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方法論的な直線性

方法論的な直線性は全部で 30 項標準に関連している。

方法論的な直線性 国際標準分類において、これらの分類：ワイヤーとケーブル、 ゴム・プラスチック製品、 情報技術の応用、 粒度分析、スクリーニング、 品質、 計測学と測定の総合、 データストレージデバイス、 プラスチック。

British Standards Institution (BSI), 方法論的な直線性

• BS EN 60851-4:1998 巻線の試験方法 化学的性質
• BS EN 60851-4:2016 ラップドワイヤー試験方法 化学的性質
• BS ISO 20998-2:2022 音響法による粒子線形理論の測定と特性評価

RO-ASRO, 方法論的な直線性

• STAS 5924/4-1990 ワイヤーを巻きます。 テスト方法。 化学的性質の測定
• STAS 5924/5-1990 ワイヤーを巻きます。 テスト方法。 電気特性測定
• STAS 5924/6-1990 ワイヤーを巻きます。 テスト方法。 熱特性測定

RU-GOST R, 方法論的な直線性

• GOST R IEC 851-4-1994 巻線の試験方法 化学的性質
• GOST R ISO/IEC 11694-3-2013 ID カード 光学式メモリカード リニア記録方式 パート 3 光学的特性と特性
• GOST R ISO/IEC 11694-4-2013 IDカード 光学メモリカード リニア記録方式 パート4 論理データ構造

PL-PKN, 方法論的な直線性

• PN E04164-02-1986 エナメル巻き線。 実験方法。 エナメル線の機械的特性の試験

Standard Association of Australia （SAA）, 方法論的な直線性

• AS/NZS 4275.4:1995 地下マーキングストリップの試験方法。 耐薬品性

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 方法論的な直線性

• JIS X 6330:1998 光メモリカード リニア記録方式 物理的特性
• JIS X 6330:2001 光メモリカード リニア記録方式 物理的特性
• JIS X 6331:1998 ID カード 光学メモリ カード リニア記録方式 パート 4: 論理データ構造

Association Francaise de Normalisation, 方法論的な直線性

• NF X06-048-2*NF ISO 11843-2:2000 検出能力パート 2: 線形補正の方法論

ZA-SANS, 方法論的な直線性

• SANS 11843-5:2009 自分の能力をテストしてみましょう。 パート 5: 線形および非線形キャリブレーションの場合の方法論

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 方法論的な直線性

• KS X ISO/IEC 11694-3_2001:2007 識別カード・光学式メモリーカード・リニア記録方式・アート3・光学的特性と特性
• KS M ISO 15850-2017(2022) プラスチックにおける引張疲労亀裂伝播の決定 線形弾性破壊力学法
• KS X ISO/IEC 11694-4_2001:2007 身分証明書・光メモリカード・リニア記録方式・第4条・論理データ構造
• KS X ISO/IEC 11694-2:2008 ID カード 光学式メモリ カード リニア記録方式 パート 2: 光学的にアクセス可能な領域の寸法と位置
• KS X ISO/IEC 11694-2-2023 識別カード 光学メモリカード リニア記録方式 パート 2: アクセス可能な光学領域のサイズと位置

International Organization for Standardization (ISO), 方法論的な直線性

• ISO/IEC 11694-3:2008 ID カード 光学式メモリカード リニア記録方式 パート 3: 光学的特性と特性
• ISO/IEC 11694-3:2015 ID カード 光学式メモリカード リニア記録方式 パート 3: 光学的特性と特性

Danish Standards Foundation, 方法論的な直線性

• DS/ISO/IEC 11694-3:2008 識別カード 光メモリカード リニア記録方式 第 3 部：光学性能と特性

Canadian Standards Association (CSA), 方法論的な直線性

• CAN/CSA-ISO/IEC 11694-3:2009 識別カード 光メモリカード リニア記録方式 第 3 部：光学性能と特性
• CSA ISO/IEC 11694-1-02:2002 識別カード 光メモリカード リニア記録方式 パート 1: 物理的特性 ISO/IEC 11694-1:2000

American National Standards Institute （ANSI), 方法論的な直線性

• ANSI/ISO/IEC 11694-3:2001 ID カード 光学メモリカード リニア記録方式 パート 3: 光学特性と特性を使用した INCITS
• ANSI/ISO/IEC 11694-1:2000 ID カード 光学式メモリカード リニア記録方式 パート 1: INCITS が採用する物理的特性

KR-KS, 方法論的な直線性

• KS M ISO 15850-2017 プラスチックにおける引張疲労亀裂伝播の決定 線形弾性破壊力学法

未注明发布机构, 方法論的な直線性

• ISO/IEC 11649-6:2006 識別カード 光メモリカード リニア記録方式 第6部：光メモリカードにおける生体認証技術の利用

その他：   方法論的な直線性, 方法論の直線性, 方法論的な直線性, 線形および非線形校正容器の検出能力方法論, UV法リニア, UV法リニア.