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Instrumentos de análisis de espectro.

Instrumentos de análisis de espectro., Total: 14 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Instrumentos de análisis de espectro. son: Química analítica, Óptica y medidas ópticas..


American Society for Testing and Materials (ASTM), Instrumentos de análisis de espectro.

  • ASTM D8470-22 Práctica estándar para el desarrollo y la implementación de pruebas de rendimiento de instrumentos para su uso en sistemas analizadores multivariados en línea, en línea y basados en espectroscopía de laboratorio

U.S. Air Force, Instrumentos de análisis de espectro.

International Organization for Standardization (ISO), Instrumentos de análisis de espectro.

  • ISO 15471:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • ISO 15471:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • ISO 15470:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

British Standards Institution (BSI), Instrumentos de análisis de espectro.

  • BS ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • BS ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • BS ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Instrumentos de análisis de espectro.

  • KS D ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies-Espectroscopia de electrones Auger-Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • KS D ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies-Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X-Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Instrumentos de análisis de espectro.

  • JIS K 0161:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • JIS K 0162:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Instrumentos de análisis de espectro.





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