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Métodos de prueba de dispositivos semiconductores discretos

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Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Métodos de prueba de dispositivos semiconductores discretos

• GJB 128-1986 Especificación de fotografía aérea para cartografía topográfica militar.
• GJB 128B-2021 Métodos de prueba de dispositivos semiconductores discretos

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