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calibración de pico xps

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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en calibración de pico xps son: Química analítica.


National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, calibración de pico xps

American Society for Testing and Materials (ASTM), calibración de pico xps

  • ASTM E2735-13 Guía estándar para la selección de calibraciones necesarias para experimentos de espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)

International Organization for Standardization (ISO), calibración de pico xps

  • ISO/CD 5861 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Método de calibración de intensidad para instrumentos Al Kα XPS monocromáticos de cristal de cuarzo.
  • ISO/DIS 5861:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Método de calibración de intensidad para instrumentos Al Kα XPS monocromáticos de cristal de cuarzo.

British Standards Institution (BSI), calibración de pico xps

  • BS ISO 16531:2013 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Métodos para la alineación del haz de iones y la medición asociada de la corriente o la densidad de corriente para perfiles de profundidad en AES y XPS




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