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吸収スペクトルシリコン

吸収スペクトルシリコンは全部で 16 項標準に関連している。

吸収スペクトルシリコン 国際標準分類において、これらの分類：半導体材料、 非鉄金属、 分析化学。

Professional Standard - Electron, 吸収スペクトルシリコン

• SJ/T 11491-2015 短ベースライン赤外吸収分光法を使用したシリコン内の格子間酸素含有量の測定
• SJ/T 11552-2015 ブリュースター角入射 P 偏光赤外吸収分光法を使用したシリコン内の格子間酸素含有量の測定

Professional Standard - Aviation, 吸収スペクトルシリコン

• HB 7716.12-2002 チタン合金の化学組成のスペクトル分析法 第12回 フレーム原子吸光分析法 シリコン含有量の測定

International Organization for Standardization (ISO), 吸収スペクトルシリコン

• ISO 7530-8:1992 ニッケル合金フレーム原子吸光分析その8：シリコン含有量の測定
• ISO 10136-1:1993 ガラスおよびガラス製品からの抽出溶液の分析 パート 1: 分子吸光分析によるシリカの測定

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 吸収スペクトルシリコン

• GB/T 24579-2009 酸浸出 原子吸光分析による多結晶シリコン表面の金属汚染物質の測定。

RU-GOST R, 吸収スペクトルシリコン

• GOST R ISO 7530-8-2017 ニッケル合金フレーム原子吸光分析その8 シリコン含有量の測定

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 吸収スペクトルシリコン

• KS D ISO 7530-8:2012 ニッケル合金、フレーム原子吸光分析、パート 8: シリコン含有量の測定
• KS D ISO 7530-8-2012(2017) ニッケル合金のフレーム原子吸光分析その 8: シリコン含有量の測定
• KS D ISO 7530-8-2012(2022) ニッケル合金のフレーム原子吸光分析その 8: シリコン含有量の測定

Association Francaise de Normalisation, 吸収スペクトルシリコン

• NF ISO 7530-8:2007 ニッケル合金 フレーム原子吸光分析による分析 パート 8: シリコンの測定
• NF A08-908*NF ISO 7530-8:2007 ニッケル合金 フレーム原子吸光分析法 パート 8: シリコン含有量の測定

American Society for Testing and Materials (ASTM), 吸収スペクトルシリコン

• ASTM F1724-96 酸抽出原子吸光分析法による多結晶シリコン表面の金属不純物を測定するための標準的な試験方法
• ASTM F1619-95(2000) ブリュースター角で入射する p 偏光を使用した赤外吸収分光法によるシリコン ウェーハの格子間酸素含有量の測定のための標準的な試験方法

VN-TCVN, 吸収スペクトルシリコン

• TCVN 7207-1-2002 ガラスとガラス器具 抽出溶液の分析 パート 1: 分子吸光分析によるシリカの測定

British Standards Institution (BSI), 吸収スペクトルシリコン

• DD ENV 14226:2002 先端技術セラミックスセラミックス粉末の試験方法 フレーム原子吸光分析法による窒化ケイ素中のカルシウム、マグネシウム、鉄、アルミニウムの定量

その他：   原子吸光分析 ケイ素含有量, シリコーン シリコーン赤外線, シリコーン シリコーン赤外線, 溶存ケイ素 総ケイ素, 吸収スペクトルシリコン, シリコンの吸収スペクトル, シラノールとシリコン、, シリコーン+赤外線, シリコンの吸収スペクトル, シリコンの吸収スペクトル, シリカピーク, シリコーン, シリコン可溶性シリコン, 赤外線シリコン, シリコン原子吸光分光フレーム法, 赤外線シリコン, シリコーンの赤外吸収スペクトル, ガラスシリコン, ケイ素炭素ケイ素酸素, フェロシリコンシリコンの測定.