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AFM原子間力顕微鏡プローブ

AFM原子間力顕微鏡プローブは全部で 38 項標準に関連している。

AFM原子間力顕微鏡プローブ 国際標準分類において、これらの分類：分析化学、 長さと角度の測定、 光学機器、 航空宇宙製造用の材料、 包括的なテスト条件と手順、 物理学、化学、 原子力工学、 セラミックス、 光学および光学測定。

International Organization for Standardization (ISO), AFM原子間力顕微鏡プローブ

• ISO 13095:2014 表面化学分析、原子間力顕微鏡、ナノ構造測定用の AFM プローブ ハンドル プロファイルのオンサイト識別手順。
• ISO 23729:2022 表面化学分析、原子間力顕微鏡法、限られたプローブサイズの拡大原子間力顕微鏡画像の回復手順のガイド。
• ISO 21222:2020 表面化学分析 走査型プローブ顕微鏡 原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法による準拠材料の弾性率の測定手順
• ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡電気走査型プローブ顕微鏡を使用した半導体デバイスのキャリア濃度の実験的定量化に関するガイド

British Standards Institution (BSI), AFM原子間力顕微鏡プローブ

• BS ISO 13095:2014 表面化学分析、原子間力顕微鏡、ナノ構造測定用の AFM プローブ ハンドル プロファイルのオンサイト識別手順。
• BS ISO 23729:2022 表面化学分析 原子間力顕微鏡 有限プローブサイズ拡張のための画像回復手順のガイド
• 21/30412880 DC BS ISO 23729 表面化学分析のための原子間力顕微鏡 プローブサイズの拡張を制限した原子間力顕微鏡の画像回復手順のガイド
• BS ISO 21222:2020 表面化学分析 走査型プローブ顕微鏡 原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法を使用した準拠材料の弾性率の測定手順
• 19/30351707 DC BS ISO 21222 表面化学分析 走査型プローブ顕微鏡 原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法を使用した準拠材料の弾性率の決定手順
• 19/30394914 DC BS ISO 15632 マイクロビーム分析 電子プローブ顕微鏡または電子プローブマイクロアナライザー (EPMA) 用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用の仕様および選択された機器性能パラメータ

German Institute for Standardization, AFM原子間力顕微鏡プローブ

• DIN SPEC 52407:2015-03 原子間力顕微鏡 (AFM) および透過型走査型電子顕微鏡 (TSEM) を使用した粒子測定のためのナノテクノロジーの準備および評価方法

RU-GOST R, AFM原子間力顕微鏡プローブ

• GOST 8.593-2009 国家測定均一性保証制度 原子間力走査型プローブ顕微鏡 識別方法
• GOST R 8.635-2007 国家測定均一性保証制度 原子間力走査型プローブ顕微鏡 校正方法
• GOST R 8.700-2010 測定の一貫性を確保するための国家制度 原子間力走査型プローブ顕微鏡を用いた表面粗さ効果高度測定法
• GOST R 8.593-2009 測定の一貫性を確保するための国家システム 原子間力走査型トンネル顕微鏡 校正手順

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), AFM原子間力顕微鏡プローブ

• KS D 2714-2006 走査型プローブ顕微鏡 横せん断力の測定方法

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, AFM原子間力顕微鏡プローブ

• SPB-M6-2-2010 月 8 日: 原子間力顕微鏡 (AFM) によって測定されたアスファルテンとさまざまな表面の間のコロイド相互作用
• SPB-M2-1-2007 原子間力顕微鏡によるアスファルテンの界面特性とレオロジー特性の研究
• SPB-M6-1-2010 8 月 4 日: 原子間力顕微鏡を使用したアスファルテンの界面およびレオロジー特性の研究
• SPB-M14-1-2010 7 月 10 日: 原子間力顕微鏡によるアスファルテンの相互作用とレオロジー特性の研究

American Society for Testing and Materials (ASTM), AFM原子間力顕微鏡プローブ

• ASTM E2859-11(2017) 原子間力顕微鏡を使用してナノ粒子を測定するための標準ガイド
• ASTM E285-08(2015) 原子間力顕微鏡を使用してナノ粒子を測定するための標準ガイド
• ASTM E2382-04(2020) 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナおよびチップ関連のアーティファクトに関する標準ガイド
• ASTM E2382-04 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナーおよび接触関連アイテムのガイド
• ASTM E2859-11(2023) 原子間力顕微鏡を使用してナノ粒子サイズを測定するための標準ガイド
• ASTM E2382-04(2012) 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナーおよび接触関連アイテムの標準ガイド
• ASTM E2859-11 原子機械顕微鏡を使用した寸法測定の標準ガイド
• ASTM E2530-06 Si(111) 単一原子レベルを使用したサブナノメートル変位による原子間力顕微鏡の Z 倍率校正の標準手順

Group Standards of the People's Republic of China, AFM原子間力顕微鏡プローブ

• T/GDASE 0008-2020 原子間力顕微鏡によるグラフェンフィルムのヤング率の測定

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, AFM原子間力顕微鏡プローブ

• GB/T 31227-2014 原子間力顕微鏡を用いたスパッタ膜の表面粗さの測定方法
• GB/T 32189-2015 原子間力顕微鏡による窒化ガリウム単結晶基板の表面粗さの検査方法
• GB/T 27760-2011 Si(111) 結晶面の原子ステップを使用した原子間力顕微鏡のサブナノメートルの高さ測定を校正する方法
• GB/T 28872-2012 生細胞サンプル内のナノ構造を検出するための磁気駆動タッピングモード原子間力顕微鏡法

Professional Standard - Nuclear Industry, AFM原子間力顕微鏡プローブ

• EJ/T 20176-2018 原子間力顕微鏡によるダイヤモンド工具刃先鋭さの測定方法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, AFM原子間力顕微鏡プローブ

• GB/T 32262-2015 原子間力顕微鏡検出用の DNA サンプルの調製方法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), AFM原子間力顕微鏡プローブ

• JIS R 1683:2007 原子間力顕微鏡によるセラミック膜の表面粗さを測定するための試験方法
• JIS R 1683:2014 原子間力顕微鏡によるセラミック膜の表面粗さを測定するための試験方法

KR-KS, AFM原子間力顕微鏡プローブ

• KS D ISO 15632-2023 マイクロビーム分析: 走査型電子顕微鏡 (SEM) または電子プローブ マイクロアナライザー (EPMA) で使用するエネルギー分散型 X 線分光計 (EDS) の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査

その他：   AFM原子間力顕微鏡プローブ, 原子間力顕微鏡 afm プローブ, 原子間力顕微鏡 afm プローブ, AFM原子間力顕微鏡プローブ, 原子間力顕微鏡プローブ, ケルビンプローブによる原子間力顕微鏡.