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光学的厚さ

光学的厚さは全部で 39 項標準に関連している。

光学的厚さ 国際標準分類において、これらの分類：天文学、測地学、地理学、医療機器、光学機器、連続処理装置、有機化学、金属材料試験、ジュエリー、分析化学、半導体材料。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 光学的厚さ

GB/T 41535-2022 エアロゾル光学式厚さリモートセンシング製品の信頼性試験
GB/T 42674-2023 光学機能フィルムの微細構造厚さの試験方法
GB/T 23886-2009 光コヒーレンスクロマトグラフィーによるパールビーズ層厚さの測定方法
GB/T 23886-2009 光コヒーレンスクロマトグラフィーによるパールビーズ層厚さの測定方法
GB/T 23886-2009 光コヒーレンスクロマトグラフィーによるパールビーズ層厚さの測定方法
GB/T 23886-2009 光コヒーレンスクロマトグラフィーによるパールビーズ層厚さの測定方法

未注明发布机构, 光学的厚さ

BS EN ISO 9339-2:1998 光学および光学 — コンタクトレンズ — 厚さの決定パート 2: ヒドロゲルコンタクトレンズ
BS EN ISO 9339-1:1998 光学および光学機器コンタクトレンズの厚さの決定その 1: ハードコンタクトレンズ

European Committee for Standardization (CEN), 光学的厚さ

EN ISO 9339-1:1998 光学および光学機器 - コンタクトレンズの厚さの測定 - パート 1: 固定コンタクトレンズ
EN ISO 9339-2:1998 光学および光学機器コンタクトレンズの厚さの決定パート 2: ハイドロゲルコンタクトレンズ

International Organization for Standardization (ISO), 光学的厚さ

ISO 9339-1:1996 光学および光学機器 - コンタクトレンズの厚さの測定 - パート 1: 固定コンタクトレンズ
ISO 9339-2:1998 光学および光学機器コンタクトレンズの厚さの決定パート 2: ハイドロゲルコンタクトレンズ
ISO 9339-2:1998/Cor 1:2000 光学および光学機器コンタクトレンズの厚さの決定パート 2: ヒドロゲルコンタクトレンズの技術訂正事項 1
ISO 8255-1:2011 顕微鏡、カバースリップ、パート 1: 寸法公差、厚さ、および光学特性
ISO 8255-1:2017 顕微鏡、カバースリップ、パート 1: 寸法公差、厚さ、および光学特性
ISO 8255-1:1986 光学および光学機器顕微鏡カバーガラスパート 1: 寸法公差、厚さおよび光学特性

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 光学的厚さ

KS B ISO 9339-1:2004 光学および光学機器コンタクトレンズ厚さの測定パート 1: 直接コンタクトレンズ
KS B ISO 9339-1:2014 光学および光学機器コンタクトレンズ厚さの測定パート 1: 直接コンタクトレンズ
KS B ISO 9339-1-2014(2019) 光学および光学機器 - コンタクトレンズ - 厚さの測定 - パート 1: リジッドコンタクトレンズ
KS B ISO 9339-2:2004 光学および光学機器コンタクトレンズ厚さの測定パート 2: ヒドロゲルコンタクトレンズ
KS B ISO 9339-2:2014 光学および光学機器コンタクトレンズ厚さの測定パート 2: ヒドロゲルコンタクトレンズ
KS B ISO 9339-2-2014(2019) 光学および光学機器 - コンタクトレンズ - 厚さの測定 - パート 2: ヒドロゲルコンタクトレンズ

Association Francaise de Normalisation, 光学的厚さ

NF S11-684-1:1998 光学および光学機器コンタクトレンズ厚さの測定パート 1: ハードコンタクトレンズ
NF S11-684-2:1999 光学および光学機器コンタクトレンズ厚さの測定パート 2: ヒドロゲルコンタクトレンズ
NF S12-024-1:1988 光学および光学機器、顕微鏡、カバープレートパート 1: 寸法、厚さ、および光学特性
NF EN ISO 2128:2010 アルミニウムとその合金の陽極酸化、陽極層の厚さの決定、光学的切片顕微鏡の非破壊法

British Standards Institution (BSI), 光学的厚さ

BS ISO 8255-1:2011 顕微鏡、カバースリップ、寸法公差、厚さ、光学特性。
BS ISO 8255-1:2017 顕微鏡の蓋ガラスの寸法公差、厚さ、光学特性
BS ISO 14701:2011 表面化学分析、X線光電子分光法、シリカ厚さ測定
BS PD ISO/TR 23173:2021 表面化学分析電子分光法ナノ粒子コーティングの厚さと組成の測定

Standard Association of Australia （SAA）, 光学的厚さ

AS 1334.2A:1984 光増幅器を用いたエレベータコンベアベルトの厚さ測定試験方法

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 光学的厚さ

GJB 8687-2015 光学フィルムの屈折率測定器と膜厚測定器の校正手順

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, 光学的厚さ

GJB/J 5463-2005 光学フィルムの屈折率測定器と膜厚測定器の校正手順

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 光学的厚さ

GB/T 40279-2021 光反射法によるシリコンウェーハ表面の膜厚測定

RO-ASRO, 光学的厚さ

STAS SR ISO 8255-1:1995 光学および光学機器。顕微鏡、カバーガラス。パート 1: 寸法公差、厚さ、および光学特性

German Institute for Standardization, 光学的厚さ

DIN 50455-1:2009 半導体技術で使用する材料のテストフォトレジストの特性評価方法パート 1: コーティング厚さの光学的決定
DIN 50455-1:2009-10 半導体技術材料試験フォトレジスト特性評価方法パート 1: 光学的方法によるコーティング厚さの決定

IPC - Association Connecting Electronics Industries, 光学的厚さ

IPC TM-650 2.3.44-2016 蛍光X線(XRF)分光法による無電解ニッケル(EN)層の厚さとリン含有量の測定

IT-UNI, 光学的厚さ

UNI 6500-1969 アルミニウムおよびその合金の陽極酸化ライニング。光学顕微鏡によるライニング厚さの測定

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