ZH
EN
JP
ES
RU
DE

뒤틀림

모두 13항목의 뒤틀림와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 뒤틀림와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 목재 기반 패널, 절연유체, 반도체 소재, 유기화학, 금속 재료 테스트.

RU-GOST R, 뒤틀림

• GOST 24053-1980 파티클보드, 뒤틀림 측정 방법
• GOST 24053-2021 파티클보드의 휨 확인

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 뒤틀림

• JJG(轻工) 108-1996 변형 표시기 교정 절차

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 뒤틀림

• GB/T 6620-1995 실리콘 웨이퍼 Warpage의 비접촉식 테스트 방법
• GB/T 6620-2009 실리콘 웨이퍼 Warpage의 비접촉식 테스트 방법
• GB/T 25257-2010 광학 기능성 필름의 휨 측정 방법
• GB/T 31352-2014 사파이어 기판의 휨 테스트 방법
• GB/T 32280-2015 실리콘 웨이퍼 Warpage 테스트를 위한 자동 비접촉 스캐닝 방법
• GB/T 30859-2014 태양전지용 실리콘 웨이퍼의 Warpage 및 Waviness 테스트 방법

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 뒤틀림

• EN 60191-6-19:2010 반도체 소자의 기계적 표준화 6-19부: 패키지 휨 측정 방법 및 고온에서의 최대 허용 휨

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 뒤틀림

• GB/T 32280-2022 실리콘 웨이퍼 휨 및 곡률 테스트를 위한 자동 비접촉 스캐닝 방법

IN-BIS, 뒤틀림

• IS 1528 Pt.11-1993 내화 재료의 샘플링 및 물리적 테스트 방법 11부 휨 측정
• IS 1528 Pt.11-1974 내화 재료의 샘플링 및 물리적 테스트 방법 XI부 변형 측정

기타:   곡률 계산, 세로 곡률, 유리 곡률, 유연성, 굴곡 테스트, 왜곡, 자지 몇 개, 공부하는, 뒤틀림, 경사, 변형 측정 방법, 뒤틀림 측정, 변형 측정, 변형 측정, 뒤틀림 감지, 변형 측정 방법, 광학 곡률, 차오주이취, 디스크 워프, 디스크 워프.