ZH
RU
EN
ES

部分的なp

部分的なpは全部で 4 項標準に関連している。

部分的なp 国際標準分類において、これらの分類：半導体材料、 光ファイバー通信。

Professional Standard - Electron, 部分的なp

• SJ/T 11552-2015 ブリュースター角入射 P 偏光赤外吸収分光法を使用したシリコン内の格子間酸素含有量の測定
• SJ 51427/5-1999 Type B5-P-6.5/125-2 偏波保持光ファイバの詳細仕様

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 部分的なp

• JEDEC JESD90-2004 PチャネルMOSFETの負バイアス電圧の温度不安定性を測定する手順

American Society for Testing and Materials (ASTM), 部分的なp

• ASTM F1619-95(2000) ブリュースター角で入射する p 偏光を使用した赤外吸収分光法によるシリコン ウェーハの格子間酸素含有量の測定のための標準的な試験方法

その他：   部分理論, ++++バイアス, 部分的な楽器, 楕円, メタホウ酸, ヨー, 偏見者, 光学偏心器 偏心器, オフトラック, 非中心地, メタケイ酸, 光学 - バイアス, ピマグネティックプ, 風変わりな, 引っ張るバイアス, オフセット値, 部分的なp, 時間の偏り, バイアス電流, 偏光レンズ.