ZH
EN
JP
ES
RU
DE전극 전도도 테스트 방법
모두 500항목의 전극 전도도 테스트 방법와 관련된 표준이 있다.
국제 분류에서 전극 전도도 테스트 방법와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 전자관, 광전자공학, 레이저 장비, 표면 처리 및 도금, 도체 재료, 분석 화학, 비파괴 검사, 항공우주 제조용 재료, 설탕, 설탕제품, 전분, 연속 처리 장비, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 접착제 및 접착제 제품, 고무 및 플라스틱 원료, 소방, 토공, 굴착, 기초 공사, 지하 공사, 기계적 테스트, 금속 재료 테스트, 내화물, 용접, 브레이징 및 저온 용접, 반도체 개별 장치, 토양질, 토양과학, 인쇄 회로 및 인쇄 회로 기판, 화학 제품, 지질학, 기상학, 수문학, 포괄적인 테스트 조건 및 절차, 유기화학, 열역학 및 온도 측정, 반도체 소재, 비철금속, 연료, 수질, 사진 기술, 육류, 육류 제품 및 기타 동물성 식품, 단열재, 광섬유 통신, 발전소 종합, 전자 부품 및 부품, 잠그는 물건, 세라믹, 플라스틱, 연료전지, 금속 생산, 태양광 공학, 전송 및 배전망, 비금속 광물, 건축 자재, 집적 회로, 마이크로 전자공학, 복합강화재료, 도로 차량 종합, 전기 및 전자 테스트, 농업 및 임업, 전선 및 케이블, 강화 플라스틱, 유체 흐름 측정, 주파수 제어 및 선택을 위한 압전 및 유전체 장치, 통신 장비용 부품 및 액세서리, 종합 전자 부품, 절연유체, 자성 재료, 섬유 섬유, 배터리 및 축전지, 금속 부식, 무기화학, 항공우주 시스템 및 운영 장치, 섬유제품, 유연한 전송 및 전송, 비료, 회전 모터, 조선 및 해양 구조물 통합, 건축 산업, 석유제품 종합, 건물 내 시설, 방사선 측정, 광학 및 광학 측정, 저항기, 원자력공학.
Professional Standard - Environmental Protection, 전극 전도도 테스트 방법
Professional Standard - Aerospace, 전극 전도도 테스트 방법
Professional Standard - Electron, 전극 전도도 테스트 방법
- SJ 1388-1978 노이즈 다이오드 양극 컨덕턴스 테스트 방법
- SJ 2658.8-1986 반도체 적외선 발광다이오드 시험방법 정상복사시험방법
- SJ 2658.6-1986 반도체 적외선 발광다이오드 시험방법 출력광전력 시험방법
- SJ 2658.4-1986 반도체 적외선 발광다이오드의 시험방법, 정전용량의 시험방법
- SJ 2857.2-1988 열전냉동재료의 물성시험방법, 전기전도도 시험방법
- SJ 2658.3-1986 반도체 적외선 발광다이오드 시험방법 역전압 시험방법
- SJ 2658.13-1986 반도체 적외선 발광다이오드의 시험방법, 출력광전력의 온도계수 시험방법
- SJ 1718-1981 파워 클라이스트론의 음극 펄스 전류 시험 방법
- SJ 2857.1-1988 열전냉동재료의 물성시험방법, 열전도율 시험방법
- SJ 2214.6-1982 반도체 광트랜지스터의 컬렉터와 이미터의 역항복전압 테스트 방법
- SJ 2214.3-1982 반도체 포토다이오드의 암전류 테스트 방법
- SJ 2214.5-1982 반도체 포토다이오드 접합 용량 테스트 방법
- SJ 2214.8-1982 반도체 포토트랜지스터의 암전류 테스트 방법
- SJ/T 2214-2015 반도체 포토다이오드 및 포토트랜지스터 테스트 방법
- SJ 2749-1987 반도체 레이저 다이오드 테스트 방법
- SJ/T 11394-2009 반도체 발광 다이오드 테스트 방법
- SJ 2658.5-1986 반도체 적외선 발광 다이오드 테스트 방법 순방향 직렬 저항 테스트 방법
- SJ 2214.10-1982 반도체 포토다이오드 및 삼극관의 광전류 테스트 방법
- SJ 2215.7-1982 반도체 광커플러의 컬렉터-이미터 역항복 전압 테스트 방법
- SJ 20788-2000 반도체 다이오드 열임피던스 테스트 방법
- SJ 2215.6-1982 반도체 광커플러(다이오드) 접합 용량 테스트 방법
- SJ 1392-1978 노이즈 다이오드 초잡음 전력 시험 방법
- SJ 2354.9-1983 PIN 및 애벌런치 포토다이오드 잡음 등가 전력 테스트 방법
- SJ/T 2658.16-2016 반도체 적외선 방출 다이오드의 측정 방법 제16부: 광전 변환 효율
- SJ/T 11399-2009 반도체 발광 다이오드 칩 테스트 방법
- SJ 2658.2-1986 반도체 적외선 발광 다이오드 테스트 방법 순방향 전압 강하 테스트 방법
- SJ 2215.3-1982 반도체 광커플러(다이오드)의 순방향 전류 테스트 방법
- SJ 2214.4-1982 반도체 포토다이오드의 역항복 전압 테스트 방법
- SJ 2215.4-1982 반도체 광커플러(다이오드)의 역전류 테스트 방법
- SJ 2658.7-1986 반도체 적외선 발광다이오드의 시험방법, 복사속의 시험방법
- SJ 2658.10-1986 반도체 적외선 발광 다이오드의 테스트 방법 변조된 광대역의 테스트 방법
- SJ 450-1973 고전압 정류기 양극의 전력 손실 테스트 방법
- SJ/Z 9009-1987 전자관의 전극간 용량 측정 방법
- SJ 1389-1978 노이즈 다이오드의 전극간 누설전류 시험방법
- SJ 2140-1982 실리콘 제너다이오드의 전압 제한 시험 방법
- SJ/Z 9010.12-1987 전자관의 전기적 특성 테스트 12부: 전극 저항, 상호 컨덕턴스, 증폭 계수, 가변 주파수 저항 및 가변 주파수 상호 컨덕턴스에 대한 테스트 방법
- SJ 2215.5-1982 반도체 광커플러(다이오드)의 역항복 전압 테스트 방법
- SJ 2215.9-1982 반도체 광커플러(트랜지스터)의 역방향 차단 전류 테스트 방법
- SJ 2658.1-1986 반도체 적외선 발광 다이오드의 테스트 방법 일반 원리
- SJ 365-1973 반사형 클라이스트론의 필라멘트 전압이 변할 때 음극전류의 변화율에 대한 시험방법
- SJ 2658.11-1986 반도체 적외선 발광 다이오드의 시험 방법, 임펄스 응답 특성의 시험 방법
- SJ/T 2658.6-2015 반도체 적외선 방출 다이오드의 측정 방법 6부: 복사 전력
- SJ 2214.2-1982 반도체 포토다이오드의 순방향 전압 강하 테스트 방법
- SJ 2214.7-1982 반도체 포토트랜지스터의 포화 전압 강하 테스트 방법
- SJ/T 2354-2015 PIN, 애벌런치 포토다이오드 테스트 방법
- SJ/T 2354-2015/0352 PIN, 애벌런치 포토다이오드 테스트 방법
- SJ/T 10869-1996 코일 밀봉 튜브의 전기적 성능 테스트 방법 전력 이득 테스트 방법
- SJ/T 10866-1996 코일 밀봉 튜브의 전기적 특성 테스트 방법 주파수 위치 테스트 방법
- SJ/T 11818.1-2022 반도체 UV 방출 다이오드 1부: 테스트 방법
- SJ 1390-1978 초잡음전력 비선형 잡음계수 다이오드 시험방법
- SJ/Z 1171-1977 전기도금액의 분극곡선 시험방법
- SJ 2354.5-1983 PIN 및 애벌런치 포토다이오드 커패시턴스 테스트 방법
- SJ/T 10740-1996 반도체 집적 회로 바이폴라 랜덤 액세스 메모리 테스트 방법의 기본 원리
- SJ 2355.4-1983 반도체 발광소자 시험방법, 접합용량 시험방법
- SJ/T 10868-1996 코일 밀봉관의 전기적 특성 시험 방법 자기중화 주파수 시험 방법
- SJ/T 10295-1991 해양항법레이더 송신기의 주파수 특성 시험방법
- SJ 2215.2-1982 반도체 광커플러(다이오드)의 순방향 전압 강하 테스트 방법
- SJ 1706-1981 파워 클라이스트론의 전자 주입 유량 시험 방법
- SJ 20512-1995 마이크로파 대손실 고체재료의 복소 유전율 및 복소 투자율 시험 방법
- SJ 364-1973 반사된 클라이스트론 음극 전류의 테스트 방법
- SJ 2355.3-1983 반도체 발광소자 시험방법 역전류 시험방법
- SJ/T 10865-1996 코일 밀봉관의 전기적 특성 시험 방법 주파수 응답 특성 시험 방법
- SJ 2354.3-1983 PIN 및 애벌런치 포토다이오드 암전류 테스트 방법
- SJ 444-1973 고전압 정류기 양극 전류 및 과열 시 양극 전류 시험 방법
- SJ/T 2658.13-2015 반도체 적외선 방출 다이오드의 측정 방법 - 파트 13: 복사 전력의 온도 계수
- SJ/T 2215-2015 반도체 광커플러 테스트 방법
- SJ 1551-1979 실리콘 에피택시층 저항률 시험법(정전용량-전압법)(가)
- SJ 2857.3-1988 열전냉동재료의 특성시험방법 열전기전력률 시험방법
- SJ 2658.12-1986 반도체 적외선 발광 다이오드의 테스트 방법 피크 방출 파장 및 스펙트럼 반폭 테스트 방법
- SJ 421-1973 저잡음 진행파관의 양극 단자와 각 극 사이의 누설 전류 시험 방법
- SJ 431-1973 "O"형 복귀파관의 각 극의 전압 및 전류 시험 방법
- SJ 2138-1982 실리콘 안정화 다이오드 전류 안정화를 위한 테스트 방법
- SJ 2141-1982 실리콘 제너다이오드의 항복전압 테스트 방법
KR-KS, 전극 전도도 테스트 방법
British Standards Institution (BSI), 전극 전도도 테스트 방법
- PD IEC TR 60747-5-12:2021 반도체소자 광전자소자 발광다이오드 LED 효율 시험 방법
- BS IEC 60747-5-8:2019 반도체소자, 광전자소자, 발광다이오드, 발광다이오드의 광전효율 시험방법
- 18/30367363 DC BS IEC 60747-5-8 반도체 장치 5-8부 광전자 장치 발광 다이오드 발광 다이오드의 광전 효율 테스트 방법
- BS EN ISO 284:2012 컨베이어 벨트, 전기 전도성, 사양 및 테스트 방법
- BS IEC 60747-5-9:2019 온도변화 전계발광 기반 반도체소자 광전자소자 발광다이오드 내부양자효율 시험 방법
- BS IEC 60747-5-10:2019 상온기준점 기반 반도체소자 광전자소자 발광다이오드 내부양자효율 시험방법
- BS 6043-3.6:2000 알루미늄 제조에 사용되는 탄소질 재료의 샘플링 및 테스트 방법 전극 주변 온도에서 음극 블록 및 사전 구운 양극의 저항 측정
- BS DD IEC/PAS 61338-1-5:2010 도파관형 유전체 공진기 일반 정보 및 테스트 조건 마이크로파 주파수에서 도체층과 유전체 기판 사이의 전도성 테스트 방법
- BS EN 61338-1-5:2015 도파관형 유전체 공진기 일반 정보 및 테스트 조건 마이크로파 주파수에서 도체층과 유전체 기판 사이의 전도성 테스트 방법
- BS IEC 60747-5-11:2019 반도체 장치, 광전자 장치, 발광 다이오드, 발광 다이오드의 방사 및 비방사 전류에 대한 테스트 방법
- BS 7755-3.4:1995 토양 품질의 화학적 방법에 의한 특정 전도도 결정
- BS ISO 23331:2021 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 테크니컬 세라믹스) 전도성 파인 세라믹스의 총 전도성 시험 방법
- BS IEC 60747-5-16:2023 반도체 소자 - 광전자 소자 발광 다이오드 GaN 기반 발광 다이오드 광전류 스펙트럼 기반 플랫 밴드 전압 테스트 방법
- BS EN IEC 61189-5-503:2017 전기 재료, 인쇄 기판 및 기타 상호 연결 구조 및 부품에 대한 테스트 방법 재료 및 부품에 대한 일반 테스트 방법 회로 기판의 CAF(전도성 양극 필라멘트) 테스트
- BS EN IEC 63373:2022 GaN HEMT 기반 전력 변환 장치에 대한 동적 온저항 테스트 방법 가이드
- BS IEC 60747-5-15:2022 전기반사스펙트럼을 기반으로 한 반도체소자-광전자소자 발광다이오드 플랫밴드 전압 테스트 방법
American Society for Testing and Materials (ASTM), 전극 전도도 테스트 방법
Professional Standard - Geology, 전극 전도도 테스트 방법
Professional Standard - Ferrous Metallurgy, 전극 전도도 테스트 방법
工业和信息化部, 전극 전도도 테스트 방법
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 전극 전도도 테스트 방법
Professional Standard - Aviation, 전극 전도도 테스트 방법
PL-PKN, 전극 전도도 테스트 방법
RU-GOST R, 전극 전도도 테스트 방법
Danish Standards Foundation, 전극 전도도 테스트 방법
AENOR, 전극 전도도 테스트 방법
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 전극 전도도 테스트 방법
GOSTR, 전극 전도도 테스트 방법
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 전극 전도도 테스트 방법
Professional Standard - Energy, 전극 전도도 테스트 방법
Professional Standard - Machinery, 전극 전도도 테스트 방법
工业和信息化部/国家能源局, 전극 전도도 테스트 방법
Defense Logistics Agency, 전극 전도도 테스트 방법
Professional Standard - Military and Civilian Products, 전극 전도도 테스트 방법
Professional Standard - Ocean, 전극 전도도 테스트 방법
Group Standards of the People's Republic of China, 전극 전도도 테스트 방법
AT-ON, 전극 전도도 테스트 방법
Lithuanian Standards Office , 전극 전도도 테스트 방법
American National Standards Institute (ANSI), 전극 전도도 테스트 방법
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 전극 전도도 테스트 방법
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 전극 전도도 테스트 방법
Professional Standard - Post and Telecommunication, 전극 전도도 테스트 방법
International Electrotechnical Commission (IEC), 전극 전도도 테스트 방법
International Organization for Standardization (ISO), 전극 전도도 테스트 방법
Professional Standard - Electricity, 전극 전도도 테스트 방법
CO-ICONTEC, 전극 전도도 테스트 방법
RO-ASRO, 전극 전도도 테스트 방법
Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 전극 전도도 테스트 방법
- IPC 9691-2005 CAF(전도성 양극 필라멘트) 저항 테스트(전기화학적 마이그레이션 테스트), 방법 2.6.25, IPC-TM-650 사용자 가이드
IPC - Association Connecting Electronics Industries, 전극 전도도 테스트 방법
CZ-CSN, 전극 전도도 테스트 방법
国家能源局, 전극 전도도 테스트 방법
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 전극 전도도 테스트 방법
IN-BIS, 전극 전도도 테스트 방법
German Institute for Standardization, 전극 전도도 테스트 방법
Professional Standard - Forestry, 전극 전도도 테스트 방법
Professional Standard - Non-ferrous Metal, 전극 전도도 테스트 방법
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 전극 전도도 테스트 방법
Indonesia Standards, 전극 전도도 테스트 방법
Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, 전극 전도도 테스트 방법
Association Francaise de Normalisation, 전극 전도도 테스트 방법
Tianjin Provincial Standard of the People's Republic of China, 전극 전도도 테스트 방법
Professional Standard - Earthquake, 전극 전도도 테스트 방법
NL-NEN, 전극 전도도 테스트 방법
European Committee for Standardization (CEN), 전극 전도도 테스트 방법
TR-TSE, 전극 전도도 테스트 방법
- TS 2452-1976 전자 튜브 및 전자 밸브의 전기적 성능 테스트. 파트 12: 전극 저항, 상호 컨덕턴스, 증폭 인자, 오디오 저항 및 가변 주파수 상호 컨덕턴스에 대한 테스트 방법
Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, 전극 전도도 테스트 방법
Standard Association of Australia (SAA), 전극 전도도 테스트 방법
FI-SFS, 전극 전도도 테스트 방법
NZ-SNZ, 전극 전도도 테스트 방법
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 전극 전도도 테스트 방법
Association Standard-China Association for Standardization, 전극 전도도 테스트 방법
YU-JUS, 전극 전도도 테스트 방법
Professional Standard-Ships, 전극 전도도 테스트 방법
ASD-STAN - Aerospace and Defence Industries Association of Europe - Standardization, 전극 전도도 테스트 방법
ES-UNE, 전극 전도도 테스트 방법
European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), 전극 전도도 테스트 방법
VN-TCVN, 전극 전도도 테스트 방법