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결정질 금속 디스프로슘

모두 78항목의 결정질 금속 디스프로슘와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 결정질 금속 디스프로슘와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 비철금속, 항공우주 제조용 재료, 입자 크기 분석, 스크리닝, 화학 제품, 금속 생산, 철강 제품, 금속 재료 테스트, 용접, 브레이징 및 저온 용접, 반도체 개별 장치, 전기 및 전자 테스트, 반도체 소재, 유리, 금속 부식, 절단 도구.


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 결정질 금속 디스프로슘

  • GB/T 15071-2008 디스프로슘 금속
  • GB/T 15071-1994 디스프로슘 금속
  • GB/T 15917.2-1995 금속 디스프로슘 및 산화 디스프로슘의 화학적 분석 방법 유도 결합 플라즈마 광방출 분광법을 이용한 금속 디스프로슘의 구리, 몰리브덴, 니켈 및 티타늄 함량 측정.
  • GB/T 15917.1-1995 금속 디스프로슘 및 산화 디스프로슘의 화학적 분석 방법 방출 분광법에 의한 산화 가돌리늄, 산화 테르븀, 산화 홀뮴, 산화 에르븀 및 산화 이트륨의 양을 측정합니다.
  • GB/T 15917.3-1995 디스프로슘 금속 및 디스프로슘 산화물의 화학적 분석 방법 p-클로로페닐플루오론-세틸트리메틸아민 브로마이드 분광광도법을 통한 탄탈륨 함량 측정.
  • GB/T 6394-2002 금속 평균 입도 결정 방법
  • GB/T 31935-2015 저크롬 페라이트계 스테인리스강의 입계부식에 대한 금속 및 합금의 부식 시험방법
  • GB/T 32571-2016 고크롬 페라이트계 스테인리스강의 입계부식에 대한 금속 및 합금의 부식 시험방법

Professional Standard - Rare Earth, 결정질 금속 디스프로슘

工业和信息化部, 결정질 금속 디스프로슘

Society of Automotive Engineers (SAE), 결정질 금속 디스프로슘

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 결정질 금속 디스프로슘

  • JIS H 7803:2005 금속 결정의 입자 크기 및 입자 크기 결정에 대한 일반 규칙
  • JIS H 7805:2005 X선 회절계를 이용한 금속 결정의 결정립 크기 측정 방법
  • JIS H 7804:2005 전자현미경을 이용한 금속 결정의 입자 크기 측정 방법
  • JIS H 7152:1996 단판시험기를 이용한 비정질 금속의 자기특성 측정방법
  • JIS B 4131:1998 다이아몬드/큐빅 결정 질화붕소 제품 다이아몬드 또는 큐빅 결정 질화붕소 연삭 휠

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 결정질 금속 디스프로슘

American Society for Testing and Materials (ASTM), 결정질 금속 디스프로슘

  • ASTM E82-91(1996) 금속의 결정 방향을 결정하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E82-91(2007) 금속의 결정 방향을 결정하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E82/E82M-14(2019) 금속의 결정 방향을 결정하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E82/E82M-14 금속의 결정 방향을 결정하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E82-09 금속의 결정 방향을 결정하기 위한 표준 테스트 방법

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 결정질 금속 디스프로슘

  • GB/T 39137-2020 내화금속 단결정의 결정배향 측정방법
  • GB/T 4334-2020 오스테나이트 및 페라이트-오스테나이트(이중) 스테인리스강의 입계 부식에 대한 금속 및 합금 부식 시험 방법

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), 결정질 금속 디스프로슘

  • EN 62417:2010 반도체 장치 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)

IN-BIS, 결정질 금속 디스프로슘

  • IS 4570 Pt.11-1989 크리스털 유닛 홀더 사양 11부 금속, 용접, 2핀 크리스털 유닛 홀더 유형 DQ
  • IS 4570 Pt.8-1985 크리스털 유닛 브라켓 사양 제8부 금속, 용접, 3선 크리스털 유닛 브라켓 타입 DK
  • IS 4570 Pt.6-1984 크리스탈 유닛 홀더 사양 6부 금속, 납땜 밀봉, 2바늘 크리스탈 유닛 홀더 유형 CX
  • IS 4570 Pt.7-1985 크리스털 유닛 지원 사양 7부 마이크로, 금속, 납땜 밀봉, 2선 크리스털 유닛 지원 유형 DJ
  • IS 4570 Pt.12-1989 크리스털 유닛 지원 사양 12부 마이크로, 금속, 냉간 용접, 2선 크리스털 유닛 지원 Type EB
  • IS 4570 Pt.13/Sec.5-1993 크리스털 유닛 홀더 - 사양 파트 13 자동 취급 석영 크리스털 유닛 홀더 개요 섹션 5: 금속, 밀봉, 2바늘 크리스털 유닛 홀더 유형 CU 05
  • IS 4570 Pt.13/Sec.4-1993 크리스털 유닛 홀더 - 사양 파트 13 자동 취급 석영 크리스털 유닛 홀더 개요 섹션 4: 금속, 밀봉, 2개의 바늘 크리스털 유닛 홀더 유형 CU 04
  • IS 4570 Pt.13/Sec.3-1993 크리스털 유닛 홀더 - 사양 파트 13 자동 처리된 석영 크리스털 유닛 홀더 개요 섹션 3: 금속, 밀봉, 2개의 바늘 크리스털 유닛 홀더 유형 CU 03
  • IS 4570 Pt.13/Sec.2-1993 크리스털 유닛 홀더 - 사양 파트 13 자동 처리된 석영 크리스털 유닛 홀더 개요 섹션 2: 금속, 밀봉, 2개의 바늘 크리스털 유닛 홀더 유형 CU 02
  • IS 4570 Pt.13/Sec.1-1993 크리스털 유닛 홀더 - 사양 파트 13 자동 처리된 석영 크리스털 유닛 홀더 개요 섹션 1: 금속, 밀봉, 2바늘 크리스털 유닛 홀더 유형 CU 01

Association of German Mechanical Engineers, 결정질 금속 디스프로슘

British Standards Institution (BSI), 결정질 금속 디스프로슘

  • BS EN 62416:2010 반도체 장치 MOS(금속 산화물 반도체) 트랜지스터의 핫 캐리어 테스트
  • BS EN 62373:2006 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)의 기본 온도 안정성 테스트
  • BS EN 62417:2010 반도체 장치 금속 산화물 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)에 대한 마이그레이션 이온 테스트
  • BS IEC 60747-8-4:2004 반도체 개별 장치, 전력 스위칭 장비용 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 결정질 금속 디스프로슘

  • CNS 8104-1981 금속산화물 반도체 전계효과 트랜지스터의 선형 임계전압 테스트 방법
  • CNS 8106-1981 금속산화물 반도체 전계효과 트랜지스터 포화임계전압 시험방법

Group Standards of the People's Republic of China, 결정질 금속 디스프로슘

  • T/CASAS 006-2020 탄화규소 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터의 일반 기술 사양
  • T/CSTM 00190-2020 금속 및 유리-세라믹 복합 라이닝

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 결정질 금속 디스프로슘

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, 결정질 금속 디스프로슘

Standard Association of Australia (SAA), 결정질 금속 디스프로슘

Danish Standards Foundation, 결정질 금속 디스프로슘

  • DS/EN ISO 14341:2011 용접 재료 비합금강 및 세립강의 가스 차폐 금속 아크 용접을 위한 와이어 및 용착 금속 분류
  • DS/EN 62417:2010 반도체 장치의 이동 이온 테스트 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)
  • DS/EN 62373:2006 금속 산화물, 반도체 및 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)의 바이어스 온도 안정성 테스트

IT-UNI, 결정질 금속 디스프로슘

  • UNI EN ISO 14341:2021 용접 재료 비합금강 및 세립강의 가스 차폐 금속 아크 용접을 위한 와이어 및 용착 금속 분류

Association Francaise de Normalisation, 결정질 금속 디스프로슘

  • NF C96-051*NF EN 62373:2006 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)의 기본 온도 안정성 테스트
  • NF EN 62417:2010 반도체 장치 - 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)의 이동 이온 테스트
  • NF EN 62373:2006 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)의 바이어스 온도 안정성 테스트

German Institute for Standardization, 결정질 금속 디스프로슘

  • DIN EN 62373:2007 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)의 기본 온도 안정성 테스트
  • DIN EN 62417:2010-12 반도체 장치의 이동 이온 테스트 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)
  • DIN EN 62373:2007-01 금속 산화물, 반도체 및 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)의 바이어스 온도 안정성 테스트

Defense Logistics Agency, 결정질 금속 디스프로슘

  • DLA SMD-5962-96665 REV D-2005 내방사선성 상보성 금속 산화물 반도체 트랜지스터 대 상보성 금속 산화물 반도체 또는 상보성 금속 산화물 반도체 대 상보성 금속 산화물 반도체 전압 변환 메커니즘, 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-87697 REV C-2006 래치 및 트랜지스터-트랜지스터 논리 회로 호환 입력이 있는 실리콘 모놀리스, 고속 상보형 금속 산화물 반도체, 디지털 마이크로회로

ES-UNE, 결정질 금속 디스프로슘

  • UNE-EN 62417:2010 반도체 장치의 이동 이온 테스트 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)
  • UNE-EN 62373:2006 금속 산화물, 반도체 및 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)의 바이어스 온도 안정성 테스트

RO-ASRO, 결정질 금속 디스프로슘

  • STAS 10026-1975 금속 U자형 및 V자형 노치 충격 시험, 결정화도 및 취성 측정

CZ-CSN, 결정질 금속 디스프로슘

European Committee for Standardization (CEN), 결정질 금속 디스프로슘

  • EN ISO 14341:2020 용접 소모품 비합금 및 세립강 용접의 가스 차폐 금속 아크 용접을 위한 와이어 전극 및 용착 금속.
  • EN ISO 14341:2011 용접 소모품 비합금 및 세립강 용접의 가스 차폐 금속 아크 용접을 위한 와이어 전극 및 용착 금속.

CEN - European Committee for Standardization, 결정질 금속 디스프로슘

  • EN ISO 14341:2008 용접 소모품 비합금 및 세립강 용접의 가스 차폐 금속 아크 용접을 위한 와이어 전극 및 용착 금속.

PL-PKN, 결정질 금속 디스프로슘

  • PN-EN ISO 14341-2021-03 D 용접 소모품 비합금강 및 세립강의 가스 차폐 금속 아크 용접을 위한 용접 와이어 및 용착 금속 분류(ISO 14341:2020)
  • PN-EN ISO 14341-2021-03 E 용접 소모품 비합금강 및 세립강의 가스 차폐 금속 아크 용접을 위한 용접 와이어 및 용착 금속 분류(ISO 14341:2020)




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