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낮은 재현성

모두 10항목의 낮은 재현성와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 낮은 재현성와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 환경 테스트.

Association Francaise de Normalisation, 낮은 재현성

• NF C20-737:1987 기본 환경 테스트 절차 테스트 방법 Fdc 테스트 광대역 무작위 진동 낮은 재현성

TR-TSE, 낮은 재현성

• TS 2100-1975 기본 환경 테스트 절차. Fdc: 광대역 무작위 진동. 낮은 재현성

YU-JUS, 낮은 재현성

• JUS N.A5.734-1984 기본 환경 테스트 절차. 테스트 Fdc: 광대역 무작위 진동. 낮은 재현성

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 낮은 재현성

• GB/T 12085.15-1995 광학 및 광학 기기의 환경 시험 방법 광대역 불규칙 진동(중간 재현성) 및 고온 및 저온 종합 시험
• GB/T 2423.14-1997 전기전자 제품의 환경 테스트 2부: 테스트 방법 테스트 Fdc: 광대역 무작위 진동-낮은 재현성

International Electrotechnical Commission (IEC), 낮은 재현성

• IEC 60068-2-37:1973 기본 환경 테스트 절차 2부: 테스트 섹션 37: Fdc 테스트: 광대역 무작위 진동 낮은 재현성
• IEC 60068-2-37/AMD1:1983 기본 환경 테스트 절차 2부: 테스트 테스트 Fdc: 광대역 무작위 진동 낮은 재현성 1차 개정

Professional Standard - Electron, 낮은 재현성

• SJ/Z 9001.22-1987 기본 환경 테스트 절차 2부: 다양한 테스트 테스트 Fdc: 광대역 무작위 진동 테스트 - 낮은 재현성

Danish Standards Foundation, 낮은 재현성

• DS/IEC 68-2-37:1985 기본 환경 테스트 절차. 2부: 실험. Fdc 테스트: 광대역 무작위 진동 - 낮은 재현성

RU-GOST R, 낮은 재현성

• GOST 28223-1989 외부 요인의 영향을 받는 주요 시험 방법 제2부 시험 시험 Fdc 광대역 불규칙 진동 낮은 재현성

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