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高周波ハードウェア検出

高周波ハードウェア検出は全部で 258 項標準に関連している。

高周波ハードウェア検出 国際標準分類において、これらの分類：金属材料試験、 犯罪予防、 送配電網、 交通機関、 情報技術の応用、 半導体ディスクリートデバイス、 建物付属品、 粉末冶金、 航空宇宙システムおよび操作装置、 航空宇宙製造用の材料、 タバコ、タバコ製品およびタバコ産業用機器、 ソフトウェア開発とシステム文書化、 非破壊検査、 トランス、リアクトル、インダクタ、 鉄鋼製品、 計測学と測定の総合、 電気、磁気、電気および磁気測定、 電気通信特殊測定器、 無線通信、 潤滑剤、工業用油および関連製品、 道路工事、 原子力工学、 開閉装置とコントローラー、 パイプ部品とパイプ、 文字セットとメッセージエンコーディング、 太陽工学、 電気機器部品、 集積回路、マイクロエレクトロニクス、 電気および電子試験、 ベアリング、 絶縁流体、 光ファイバー通信、 包括的なテスト条件と手順、 磁性材料、 発電所総合、 オーディオ、ビデオ、およびオーディオビジュアル エンジニアリング、 バルブ、 電気工学総合、 通信機器の部品および付属品、 電磁両立性 (EMC)、 語彙、 周波数制御と選択のための圧電および誘電デバイス、 金属腐食。

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 高周波ハードウェア検出

• KS D 0027-2002 鋼の火炎硬化層および高周波硬化層の深さの測定方法
• KS D 0027-1991 鋼の火炎硬化層および高周波硬化層の深さの測定方法
• KS D 0027-1982 鋼の火炎硬化層および高周波硬化層の深さの測定方法
• KS C IEC 62025-2:2018 高周波誘導部品 ～非電気特性と測定方法～ 第２部：非電気特性の試験方法
• KS M ISO 11093-8:2008 紙と板紙 ボール紙円錐円筒の検査 第 8 部: 試験モデル解析による固有振動数と曲げ弾性率の決定
• KS C IEC 62024-1:2006 高周波センシングコンポーネント 電気的特性と測定方法 パート 1: Nano Henry チップインダクタ
• KS C IEC 62024-1-2017(2022) 高周波誘導部品の電気的特性と測定方法 第1部：ナノヘンリーレンジチップインダクタ
• KS C IEC 62024-1:2017 高周波センシング部品の電気的特性と測定方法 第1部：ナノヘンリーチップインダクタ
• KS C IEC 62024-2:2018 高周波誘導部品 - 電気的特性と測定方法 - パート 2: DC/DC コンバータのインダクタ電流定格

Association Francaise de Normalisation, 高周波ハードウェア検出

• NF C48-229:1987 侵入検知、超高周波操作検知、特殊規格
• NF EN 1592-1:1997 アルミニウム及びアルミニウム合金高周波電気溶接管 第１部：検査及び納入に関する技術的条件
• NF EN 2591-225:2008 航空宇宙シリーズ電気および光接続コンポーネントの試験方法パート 225: 高周波および高電圧耐性
• NF EN 13100-4:2012 熱可塑性半完成溶接アセンブリの非破壊検査 - パート 4: 高電圧検査
• NF C41-083-3:2021 高電圧および大電流テスト測定用の機器およびソフトウェア パート 3: AC および DC 電圧および電流テストのハードウェア要件
• NF EN IEC 62024-1:2018 高周波インダクティブ部品の電気的特性と測定方法 第1回 ナノヘンチップインダクタ
• NF EN 2591-224:2008 航空宇宙シリーズ電気および光接続コンポーネントのテスト方法パート 224: 高周波漏れ
• NF EN IEC 61083-3:2021 高電圧および高電流テスト中の測定用の機器およびソフトウェア パート 3: AC および DC 電流および電圧テスト中のハードウェア要件
• NF C93-370-1*NF EN IEC 62024-1:2018 高周波誘導部品の電気的特性と測定方法 第1回 ナーヘンシリーズ チップインダクタ
• NF C93-370-1:2013 高周波センシングコンポーネント - 電気的特性と測定方法 - パート 1: ナノヘンリー障害センサー
• NF EN IEC 62025-2:2019 高周波誘導部品の非電気的特性と測定方法 第2部：非電気的特性の試験方法
• NF C93-371-2:2005 高周波誘導部品 非電気的特性と測定方法 第2部 非電気的特性の試験方法
• NF C90-133-4-16*NF EN IEC 62153-4-16:2021 金属ケーブルおよびその他の受動部品の試験方法 パート 4-16: 電磁両立性 (EMC) 周波数範囲を伝送インピーダンスの高周波およびシールド減衰測定の低周波に拡張
• NF C93-370-2*NF EN IEC 62024-2:2020 高周波誘導部品の電気的特性と測定方法 第2部 DC-DCコンバータ用インダクタの定格電流
• NF C93-370-2*NF EN 62024-2:2015 高周波誘導部品の電気的特性と測定方法 第2部 DC-DCコンバータ用インダクタの定格電流
• NF EN 61300-3-29:2014 光ファイバー相互接続デバイスおよび受動部品の基本的なテストおよび測定手順パート 3-29: DWDM デバイスのスペクトル透過特性の検査および測定
• NF EN IEC 62024-2:2020 高周波誘導部品の電気的特性と測定方法 第2部 DC-DCコンバータ用誘導コイルの定格電流

HU-MSZT, 高周波ハードウェア検出

• MSZ 4822/2-1972 高電圧機器の安定性試験。 工業用周波数電圧検出
• MSZ 10778/24.lap-1966 高品質のリボンとシルク検出モード。 硬度量の内容定義

Professional Standard - Electricity, 高周波ハードウェア検出

• DL/T 846.11-2016 高電圧試験装置の一般技術条件 第 11 部：UHF 部分放電検出器
• DL/T 2278-2021 高周波方式部分放電電荷検出器の技術仕様
• DL/T 1534-2016 油入変圧器の部分放電のUHF検出方法
• DL/T 1630-2016 ガス絶縁金属密閉開閉装置における部分放電の超高周波検出に関する技術仕様書
• DL/T 1779-2017 高圧電気機器のコロナ放電検出用紫外線イメージャの技術的条件
• DL/T 849.4-2004 電力設備用特殊試験装置の一般技術条件 第4部 超低周波高電圧発生装置
• DL/T 846.10-2016 高電圧試験装置の一般技術条件 第 10 部：過渡対地電圧部分放電検出器
• DL/T 846.10-2016(英文版) 高電圧試験装置の一般技術条件 第 10 部：過渡対地電圧部分放電検出器
• DL/T 846.6-2004 高電圧試験装置の一般技術条件 第 6 部：六フッ化硫黄ガス漏れ検知器
• DL/T 846.6-2018 高電圧試験装置の一般技術条件 第6部：六フッ化硫黄ガス漏洩検知器
• DL/T 1432.4-2017 変電設備オンライン監視装置検査仕様書 第4部 ガス絶縁金属密閉開閉装置の部分放電用UHFオンライン監視装置

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 高周波ハードウェア検出

• GB/T 28789-2012 ビデオ交通イベント検出器
• GB/T 42275-2022 超硬合金の全炭素量の測定 高周波燃焼赤外線吸収法・熱伝導率法
• GB/T 26830-2011 非破壊検査装置 高周波定電位 工業用X線探傷器
• GB/T 7233.2-2023 鋳鋼の超音波試験 その 2: 高圧鋼鋳物
• GB/T 7233.2-2010 鋳鋼の超音波試験 その 2: 高圧鋼鋳物
• GB/T 40853.2-2023 高周波誘導部品の電気的特性とその測定方法 第2部 DC-DCコンバータ用インダクタの定格電流

YU-JUS, 高周波ハードウェア検出

• JUS D.E8.003/1-1993 ドアの葉。 ハードウェア衝撃検出。 訂正
• JUS D.E8.008-1987 木製の窓とドア 高い窓。 低い窓やドア、高い窓に使用する木製ジョイント。 検出方法
• JUS C.N3.001-1986 粉末冶金。 炭化物。 焼結試験片を使用した粉末のサンプリングと試験
• JUS C.N2.003-1986 金属の機械試験。 焼結金属材料（超硬合金を除く）。 ノッチのない衝撃試験片
• JUS B.C4.081/1-1989 アスベストセメント製品。 高圧パイプおよび継手。 特性評価、テスト、および受け入れ。 訂正

Professional Standard - Energy, 高周波ハードウェア検出

• DL/T 2324-2021 高圧ケーブルの高周波部分放電電荷検出に関する技術ガイドライン
• DL/T 846.15-2021 高電圧試験装置の一般技術条件 第15部：高電圧パルス電源ケーブル異常検出装置
• DL/T 846.16-2021 高電圧試験装置の一般技術条件 第16部 動力用オイルレス機器の圧力検出装置

Society of Automotive Engineers (SAE), 高周波ハードウェア検出

• SAE AMS2649D-2019 高強度鋼部品の腐食検出
• SAE AMS2658B-2003 アルミニウム合金の変形部品の硬さと導電率の試験
• SAE AMS2658D-2016 アルミニウム合金の変形部品の硬さと導電率の試験
• SAE AMS2658-1980 熱処理されたアルミニウム合金部品の硬度と導電率の試験
• SAE AS4787-2013 非鉄金属航空機エンジンハードウェアの丸穴の渦電流試験
• SAE AS4787A-2019 非鉄金属航空機エンジンハードウェアの丸穴の渦電流試験
• SAE ARP4462A-2018 高強度鋼部品の研削焼けを検出するためのバルクハウゼン騒音検査
• SAE ARP4462-2010 高強度鋼部品の研削焼けを検出するためのバルクハウゼン騒音検査
• SAE ARP4462B-2019 高強度鋼部品の研削焼けを検出するためのバルクハウゼン騒音検査
• SAE ARP4462-1991 高強度鋼部品の研削焼け検出のためのバルクハウゼン騒音検査

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 高周波ハードウェア検出

• JJG 421-1986 高周波誘電損失測定器 CJ-2 校正規定
• JJG(电子) 04043-1991 高周波CV特性試験器 CTG-1の校正規定
• JJG(民航) 051-1999 NAV-750B VHFナビゲーションテスター（試用版）校正規定
• JJG 197-1979 LCCG-1高周波インダクタンス・容量測定器の試用校正手順
• JJG(电子) 04048-1995 QG-29高周波トランジスタGf(Kf)、F(Nf)、AGCテスタ校正手順
• JJG(电子) 04015-1988 QZ3、QZ4高周波低電力トランジスタNFテスタパイロット検証手順
• JJG(电子) 04047-1995 QG-6 および QG-16 高周波低電力トランジスタ ft パラメータ テスタの校正規定
• JJG(电子) 04011-1987 QG21～QG25高周波低電力トランジスタFテスタパイロット検証手順
• JJG(电子) 04002-1987 BJ3030 高周波低電力トランジスタ C r 製品テスターのパイロット検証手順

International Telecommunication Union (ITU), 高周波ハードウェア検出

• ITU-R BS.467 SPANISH-1970 FM ステレオ放送の検出に適用される技術的特性 パート 10B: 周波数帯域 8 (VHF) および 9 (UHF) の FM サウンド放送

Group Standards of the People's Republic of China, 高周波ハードウェア検出

• T/CIE 120-2021 半導体集積回路ハードウェアのトロイの木馬検出方法
• T/WHHLW 63-2023 UHF部分放電検出GTEMセルデバイスの技術仕様
• T/QGCML 1185-2023 AIビデオ交通事故検知システムの技術仕様
• T/CEC 515-2021 UHF 部分放電検出用の電磁シールド布地の現場適用に関するガイドライン
• T/AVS 002-2020 大型高真空装置の真空部品の漏れ検査試験方法
• T/CSEE 0222-2021 油入変圧器（リアクトル）におけるUHFの検出と複数の部分放電源の分離に関する技術ガイドライン
• T/CSEE 0003-2016 変圧器のインテリジェントコンポーネントの接地電位上昇検出保護性能に関する技術仕様
• T/CEC 482-2021 宇宙高周波方式による開放型高電圧機器の部分放電検出・測位技術の募集要項
• T/CSEE 0307-2022 高電圧スイッチエポキシ絶縁部品の X 線デジタル画像検査に関する技術ガイドライン
• T/UWA 005.3-4-2022 ハイ ダイナミック レンジ (HDR) ビデオ テクノロジ パート 3-4: 技術要件とテスト方法 再生ソフトウェア

Professional Standard - Electron, 高周波ハードウェア検出

• SJ 1230-1977 ゲルマニウム検波ダイオードの高周波整流電流の試験方法

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 高周波ハードウェア検出

• JJF(电子) 15-1982 C型高周波誘電損失測定器 TF-704Bの校正方法

(U.S.) Telecommunications Industries Association , 高周波ハードウェア検出

• TIA-1150-2009 cdma2000 高速パケット データ エア インターフェイスの検出可能なパイロット仕様

European Committee for Standardization (CEN), 高周波ハードウェア検出

• EN 13126-1:2011 建築ハードウェア、ハードウェア要件、窓とドアの高さのテスト方法 パート 1: すべてのタイプに共通のハードウェア要件
• EN 16603-32-02:2014 航空宇宙工学、加圧ハードウェアの構造設計とテスト
• EN 13126-9:2013 建築ハードウェア: 窓とドアの高さ要件とテスト方法 - パート 9: ハードウェアの水平および垂直ピボット窓
• EN 12680-2:2003 鋳造. 超音波試験. パート 2: 高電圧コンポーネント用の鋳鋼
• EN ISO 10893-10:2011/A1:2020 超音波検査の頻度を変更し、修正 A1、2020 を含む合格基準を変更します。
• EN ISO 3452-5:2008 非破壊検査と侵入検査パート 5: 50°C を超える温度での侵入検査
• EN 13126-3:2023 建築ハードウェア 窓とドアのハードウェア要件とテスト方法 高さのある窓 パート 3: 主にチルトとスイベル、チルト優先およびスイベルのみのハードウェア用のハンドル

CEN - European Committee for Standardization, 高周波ハードウェア検出

• EN 13126-1:2006 建築ハードウェア、ハードウェア要件、窓とドアの高さのテスト方法 パート 1: すべてのタイプに共通のハードウェア要件
• PREN 13126-17-2018 建築ハードウェアの窓とドア 高窓のハードウェア要件とテスト方法 パート 17: 傾斜窓およびスライド窓のハードウェア
• PD CEN/TS 13126-7:2004 窓およびドアの高さの窓の建築金物付属品の要件と試験方法 パート 7: フィンガー ファスナー
• PD CEN/TS 13126-4:2004 窓とドアの高さの窓の建築ハードウェアの取り付け要件と試験方法 パート 4: エスパニョレット ボルト
• PD CEN/TS 13126-13:2004 窓とドアの高さの窓の建築ハードウェアの取り付け要件と試験方法 パート 13: サッシのバランス
• PD CEN/TS 13126-2:2004 窓およびドアの高さの窓の建築金物の取り付け要件と試験方法 第 2 部: サッシの留め具のハンドル
• PD CEN/TS 13126-10:2004 窓およびドアの高さの窓の建築ハードウェア付属品の要件と試験方法 パート 10: アーム バランス システム
• PD CEN/TS 13126-17:2004 窓およびドアの高さの窓の建築ハードウェアの取り付け要件とテスト方法 パート 17: チルトおよびスライド システムの取り付け
• PD CEN/TS 13126-1:2004 窓およびドアの高さの窓の建築ハードウェア継手の要件とテスト方法 パート 1: あらゆる種類の継手の一般要件
• PD CEN/TS 13126-5:2004 窓およびドアの高さの窓の建築ハードウェア付属品の要件と試験方法 パート 5: 窓の開きを制限するための装置

SAE - SAE International, 高周波ハードウェア検出

• SAE AMS2658A-1991 アルミニウム合金の変形部品の硬さと導電率の試験
• SAE AS4787-1992 非鉄金属航空機エンジンハードウェアの丸穴の渦電流試験

RU-GOST R, 高周波ハードウェア検出

• GOST 19656.1-1974 超高周波混合検波半導体ダイオード 電圧定在波係数測定法
• GOST 19656.13-1976 超高周波検出用半導体ダイオード。 接線感度の決定方法
• GOST 19656.7-1974 超高周波検出用半導体ダイオード 電流感度測定法
• GOST 8.109-1997 ГСИ.高周波発振振幅変調係数測定器の国家校正システム
• GOST 8.109-1983 ГСИ 高周波発振振幅変調係数測定器の国家校正システム
• GOST R 55690-2013 自動適応型高周波二重無線システム用の複雑なハードウェア 構成と構造 仕様とインターフェースパラメータのコンポーネント
• GOST 8.334-1978 ГСИ. UHF トランジスタと受信機の雑音指数測定器、校正方法とツール

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, 高周波ハードウェア検出

• ECA 186-8E-1978 受動電子部品試験 方法 8: 高周波振動

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, 高周波ハードウェア検出

• VDI/VDE 3553-1977 プロセス コンピューティング システムにおけるハードウェアおよびソフトウェア エラーの検出と位置特定

British Standards Institution (BSI), 高周波ハードウェア検出

• BS EN 13126-16:2019 建築ハードウェアの窓とドア 高さの窓のハードウェア要件とテスト方法 リフトおよびスライド窓のハードウェア
• BS EN 13126-17:2019 建築ハードウェアの窓とドア 高さのある窓のハードウェア要件とテスト方法 傾斜窓とスライド窓のハードウェア
• BS EN 13126-1:2022 建築ハードウェアの窓とドアのハードウェア要件と高さのテスト方法 すべてのタイプのハードウェアに共通する窓の要件
• BS EN 13126-14:2022 建築ハードウェアの窓とドア 高さの窓サッシのファスナーのハードウェア要件とテスト方法
• BS EN 13126-8:2017 建築ハードウェア 窓とドアの高さ 窓ハードウェアの傾斜と回転、傾斜優先と回転のみ ハードウェア要件とテスト方法
• BS EN 13126-7:2021 建築ハードウェアの窓とドアのハードウェア要件と高さの試験方法 窓のフィンガーグリップ
• BS EN 13126-13:2022 建築ハードウェアの窓とドアのハードウェア要件と高さの窓サッシのバランスのテスト方法
• BS EN 13126-4:2022 建築ハードウェアの窓とドア 高さの窓のハードウェア要件とテスト方法 スペイン語
• 20/30424348 DC BS EN 13126-1 建築ハードウェア 窓およびドアの高さの窓のハードウェア要件とテスト方法 パート 1: すべてのタイプのハードウェアの共通要件
• 13/30293221 DC BS EN 61083-1 高電圧および高電流試験における測定用の機器およびソフトウェア パート 1: パルス試験のハードウェア要件「提案されたトランスバーサル規格」
• BS EN 13126-15:2019 建築ハードウェア 窓とドアのハードウェア要件と高さ窓のテスト方法 水平スライド用ローラーとスライド折りたたみ窓用ハードウェア
• BS EN 13126-3:2023 建築ハードウェア 窓とドアのハードウェア要件とテスト方法 主に傾斜と回転、傾斜優先、および回転専用ハードウェア用のハンドルのハイライト
• BS EN 13126-2:2021 建築ハードウェア 窓とドアのハードウェア要件と高さの窓の試験方法 窓固定ハンドル
• 18/30355293 DC BS ISO 4992-2 鋳鋼の超音波試験パート 2: 高応力コンポーネントの鋳鋼
• 21/30437970 DC BS EN 13126-3 建築ハードウェア 窓およびドアの高さの窓のハードウェア要件とテスト方法 パート 3: 主にティルト&ターン、ティルトファースト、およびターンオンリーのハードウェアのハンドル
• BS EN 62024-1:2002 高周波センシングコンポーネント、電気的特性と測定方法、NanoHenryチップセンサー
• BS EN IEC 62024-1:2018 高周波誘導部品の電気的特性と測定方法 ナーヘンシリーズ チップインダクタ
• 20/30424354 DC BS EN 13126-14 建築ハードウェア 窓とドア 高さのある窓のハードウェア要件と試験方法 パート 14: サッシ留め具
• BS EN IEC 61083-3:2021 高電圧および大電流試験の測定用の機器およびソフトウェア AC および DC 電圧および電流試験のハードウェア要件
• BS EN ISO 3452-5:2009 非破壊検査 貫入試験 50℃以上の温度での貫入試験
• BS EN ISO 3452-5:2008 非破壊試験 侵入試験 50℃以上の温度での侵入試験
• BS EN 62024-1:2008 高周波センシング部品 電気的特性と測定方法 ナノヘンリークラスチップセンサー
• BS EN IEC 62025-2:2019 高周波インダクタンス成分の非電気特性と測定方法 非電気特性の試験方法
• 20/30404290 DC BS EN 13126-2 建築ハードウェア 窓とドア 高さのある窓のハードウェア要件とテスト方法 パート 2: 窓留め具のハンドル
• BS EN 62025-2:2005 高周波誘導部品 非電気的特性と測定方法 非電気的特性の試験方法
• 20/30404293 DC BS EN 13126-7 建築ハードウェア 窓とドアの高さの窓 ハードウェア要件とテスト方法 パート 7: 指の捕捉
• 20/30424351 DC BS EN 13126-13 建築ハードウェア 窓とドア 高さのある窓のハードウェア要件とテスト方法 パート 13. サッシのバランス
• 20/30421813 DC BS EN 13126-4 建築ハードウェア 窓とドア 高さのある窓のハードウェア要件とテスト方法 パート 4: スペイン語
• BS EN IEC 62024-2:2020 高周波誘導部品の電気的特性と測定方法 DC-DCコンバータ用インダクタの定格電流
• BS EN 13126-6:2018 建築ハードウェア 窓とドアのハードウェア要件と高さのテスト方法 窓の可変幾何学形状サポート ヒンジ (摩擦サポートの有無)
• BS DD IEC/TS 61994-2:2011 周波数制御、選択、検出用の圧電、誘電、静電デバイス 用語集 圧電フィルターおよび誘電フィルター。
• BS ISO 21608:2012 金属および合金の腐食 高温腐食条件下での金属材料の等温接触酸化試験の試験方法
• BS EN 62024-2:2009 高周波誘導部品 電気的特性と測定方法 DC-DC コンバーターで使用されるインダクターの定格電流
• 23/30450435 DC BS EN IEC 62024-1 高周波誘導部品の電気的特性と測定方法 第 1 部: ナノヘン シリーズ チップ インダクタ
• BS EN 62025-1:2007 高周波誘導部品、非電気的特性と測定方法、電子および通信機器で使用する固定表面実装インダクタ
• BS ISO 4233:2023 原子炉技術 核融合炉 核融合炉の高温圧力含有部品のホットヘリウム漏れ検知方法

Professional Standard - Tobacco, 高周波ハードウェア検出

• YC/T 544-2016 紙巻きタバコおよびフィルターロッド硬度試験装置の一般的な技術条件

CZ-CSN, 高周波ハードウェア検出

• CSN 35 8781-1983 半導体UHFダイオードの混合と検出。 電気的パラメータの測定方法

ECIA - Electronic Components Industry Association, 高周波ハードウェア検出

• 186-8E-1978 受動電子部品の試験方法; 方法 8: 高周波振動

German Institute for Standardization, 高周波ハードウェア検出

• DIN EN 1592-1:1997-12 アルミニウム及びアルミニウム合金高周波シーム溶接管 第１部：検査及び納入に関する技術的条件
• DIN EN 13126-17:2019 建築ハードウェアの窓とドア 高窓のハードウェア要件とテスト方法 パート 17: 傾斜窓およびスライド窓のハードウェア
• DIN 53424:1978 硬質フォーム材料の検査、曲げ荷重および圧力荷重下での高温条件下での寸法安定性の測定
• DIN 53483-3:1969 絶縁材料の試験 誘電特性の測定 周波数 100 MHz 未満の液体の光電素子の測定
• DIN EN ISO 3452-5:2009 非破壊検査 侵入試験 パート 5: 50°C 以上の温度での侵入試験
• DIN EN 62024-1:2008 高周波センシング部品 電気的特性と測定方法 その1 ナノヘンリークラスチップセンサー
• DIN EN IEC 62025-2:2021-11 高周波誘導部品の非電気的特性と測定方法 第2部：非電気的特性の試験方法
• DIN EN 62025-2:2005 高周波誘導部品 非電気的特性と測定方法 第2部 非電気的特性の試験方法
• DIN EN IEC 62024-1:2019-02 高周波誘導部品 - 電気的特性と測定方法 - 第 1 部: ナノヘン シリーズ チップ インダクタ (IEC 62024-1:2017)
• DIN EN IEC 62024-2:2022-11 高周波誘導部品の電気的特性と測定方法 第2部 DC-DCコンバータ用インダクタの定格電流
• DIN EN 61300-3-29:2015-02 光ファイバー相互接続デバイスおよび受動部品の基本的なテストおよび測定手順パート 3-29: DWDM デバイスのスペクトル透過特性の検査および測定
• DIN EN 13126-3:2023-04 建築ハードウェア 窓とドアのハードウェア要件とテスト方法 高さのある窓 パート 3: 主にチルトとスイベル、チルト優先およびスイベルのみのハードウェア用のハンドル
• DIN EN 13126-3:2023 建築ハードウェア 窓とドアのハードウェア要件とテスト方法 高さのある窓 パート 3: 主にチルトとスイベル用のハンドル、チルト優先ハードウェアとスイベル専用ハードウェア

BELST, 高周波ハードウェア検出

• STB 2348-2013 遠隔火災検知用の Videoheat ハードウェアおよびソフトウェア複合体の一般的な技術仕様

国家能源局, 高周波ハードウェア検出

• NB/SH/T 0987-2019 高周波線振動（SRV）標準試験片摩耗量の求め方

American Society for Testing and Materials (ASTM), 高周波ハードウェア検出

• ASTM D7735-11e1 高温条件下での道路標識用熱可塑性塗料のタイプ A デュロメータ硬さ測定の標準試験方法

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 高周波ハードウェア検出

• GB/T 13697-2021 二酸化ウラン粉末およびペレット中の炭素の定量 高周波誘導炉燃焼赤外線検出法
• GB/T 40853.1-2021 高周波誘導部品の電気的特性とその測定方法 第1部：ナノヘンリーレベルのチップインダクタ

Danish Standards Foundation, 高周波ハードウェア検出

• DS/EN 12680-2:2003 鋳造部品の超音波試験 パート 2: 高応力コンポーネントの鋼鋳物
• DS/EN IEC 61083-3:2021 高電圧および大電流試験用の測定器とソフトウェア「パート 3: AC および DC 電圧および電流試験のハードウェア要件」
• DS/EN 62025-2:2005 高周波誘導部品の非電気的特性と測定方法 第2部：非電気的特性の試験方法
• DS/EN 62024-1:2008 高周波誘導部品 - 電気的特性と測定方法 - 第 1 部: ナーヘン シリーズ チップ インダクタ
• DS/EN IEC 62153-4-16:2021 金属ケーブルおよびその他の受動部品の試験方法「パート 4-16: 電磁両立性 (EMC)」では、周波数範囲が伝送インピーダンスの高周波とシールド減衰測定の低周波に拡張されています。
• DS/EN 62024-2:2009 高周波誘導部品の電気的特性と測定方法 第2部 DC-DCコンバータ用インダクタの定格電流

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 高周波ハードウェア検出

• EN IEC 61083-3:2021 高電圧および大電流テスト測定用の機器およびソフトウェア パート 3: AC および DC 電圧および電流テストのハードウェア要件
• EN IEC 62025-2:2019 高周波誘導部品の非電気的特性と測定方法 第2部：非電気的特性の試験方法
• EN 62024-1:2008 高周波センシングコンポーネント 電気的特性と測定方法 パート 1: Nano Henry チップインダクタ
• EN 62025-2:2005 高周波誘導部品 非電気的特性と測定方法 パート 2: 非電気的特性の試験方法 IEC 62025-2:2005
• EN IEC 62153-4-16:2021/AC:2023-11:2023 金属ケーブルおよびその他の受動部品の試験方法 パート 4-16: 電磁両立性 (EMC) 伝送インピーダンスの周波数範囲をより高い周波数まで拡張する シールド減衰測定の場合、周波数範囲をより低い周波数まで拡張する
• EN 62024-2:2009 高周波誘導部品の電気的特性と測定方法 第2部 DC-DCコンバータ用インダクタの定格電流
• EN IEC 62024-2:2020 高周波誘導部品の電気的特性と測定方法 第2部 DC-DCコンバータ用インダクタの定格電流

ES-UNE, 高周波ハードウェア検出

• UNE-EN IEC 61083-3:2021 高電圧および大電流テスト測定用の機器およびソフトウェア パート 3: AC および DC 電圧および電流テストのハードウェア要件
• UNE-EN IEC 62025-2:2019 高周波誘導部品の非電気的特性と測定方法 第2部：非電気的特性の試験方法
• UNE-EN IEC 62024-1:2018 高周波誘導部品の電気的特性と測定方法 第1回 ナーヘンシリーズ チップインダクタ
• UNE-EN IEC 62153-4-16:2022/AC:2023-11:2023 金属ケーブルおよびその他の受動部品の試験方法 パート 4-16: 電磁両立性 (EMC) 伝送インピーダンスの周波数範囲をより高い周波数まで拡張する シールド減衰測定の場合、周波数範囲をより低い周波数まで拡張する...
• UNE-EN IEC 62024-2:2020 高周波誘導部品の電気的特性と測定方法 第2部 DC-DCコンバータ用インダクタの定格電流
• UNE-EN 61300-3-29:2014 光ファイバー相互接続機器および受動部品の基本的な試験および測定手順 パート 3-29: DWDM 機器のスペクトル伝送特性の検査および測定
• UNE-EN 13126-3:2023 建築ハードウェアの窓とドアの高さの窓のハードウェア要件とテスト方法 パート 3: 傾斜および回転のハンドル プライマリ、傾斜優先および回転専用ハードウェア

Electronic Industrial Alliance (U.S.), 高周波ハードウェア検出

• EIA RS-186-8E-1978 受動電子部品の標準試験方法 方法 8: 振動、高周波

Canadian Standards Association (CSA), 高周波ハードウェア検出

• CSA ISO/IEC 14496-4-06-CAN/CSA AMD 8 CORR 1:2009 情報技術、オーディオビジュアル オブジェクトのコーディング、パート 4: 適合性テスト、修正 8: 効率的な高度なオーディオ コーディング、オーディオ BIFS、および構造化オーディオ適合性
• CSA ISO/IEC 14496-4-06-CAN/CSA AMD 8:2006 情報技術、オーディオビジュアル オブジェクトのコーディング、パート 4: 適合性テスト、修正 8: 効率的な高度なオーディオ コーディング、オーディオ BIFS、および構造的オーディオ適合性
• CSA ISO/IEC 14496-4-06-CAN/CSA AMD 6:2006 情報技術、オーディオビジュアル オブジェクトのコーディング、パート 4: 適合性テスト、修正 6: 高度なビデオ コーディングの適合性

Lithuanian Standards Office , 高周波ハードウェア検出

• LST EN 12680-2-2003 鋳造部品の超音波試験 パート 2: 高応力コンポーネントの鋼鋳物
• LST EN IEC 61083-3:2021 高電圧および大電流テスト測定用の機器およびソフトウェア パート 3: AC および DC 電圧および電流テストのハードウェア要件 (IEC 61083-3:2020)
• LST EN 62025-2-2005 高周波誘導部品の非電気的特性と測定方法 第 2 部：非電気的特性の試験方法 (IEC 62025-2:2005)
• LST EN 62024-1-2008 高周波誘導部品 - 電気的特性と測定方法 - パート 1: Nanohen レンジのチップ インダクタ (IEC 62024-1:2008)

AENOR, 高周波ハードウェア検出

• UNE-EN 12680-2:2003 鋳造部品の超音波試験 パート 2: 高応力コンポーネントの鋼鋳物

Defense Logistics Agency, 高周波ハードウェア検出

• DLA MIL-S-19500/339 VALID NOTICE 3-2011 半導体デバイス、ダイオード、シリコン、ビデオ検出器タイプ 1N358A、1N358AR、1N358AM、および 1N358AMR

BE-NBN, 高周波ハードウェア検出

• NBN S 21-108-1988 自動火災検知システムのコンポーネント。 パート 8: 高温で動作する熱検知器
• NBN E 62-103-1977 水平または垂直スピンドル、固定高フライス。 試験条件。 正確な訴追
• NBN E 62-101-1973 水平または垂直スピンドルを備えた高さ調整可能なフライスカッター。 試験条件。 正確な訴追

Professional Standard - Nuclear Industry, 高周波ハードウェア検出

• EJ/T 20150.29-2018 加圧水型原子炉棒束燃料集合体の照射後検査 第29回 高周波電極熱伝導率法による燃料被覆管中の水素含有量の測定
• EJ/T 1212.10-2008 ガドリニア・二酸化ウラン焼結ペレットの分析方法 第10回：高周波誘導燃焼赤外線検出法による炭素の定量

Professional Standard - Commodity Inspection, 高周波ハードウェア検出

• SN/T 0481.8-2010 輸出ボーキサイトの検査方法その8：高周波燃焼・赤外線吸収法による硫黄分の定量

American National Standards Institute （ANSI), 高周波ハードウェア検出

• ANSI/INCITS/ISO/IEC 14496-4/AMD 8:2009 情報技術、オーディオビジュアル オブジェクトのコーディング、パート 4: MPEG-4 アプリケーションの適合性テスト、修正 8: 効率的な高度なオーディオ コーディング、オーディオ BIFS、および構造化オーディオ適合性

GB-REG, 高周波ハードウェア検出

• REG NASA-LLIS-0486-1996 ロット受け入れハードウェアの初期故障に対するテスト後の検査から得られた教訓 (1993 年)
• REG NASA-LLIS-1324-2002 教訓 ハードウェア スケジュールの競合がペイロード テストおよびチェックアウト システム (PTCS) に及ぼす潜在的な影響

International Electrotechnical Commission (IEC), 高周波ハードウェア検出

• IEC TS 63342:2022 C-Si 太陽光発電 (PV) モジュール 光および高温誘起劣化 (LETID) テスト テスト
• IEC 61083-3:2020 高電圧および高電流インパルス試験の測定用の機器およびソフトウェア パート 3: AC および DC 電圧および電流試験のハードウェア要件
• IEC PAS 61300-3-35:2002 光ファイバ相互接続デバイスと受動部品 基本的なテストと測定手順 パート 3-35: 検査と測定 光ファイバ円筒コネクタ端面のビデオ検査
• IEC 62025-2:2019 高周波誘導部品 ～非電気特性と測定方法～ 第２部：非電気特性の試験方法
• IEC 62024-1:2008 高周波センシングコンポーネント 電気的特性と測定方法 パート 1: Nano Henry チップインダクタ
• IEC 62024-1:2008/COR1:2008 高周波センシングコンポーネント 電気的特性と測定方法 パート 1: Nano Henry チップインダクタ
• IEC 62024-1:2002 高周波センシングコンポーネント 電気的特性と測定方法 パート 1: ナノヘンリー欠陥のあるインダクタ
• IEC 62024-1:2017 高周波センシングコンポーネント - 電気的特性と測定方法 - パート 1: ナノスケール距離のチップインダクタ
• IEC 62025-2:2005 高周波誘導部品 非電気的特性と測定方法 第2部 非電気的特性の試験方法
• IEC 62025-2:2019 RLV 高周波誘導部品 非電気的特性と測定方法 第2部 非電気的特性の試験方法
• IEC 62153-4-16:2021 金属ケーブルおよびその他の受動部品の試験方法 パート 4-16: 電磁両立性 (EMC) 周波数範囲を伝送インピーダンスの高周波およびシールド減衰測定の低周波に拡張
• CISPR 11:2015/AMD2:2019 修正 2. 半導体電力変換器 (SPC) の要件/周波数範囲 1 ～ 18 GHz での測定の再現性の向上
• CISPR 11-2015/AMD2-2019 修正 2. 半導体電力変換器 (SPC) の要件/周波数範囲 1 ～ 18 GHz での測定の再現性の向上
• IEC 62024-2:2020 RLV 高周波誘導部品 電気的特性と測定方法 第2部 DC-DCコンバータ用インダクタの定格電流
• IEC 60050-561:2014/AMD2:2020 修正 2. 国際電気技術語彙 (IEV)、パート 561: 周波数制御、選択、検出のための圧電、誘電、静電デバイスおよび関連材料
• IEC 60050-561:2014/AMD4:2021 修正 4. 国際電気技術語彙 (IEV)、パート 561: 周波数制御、選択、検出のための圧電、誘電、静電デバイスおよび関連材料
• IEC TS 61994-3:2011 周波数制御、選択、検出用の圧電、誘電、静電デバイス 用語 パート 3: 圧電発振器および誘電発振器
• IEC 62024-2:2020 高周波誘導部品の電気的特性と測定方法 第2部 DC-DCコンバータ用インダクタの定格電流

工业和信息化部, 高周波ハードウェア検出

• JB/T 14006-2020 転がり軸受の高炭素クロム軸受鋼部品の残留オーステナイトの試験手順

PL-PKN, 高周波ハードウェア検出

• PN-EN ISO 10893-11-2011/A1-2021-01 E 鋼管の非破壊検査 パート 11: 縦方向および/または横方向の欠陥を検出するための溶接鋼管溶接部の自動超音波検査 変更 1: 超音波検査の頻度の変更、変更の受け入れ
• PN-EN IEC 61083-3-2021-08 E 高電圧および大電流テスト測定用の機器およびソフトウェア パート 3: AC および DC 電圧および電流テストのハードウェア要件 (IEC 61083-3:2020)

International Organization for Standardization (ISO), 高周波ハードウェア検出

• ISO 3452-5:2008 非破壊試験 侵入試験 パート 5: 50°C を超える温度での侵入試験
• ISO/IEC 13818-4:1998/Amd 1:1999 情報技術. 動画および関連する音声情報の共通エンコード. パート 4: 適合性テスト. 修正 1: アドバンスト オーディオ コーディング (AAC) 適合性テスト
• ISO/IEC 14496-4:2004/Amd 6:2005/Cor 1:2007 情報技術、オーディオビジュアルオブジェクトのエンコーディング、パート 4: 資格試験、修正 6: 高度なビデオエンコーディングの資格、技術訂正事項 1
• ISO 21608:2012 金属および合金の腐食 高温腐食条件下での金属材料の等温接触酸化試験の試験方法

IT-UNI, 高周波ハードウェア検出

• UNSIDER 24-1958 品質検査。 ポアソン型の割り当て。 特定のイベントの頻度の予測、二項則の近似
• UNI 7830-1978 品質検査の統計的手法。 ポアソン分布。 イベントの頻度と二項ルール近似の予測

KR-KS, 高周波ハードウェア検出

• KS C IEC 62024-1-2017 高周波誘導部品の電気的特性と測定方法 第1部：ナノスケールチップインダクタ
• KS C IEC 62025-2-2018 高周波誘導部品 ～非電気特性と測定方法～ 第２部：非電気特性の試験方法
• KS C IEC 62025-2-2018(2023) 高周波誘導部品の非電気的特性と測定方法 第2部：非電気的特性の試験方法
• KS C IEC 62024-2-2018 高周波誘導部品 - 電気的特性と測定方法 - パート 2: DC/DC コンバータのインダクタ電流定格
• KS C IEC 60050-561-2018(2023) 国際電気技術語彙パート 561: 周波数制御、選択、検出のための圧電、誘電、静電デバイスおよび関連材料
• KS C IEC 62024-2-2018(2023) 高周波誘導部品の電気的特性と測定方法 第2部 DC-DCコンバータ用インダクタの定格電流

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 高周波ハードウェア検出

• JIS C 62025-2:2009 高周波誘導部品 非電気的特性と測定方法 第2部 非電気的特性の試験方法
• JIS C 62024-1:2022 高周波誘導部品―電気的特性と測定方法―その１：ナノヘンリークラスチップインダクタ
• JIS Z 2343-5:2012 非破壊試験 侵入試験 パート 5: 50°C を超える温度での侵入試験
• JIS C 62024-1:2006 高周波センシングコンポーネント 電気的特性と測定方法 パート 1: ナノヘンリー欠陥のあるインダクタ
• JIS C 62024-1:2011 高周波誘導部品 電気的特性と測定方法 パート 1: ナノヘンリー範囲のチップインダクタ
• JIS C 62024-2:2022 高周波誘導部品の電気的特性と測定方法 第2部 DC-DCコンバータ用インダクタの定格電流

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 高周波ハードウェア検出

• EN IEC 62024-1:2018 高周波誘導部品 - 電気的特性と測定方法 - 第 1 部: ナーヘン シリーズ チップ インダクタ
• EN 62024-1:2002 高周波センシングコンポーネント 電気的特性と測定方法 パート 1: Nano Henry チップインダクタ

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 高周波ハードウェア検出

• GJB 1654-1993 周波数領域法、光ファイバおよびケーブルの校正手順、光電子部品および光通信機器の帯域幅測定システム

United States Navy, 高周波ハードウェア検出

• NAVY MIL-PRF-32227-2006 高度火災煙感知コンポーネント システム (AFSSS) 火炎ゾーン検出アセンブリ (FDZM)、スイッチ閉鎖モード (SCZM)、およびアイソレーター

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, 高周波ハードウェア検出

• GJB 5969.8-2007 海底原子力発電所で使用されるニオブ被覆二酸化ウラン微小球の試験方法 第8回 高周波誘導加熱赤外線吸収法による炭素の定量

未注明发布机构, 高周波ハードウェア検出

• GJB 8793.8-2015 海底原子力発電所で使用されるニオブ被覆二酸化ウラン微小球の試験方法 第8回 炭素の定量 高周波誘導加熱・赤外線吸収法

NL-NEN, 高周波ハードウェア検出

• NEN 10966-1-1993 IEC 966-1-1988 + A1-1990 無線周波数および同軸ケーブル アセンブリに関する一般仕様。 パート 1: 一般要件とテスト方法

Standard Association of Australia （SAA）, 高周波ハードウェア検出

• ISO/IEC 21000-5:2004/Amd.3:2008 情報技術における視聴覚オブジェクトのコーディング パート 4: 適合性テスト修正 6: 高度なビデオ コーディング適合性

RO-ASRO, 高周波ハードウェア検出

• STAS 6048/6-1984 電波干渉。 産業、科学、医療などで使用される高周波発生装置および機器。 干渉許容限界と検出のための特別な環境

その他：   ハードウェア高周波, 高周波ハードウェア検出, 高周波電流検出方式, 高周波電流の検出方法, 高周波電流検出方式, 高周波電流検出, 高周波イオン検出, 高周波アルゴンイオン検出器, 高周波アルゴン放電検知器, 高周波超音波検査装置, 高周波電圧計器の検出, 高頻度の突然変異検出, 高周波電流検出回路, 高周波アルゴン放電検出器, 高周波アルゴン検出器, 高周波アルゴンイオン化検出器, ハードウェアの検出, 機器は高周波電圧を検出します, 機器は高周波電圧を検出します, UHF局の検出.