.
  • YS/T 363-2006 Determinación de trazas de impurezas en rodio puro mediante espectrometría de emisión atómica.

ZA-SANS, Espectro de reflectancia espectral

  • SANS 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Espectro de reflectancia espectral

  • GB/T 40110-2021 Análisis químico de superficie: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
  • GB/T 37412-2019 Láseres y equipos relacionados con el láser: método de anillo de cavidad para medición de alta reflectancia
  • GB/T 16597-2019 Métodos analíticos de productos metalúrgicos. Regla general para los métodos espectrométricos de fluorescencia de rayos X.

Tianjin Provincial Standard of the People's Republic of China, Espectro de reflectancia espectral

  • DB12/T 955-2020 Determinación de nitrógeno y fósforo en agua de estiércol de granjas lecheras mediante espectrometría de reflectancia difusa del infrarrojo cercano
  • DB12/T 1015-2020 Determinación de nitrógeno y fósforo en agua de estiércol de granjas lecheras Espectrometría de reflectancia total atenuada en infrarrojo medio

(U.S.) Ford Automotive Standards, Espectro de reflectancia espectral

Professional Standard - Nuclear Industry, Espectro de reflectancia espectral

  • EJ/T 863-1994 Determinación de la reflectancia del mineral de uranio mediante método fotoeléctrico
  • EJ/T 903.6-1994 Método de medición del rendimiento del centelleador Espectroscopia de emisión

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Espectro de reflectancia espectral

  • YB/T 4177-2008 Determinación de la composición química en ciervos mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X.

国家能源局, Espectro de reflectancia espectral

  • SY/T 7420-2018 Especificaciones de registro de elementos de espectroscopia de fluorescencia de rayos X

Qinghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Espectro de reflectancia espectral

  • DB63/T 1678-2018 Determinación de pigmentos minerales en espectrometría de fluorescencia de rayos X thangka (espectroscopia de energía)

American National Standards Institute (ANSI), Espectro de reflectancia espectral

  • ANSI/ISO 8478:1996, ANSI/PIMA IT3.614:1997 Fotografía – Lentes de cámara – Método para medir la transmitancia espectral ISO
  • ANSI/TIA/EIA 455-221-2001 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5 -1: Método de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
  • ANSI/TIA/EIA 455-50B-1998 Condiciones de lanzamiento de luz para mediciones de atenuación espectral de fibra óptica de índice gradual de longitud larga

Professional Standard - Commodity Inspection, Espectro de reflectancia espectral

  • SN/T 2785-2011 Análisis espectroscópico de emisión fotoeléctrica de zinc y aleaciones de zinc.
  • SN/T 2786-2011 Análisis espectroscópico de emisión fotoeléctrica de magnesio y aleaciones de magnesio.
  • SN/T 4020-2013 Determinación del contenido de elementos de impureza en hierro puro. Espectrometría de fluorescencia de rayos X
  • SN/T 2260-2010 Determinación de compuestos químicos del cátodo de cobre-Método espectroscópico de emisión fotoeléctrica.
  • SN/T 2489-2010 Determinación del contenido de Cr, Mn, P, Si en hierro fundido: método espectroscópico de emisión fotoeléctrica
  • SN/T 2764-2011 Determinación de múltiples componentes en fluorita mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X
  • SN/T 3231-2012 Determinación de amianto en talco. Microscopio de luz polarizada y método de difracción de rayos X.
  • SN/T 2079-2008 Método para el análisis de aceros inoxidables y aleados.Espectrometría de fluorescencia de rayos X
  • SN/T 3712-2013
  • SN/T 3808-2014 Determinación del contenido de fósforo total en fosfato diamónico. Espectrometría de fluorescencia de rayos X

工业和信息化部, Espectro de reflectancia espectral

  • SJ/T 11760-2020 Medición de la reflectancia de la textura de las células fotovoltaicas mediante el método de integración fotoeléctrica.

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Espectro de reflectancia espectral

  • EN 61290-5-1:2000 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico

Professional Standard - Education, Espectro de reflectancia espectral

  • JY/T 0569-2020 Reglas generales para la espectrometría de fluorescencia de rayos X dispersiva de longitud de onda

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Espectro de reflectancia espectral

  • IEEE N42.14-1991 Calibración y uso de espectrómetros de germanio para la medición de tasas de emisión de rayos gamma de radionucleidos

Lithuanian Standards Office , Espectro de reflectancia espectral

  • LST EN 61290-5-2-2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: Parámetros de reflectancia. Método analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-2:2003)
  • LST EN ISO 13697:2006 Óptica y fotónica. Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para la reflectancia especular y la transmitancia regular de componentes de láser óptico (ISO 13697:2006).
  • LST EN 61290-5-1-2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006).
  • LST EN 61290-5-3-2003 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Parte 5-3: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia. Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-3:2002)
  • LST EN 15079-2007 Cobre y aleaciones de cobre - Análisis mediante espectrometría de emisión óptica con fuente de chispa (S-OES)
  • LST L ENV 12908-2000 Plomo y aleaciones de plomo - Análisis por Espectrometría de Emisión Óptica (OES) con excitación por chispa

IT-UNI, Espectro de reflectancia espectral

AENOR, Espectro de reflectancia espectral

  • UNE-EN ISO 13697:2007 Óptica y fotónica. Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para la reflectancia especular y la transmitancia regular de componentes de láser óptico (ISO 13697:2006).

BE-NBN, Espectro de reflectancia espectral

IN-BIS, Espectro de reflectancia espectral

  • IS 7072-1973 GLOSARIO DE TÉRMINOS RELACIONADOS CON LA ESPECTROSCOPÍA DE EMISIÓN
  • IS 12803-1989 MÉTODO DE ANÁLISIS DEL CEMENTO HIDRÁULICO MEDIANTE ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X

Standard Association of Australia (SAA), Espectro de reflectancia espectral

  • AS 2563:1996 Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda: determinación de la precisión

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Espectro de reflectancia espectral

  • DB44/T 1602-2015 Método de análisis de la composición de la piedra: espectrometría de fluorescencia de rayos X

VN-TCVN, Espectro de reflectancia espectral

  • TCVN 7737-2007 Vidrio en edificación. Método para la determinación de transmitancia de luz, reflectancia de luz, transmitancia de energía solar total y transmitancia ultravioleta.
  • TCVN 1048-2007 Vidrio.Resistencia al ataque del ácido clorhídrico a 100 grados C.Método de espectrometría de emisión de llama o absorción atómica de llama
  • TCVN 7175-2011 Calidad del agua. Determinación de la concentración de actividad de radionúclidos. Método por espectrometría de rayos gamma de alta resolución.
  • TCVN 6704-2008 Gasolina.Determinación de plomo mediante espectroscopía de rayos X.

CEN - European Committee for Standardization, Espectro de reflectancia espectral

  • EN 14726:2019 Aluminio y aleaciones de aluminio. Determinación de la composición química del aluminio y aleaciones de aluminio mediante espectrometría de emisión óptica por chispa.

SE-SIS, Espectro de reflectancia espectral

  • SIS SS-ISO 7669:1988 Aluminio anodizado y sus aleaciones. Medición de la reflectividad total mediante un reflectómetro fotoeléctrico.

Professional Standard - Electron, Espectro de reflectancia espectral

  • SJ/Z 3206.10-1989 Reglas generales para el análisis de las propiedades del espectro de emisión.
  • SJ/Z 3206.11-1989 Reglas generales para el análisis de cantidades del espectro de emisión.

National Aeronautics and Space Administration (NASA), Espectro de reflectancia espectral

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), Espectro de reflectancia espectral

  • EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
  • EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 5-3: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico
  • EN 62805-2:2017 Método para medir vidrio fotovoltaico (PV) - Parte 2: Medición de transmitancia y reflectancia

Jilin Provincial Standard of the People's Republic of China, Espectro de reflectancia espectral

  • DB22/T 1994-2013 Determinación de cobre, hierro, manganeso y zinc en espectrometría de fluorescencia de rayos X de alimentación.

Professional Standard - Chemical Industry, Espectro de reflectancia espectral

  • HG/T 5077-2016 Películas funcionales ópticas. Método de medición de la transmitancia espectral del infrarrojo cercano.

PL-PKN, Espectro de reflectancia espectral

  • PN E04042-03-1991 Mediciones de radiación óptica Colorimetría Métodos para la determinación de características espectrales y colorimétricas de fuentes de luz.
  • PN-EN ISO 22969-2021-06 E Pinturas y barnices. Determinación de la reflectancia solar (ISO 22969:2019)

国家质量监督检验检疫总局, Espectro de reflectancia espectral

  • SN/T 4668-2016 Análisis cualitativo de fibras textiles importadas y exportadas mediante espectrometría de reflectancia difusa UV de algodón de color natural

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Espectro de reflectancia espectral

  • IEEE/ANSI N42.14-1999 Calibración y uso de espectrómetros de germanio para la medición de tasas de emisión de rayos gamma de radionucleidos.

Indonesia Standards, Espectro de reflectancia espectral

  • SNI ISO 10703:2009 Calidad del agua-Determinación de la concentración de actividad de radionucleidos-Método por espectrometría de rayos gamma de alta resolución

AT-ON, Espectro de reflectancia espectral

  • ONORM S 5250-2-2000 Estadística de conteo en mediciones de radiactividad - Mediciones espectrométricas




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