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삼상 사이리스터

모두 198항목의 삼상 사이리스터와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 삼상 사이리스터와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 정류기, 변환기, 조정된 전원 공급 장치, 반도체 개별 장치, 전송 및 배전망, 용접, 브레이징 및 저온 용접, 광전자공학, 레이저 장비, 콘덴서, 전자 장비용 기계 부품, 원자력공학, 환경 보호, 쓰레기, 종합 전자 부품, 도로 차량 장치, 회전 모터, 제공하다.

Professional Standard - Machinery, 삼상 사이리스터

• JB/T 7826.3-1996 MTS(MFS) 시리즈 사이리스터 3상 브리지 모듈
• JB/T 7619-1994 양방향 3극 사이리스터 테스트 방법
• JB/T 7626-2013 역 차단 3극 사이리스터 테스트 방법
• JB/T 7626-1994 역 차단 3극 사이리스터 테스트 방법
• JB/T 7826.2-1996 MTQ(MFQ) 시리즈 사이리스터 단상 브리지 모듈
• JB/T 7826.3-1995 MTS(MFS) 시리즈 사이리스터 단상 브리지 모듈
• JB/T 7826.2-1995 MTQ(MFQ) 시리즈 사이리스터 단상 브리지 모듈
• JB/T 8454-1996 고주파 사이리스터
• JB/T 4192-1996 트라이액
• JB/T 4193-1997 고속 사이리스터
• JB/T 4193-2013 고속 사이리스터
• JB/T 5838-1991 KP 시리즈 1000A 이상의 쉘 정격 역방향 차단 3극 사이리스터
• JB/T 5839-1991 KH 시리즈 200A 이상의 쉘 정격 역방향 차단 3극 고전압 사이리스터
• JB/T 7628-1994 KN 시리즈 100A/60A~400A/400A 쉘 정격 역전도 3극 사이리스터에 대한 세부 사양
• JB/T 8950.1-1999 전류는 일반 사이리스터 100A 미만입니다.
• JB/T 8950.2-1999 전류는 100A 일반 사이리스터보다 큽니다.
• JB/T 3283-2010 사이리스터 AC 전원 컨트롤러
• JB/T 56228-1994 KP 시리즈 중전류 일반 사이리스터
• JB/T 56229-1994 KP 시리즈 고전류 일반 사이리스터
• JB/T 8758-1998 사이리스터 매개변수 값을 결정하는 기준
• JB/T 7826.1-1995 MT, MF 시리즈 암-사이리스터 모듈
• JB/T 5846-1991 사이리스터 특성곡선 계산 가이드
• JB/T 6324-1992 전기 용접기용 KE 유형 50A ~ 500A 사이리스터
• JB/T 9688-2015 전기 집진기용 사이리스터 제어 고전압 전원 공급 장치
• JB/T 9688-2007 전기 집진기용 사이리스터 제어 고전압 전원 공급 장치
• JB/T 8950.1-2013 일반적인 사이리스터 1부: 볼트 모양 장치
• JB/T 8950.2-2013 일반적인 사이리스터 2부: 평면 패널 장치
• JB/T 7060-1993 과전압 보호용 KB 시리즈 2극 사이리스터
• JB/T 10095-1999 배터리 충전 및 플로트 충전용 사이리스터 정류기
• JB/T 7627-1994 KG5, KG10 및 KG200 케이스 정격 턴오프 사이리스터에 대한 세부 사양
• JB/T 6307.5-1994 전력 반도체 모듈 테스트 방법 바이폴라 트랜지스터 단상 브리지 및 3상 브리지
• JB/T 7625.2-1994 사이리스터 모듈 테스트 방법 암 쌍 및 역평행 암 쌍

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 삼상 사이리스터

• GB/T 15292-1994 사이리스터 테스트 방법 역전도 3극 사이리스터
• GB/T 15293-1994 사이리스터 테스트 방법은 사이리스터를 끌 수 있습니다
• GB/T 13151-2005 반도체 장치 개별 장치 6부, 사이리스터 3부 공백 역 차단을 위한 상세 사양 100A보다 큰 전류, 환경 및 케이스 정격을 갖춘 3극 사이리스터
• GB 13150-1991 100A 이상의 주변 또는 케이스 정격 트라이액에 대한 빈 세부 사양
• GB 13152-1991 5A/5A 이상 환경 또는 쉘 정격 역전도 3극 사이리스터에 대한 빈 세부 사양
• GB 13151-1991 100A 이상 주변 또는 쉘 등급 역 차단 3극 사이리스터에 대한 빈 세부 사양
• GB/T 6590-1998 반도체 장치 개별 장치 6부, 사이리스터 트랜지스터 2부 공백 환경 또는 케이스 등급이 100A 미만인 양방향 3극 사이리스터 트랜지스터에 대한 상세 사양
• GB/T 6352-1998 반도체 장치 개별 장치 6부, 사이리스터 트랜지스터 1부 공백 100A 이하 환경 또는 케이스 정격 역 차단 기능을 갖춘 3극 사이리스터 트랜지스터에 대한 세부 사양
• GB/T 15291-2015 반도체 장치 6부: 사이리스터
• GB/T 15291-1994 반도체 장치 6부 사이리스터
• GB/T 31487.2-2015 DC 얼음 용해 장치 부품 2: 사이리스터 밸브
• GB/Z 30424-2013 고전압 DC 송전용 사이리스터 밸브 설계 지침
• GB/T 20992-2007 고전압 직류 전송용 일반 사이리스터에 대한 일반 요구 사항
• GB/T 21420-2008 고전압 직류 전송용 광제어 사이리스터에 대한 일반 요구 사항
• GB/T 28563-2012 ±800kV UHV DC 전송을 위한 사이리스터 밸브의 전기 테스트
• GB/T 32516-2016 초고전압 등급 제어 가능한 션트 리액터 사이리스터 밸브
• GB/T 13150-2005 100A보다 큰 반도체 장치 개별 장치 전류, 환경 및 케이스 정격 양방향 트라이액 사이리스터 블랭크 세부 사양
• GB/T 20990.1-2007 고전압 직류 전송용 사이리스터 밸브 1부: 전기 테스트
• GB 13153-1991 주변 전압 5A 이상 또는 케이스 정격 턴오프 사이리스터에 대한 빈 세부 사양

RU-GOST R, 삼상 사이리스터

• GOST 19138.3-1985 3극 사이리스터.오프 타임 측정 방법
• GOST 24173-1980 사이리스터 기본 매개변수
• GOST 19138.5-1985 3극 사이리스터 제어 극 켜기, 상승 및 지연 시간 결정 방법
• GOST 19138.1-1985 사이리스터.스위치 온 전압 측정 방법
• GOST 19138.6-1986 사이리스터.전기적 매개변수 결정 방법
• GOST 19138.0-1985 사이리스터 매개변수 측정 방법에 대한 일반 요구 사항
• GOST 20398.6-1974 전계 효과 트랜지스터 - 게이트 누설 전류 측정 방법
• GOST 19138.4-1973 사이리스터 켜기, 상승 및 지연 시간 결정 방법

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 삼상 사이리스터

• KS C 7023-1978 역 차단 3극 사이리스터 테스트 방법
• KS C 7023-1978(2013) 테스트 방법은 역 차단 3극 사이리스터입니다.
• KS C 7023-1986 테스트 방법은 역 차단 3극 사이리스터입니다.
• KS C 5208-2002 신뢰성이 보장된 트라이액(저전류)
• KS C 5208-1980(2000) 신뢰성을 보장하는 양방향 3단자 사이리스터(저전류)
• KS C 5208-1980 신뢰성을 보장하는 양방향 3단자 사이리스터(저전류)
• KS C 5206-1980(2000) 신뢰성 확보 및 역방향 차단 사이리스터(저전류)
• KS C 5206-1980 신뢰성 확보 및 역방향 차단 사이리스터(저전류)
• KS C 9626-2004 저항용접기 사이리스터
• KS C 9626-2004(2009) 용접기 사이리스터 스택
• KS C 9626-1985 용접기 사이리스터 스택
• KS C 5206-2002 신뢰성이 보장된 역 차단 삼극관 사이리스터(저전류)
• KS C 5209-2002 신뢰성이 보장된 트라이액(고전류 및 중전류)
• KS C 9626-2014 저항용접기용 사이리스터군
• KS C IEC 60747-6-3-2006(2021) 반도체 장치 개별 장치 6부: 사이리스터 섹션 3: 전류가 100A를 초과하고 인클로저 정격 역방향 차단 3극 사이리스터 빈 세부 사양
• KS C IEC 60747-6-3-2006(2016) 반도체 장치 개별 장치 6부: 사이리스터 섹션 3: 전류가 100A를 초과하고 인클로저 정격 역방향 차단 3극 사이리스터 빈 세부 사양
• KS C 5207-2002 신뢰성이 보장된 역 차단 3극관 사이리스터(고전류 및 중간 전류)
• KS C IEC 60747-6-2-2006(2021) 반도체 장치 개별 장치 부품 6: 사이리스터 섹션 2: 주변 또는 인클로저 정격 양방향 트라이액 트라이액 블랭크 100A 이하의 세부 사양
• KS C IEC 60747-6-2-2006(2016) 반도체 장치 개별 장치 파트 6: 사이리스터 섹션 2: 100A 이하 환경 또는 케이스 정격 양방향 삼극 사이리스터 블랭크 상세 사양
• KS C IEC 60747-6-1-2006(2021) 반도체 장치 개별 장치 부품 6: 사이리스터 섹션 1: 환경 또는 인클로저 등급 역 차단 100A 미만의 3극 사이리스터 공백 상세 사양
• KS C IEC 60747-6-1-2006(2016) 반도체 장치 개별 장치 부품 6: 사이리스터 섹션 1: 100A 이하 주변 또는 인클로저 등급 역 차단 3극 사이리스터 공백 상세 사양
• KS C IEC 60747-6:2006 반도체 장치 6부: 사이리스터
• KS C IEC 60747-6-2:2006 반도체 장치 개별 장치 파트 6: 사이리스터 섹션 2: 양방향 3극 사이리스터(3극 트라이액), 최대 전류 100A 빈 세부 사양
• KS C IEC 60747-6-1:2006 반도체 장치 개별 장치 6부: 사이리스터 섹션 1: 정격 환경 및 인클로저에서 최대 100A의 전류에 대한 역 차단 3극 사이리스터 트랜지스터에 대한 빈 세부 사양입니다.
• KS C IEC 60747-6-3:2006 반도체 장치 개별 장치 파트 6: 사이리스터 섹션 3: 최대 100A의 전류 정격 및 인클로저에 대한 역 차단 3극 사이리스터 트랜지스터에 대한 빈 세부 사양입니다.
• KS C IEC 60747-6-2006(2016) 반도체 장치 개별 장치 6부: 사이리스터
• KS C IEC 60747-6:2021 반도체 장치 6부: 개별 장치 사이리스터

机械工业部, 삼상 사이리스터

• JB/T 7625.1-1994 사이리스터 모듈 암 쌍 및 역평행 암 쌍에 대한 일반 테스트 방법 단상 브리지 및 3상 브리지
• JB/T 7625.3-1994 사이리스터 모듈에 대한 일반적인 테스트 방법 암 쌍 및 역평행 암 쌍의 경우 단상 브리지 및 3상 브리지에 대한 8을 참조하세요.
• JB 6324-1992 전기 용접기용 KE 유형 50A ~ 500A 사이리스터
• JB/T 8174-1995 DC 모터 속도 조절용 사이리스터 전력 변환기

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 삼상 사이리스터

• GB/T 37405-2019 고전압 사이리스터 위상 제어 전압 조정 소프트 스타트 장치
• GB/T 36559-2018 고전압 직류 송전용 사이리스터 밸브
• GB/T 20995-2020 정적 무효전력 보상장치용 사이리스터 밸브 시험
• GB/T 20990.1-2020 고전압 직류 전송용 사이리스터 밸브 1부: 전기 테스트

Defense Logistics Agency, 삼상 사이리스터

• DLA MIL-S-19500/438 VALID NOTICE 4-2011 반도체 장치, 3극 사이리스터(양방향), 실리콘, 유형 2N5806 ~ 2N5809
• DLA MIL-PRF-19500/198 E-2008 2N1870A2, N1871A, 2N1872A 및 2N1874A, JAN 유형 사이리스터 반도체 장치

British Standards Institution (BSI), 삼상 사이리스터

• BS EN 62823:2015 사이리스터 제어 직렬 커패시터(TCSC)용 사이리스터 밸브 전기 테스트
• BS EN 62823:2015+A1:2020 사이리스터 제어 직렬 커패시터(TCSC)용 사이리스터 밸브의 전기 테스트
• BS EN 61954:2011 SVC(Static Var Compensator). 사이리스터 밸브 테스트
• BS EN 61954:2011+A1:2013 SVC(Static Var Compensator). 사이리스터 밸브 테스트
• BS EN 60700-2:2016 고전압 직류(HVDC) 전송용 사이리스터 밸브입니다.
• BS EN 61954:2011+A2:2017 SVC(Static Var Compensator) 사이리스터 밸브 테스트
• BS EN IEC 61954:2021 SVC(Static Var Compensator) 사이리스터 밸브 테스트
• BS IEC 60747-6:2016 반도체 장치 6부: 개별 장치 - 사이리스터
• BS EN 60700-2:2016+A1:2021 고전압 직류(HVDC) 전력 전송을 위한 사이리스터 밸브 용어

Association Francaise de Normalisation, 삼상 사이리스터

• NF C53-823*NF EN 62823:2016 사이리스터 제어 직렬 커패시터(TCSC)를 사용한 사이리스터 밸브의 전기 테스트
• NF C53-823/A1*NF EN 62823/A1:2020 사이리스터 제어 직렬 커패시터(TCSC)를 사용한 사이리스터 밸브의 전기 테스트
• NF EN 62823/A1:2020 직렬 사이리스터 제어 커패시터(CSCT)용 사이리스터 밸브 - 전기 테스트
• NF EN 62823:2016 직렬 사이리스터 제어 커패시터(CSCT)용 사이리스터 밸브 - 전기 테스트
• NF C96-822:1981 반도체소자 고전력 사이리스터
• NF C53-254/A2*NF EN 61954/A2:2017 정적 VAR 보상기(SVC) 사이리스터 밸브 테스트
• NF C53-254*NF EN IEC 61954:2021 정적 VAR 보상기(SVC) 사이리스터 밸브 테스트
• NF C53-254/A1*NF EN 61954/A1:2014 정적 변수 보상 장치(SVC) 사이리스터 밸브 테스트
• NF C53-254*NF EN 61954:2012 정적 변수 보상 장치(SVC) - 사이리스터 밸브 테스트
• NF EN IEC 61954:2021 SVC(정적 가변 보상기) - 사이리스터 밸브 테스트
• NF C53-700-2*NF EN 60700-2:2017 고전압 직류(HVDC) 전송용 사이리스터 밸브 2부: 용어
• NF C53-700-2/A1*NF EN 60700-2/A1:2021 고전압 직류(HVDC) 전송용 사이리스터 밸브 2부: 용어

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 삼상 사이리스터

• EN 62823:2015 사이리스터 제어 직렬 커패시터(TCSC)를 사용한 사이리스터 밸브의 전기 테스트
• EN 60700-2:2016 고전압 직류(HVDC) 전송용 사이리스터 밸브 2부: 용어

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 삼상 사이리스터

• JEDEC EIA-397-1972 사이리스터에 대한 권장 표준
• JEDEC EIA-397-1-1980 사이리스터에 대한 권장 표준 1980년 9월 수정

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., 삼상 사이리스터

• IEEE 223-1996 사이리스터 용어 정의
• IEEE C62.37.1-2000 사이리스터 서지 보호기 애플리케이션 가이드
• IEEE C62.37.1-2012 사이리스터 서지 보호기 부품 적용 가이드
• IEEE C62.37-1996 사이리스터 다이오드 서지 보호기에 대한 표준 테스트 사양
• IEEE C62.37 ERTA-2009 사이리스터 다이오드 서지 보호기에 대한 IEEE 표준 테스트 사양 정오표
• IEEE 1534-2009 사이리스터 제어 직렬 커패시터 지정을 위한 권장 사례
• IEEE 1534-2002 사이리스터 제어 직렬 커패시터 지정을 위한 권장 사례
• IEEE 428-1981 사이리스터 AC 전원 컨트롤러에 대한 표준 정의 및 요구 사항

YU-JUS, 삼상 사이리스터

• JUS N.R1.621-1983 트라이액(트라이액). 측정 방법

ES-UNE, 삼상 사이리스터

• UNE-EN 62823:2015/A1:2020 사이리스터 제어 직렬 커패시터(TCSC)용 사이리스터 밸브의 전기 테스트
• UNE-EN 62823:2015 사이리스터 제어 직렬 커패시터(TCSC)용 사이리스터 밸브의 전기 테스트
• UNE-EN 61954:2011 정적 VAR 보상기(SVC) 사이리스터 밸브 테스트
• UNE-EN 61954:2011/A2:2017 정적 VAR 보상기(SVC) 사이리스터 밸브 테스트
• UNE-EN IEC 61954:2021 SVC(Static Var Compensator) 사이리스터 밸브 테스트
• UNE-EN 61954:2011/A1:2013 SVC(Static Var Compensator) 사이리스터 밸브 테스트

International Electrotechnical Commission (IEC), 삼상 사이리스터

• IEC 62823:2015 사이리스터 제어 직렬 커패시터(TCSC)용 사이리스터 밸브 전기 테스트
• IEC 60747-6:2016 반도체 장치 - 부품 6: 사이리스터
• IEC 60747-6-2:1991 반도체 장치 개별 장치 부품 6: 사이리스터 섹션 2: 최대 100A의 주변 또는 인클로저 정격 전류를 위한 양방향 3극 사이리스터 트랜지스터 공백 상세 사양
• IEC 61954:2017 SVC(Static Var Compensator) 사이리스터 밸브 테스트
• IEC 61954:2021 SVC(Static Var Compensator) 사이리스터 밸브 테스트
• IEC 60747-6-3:1993 반도체 장치 개별 장치 6부: 사이리스터 섹션 3: 100A 이상의 환경 및 인클로저에 정격된 역방향 차단 3극 사이리스터 트랜지스터에 대한 빈 세부 사양
• IEC 60747-6-1:1989 반도체 장치 개별 장치 6부: 사이리스터 섹션 1: 주변 전류 및 최대 100A의 케이스 전류 정격을 역으로 차단하는 3극 사이리스터 트랜지스터에 대한 빈 세부 사양
• IEC 61954:2013 SVC(Static Var Compensator) 사이리스터 밸브 테스트
• IEC 61954:2011 SVC(Static Var Compensator) 사이리스터 밸브 테스트
• IEC 61954:2011+AMD1:2013 CSV SVC(Static Var Compensator) 사이리스터 밸브 테스트
• IEC 61954:2011+AMD1:2013+AMD2:2017 CSV SVC(Static Var Compensator) 사이리스터 밸브 테스트
• IEC 61954:2021 RLV SVC(Static Var Compensator) 사이리스터 밸브 테스트
• IEC 60747-6:1983 반도체 장치, 개별 장치, 1부: 사이리스터
• IEC 60700-2:2016/AMD1:2021 고전압 직류 송전용 사이리스터 밸브 제2부: 용어
• IEC 62823:2015/AMD1:2019 제어 직렬 커패시터(TCSC)용 사이리스터 밸브 전기 테스트
• IEC 62823:2015+AMD1:2019 CSV 제어 직렬 커패시터(TCSC)용 사이리스터 밸브 전기 테스트
• IEC 60700-2:2016+AMD1:2021 CSV 고전압 직류 송전용 사이리스터 밸브 제2부: 용어

IN-BIS, 삼상 사이리스터

• IS 4400 Pt.7-1971 반도체 소자 측정 방법 Ⅶ 역 차단 삼극관 사이리스터
• IS 3700 Pt.7-1970 반도체 소자의 기본정격 및 특성 Part Ⅶ 역차단 삼극관 및 사이리스터
• IS 3715 Pt.4-1971 반도체 장치의 알파벳 기호 제4부 사이리스터

German Institute for Standardization, 삼상 사이리스터

• DIN 4000-19:1988-12 트랜지스터 및 사이리스터의 제품 특성에 대한 표 레이아웃
• DIN EN 62823:2020 사이리스터 제어 직렬 커패시터(TCSC)가 있는 사이리스터 밸브 전기 테스트(IEC 62823-2015 + A1-2019), 독일 버전 EN 62823-2015 + A1-2020

Professional Standard - Electricity, 삼상 사이리스터

• DL/T 351-2019 사이리스터 컨버터 밸브 유지 관리 안내서
• DL/T 379-2010 저전압 사이리스터 스위칭 필터 장치의 기술 사양

Professional Standard - Nuclear Industry, 삼상 사이리스터

• EJ/T 1242-2017 사이리스터 방사선 공정 기술 요구 사항

TH-TISI, 삼상 사이리스터

• TIS 1973-2000 반도체 장치 개별 장치 6부: 사이리스터 섹션 1: 역방향 차단 트랜지스터 공백 사이리스터, 환경 및 인클로저 등급에 대한 세부 사양, 최대 100A
• TIS 1974-2000 반도체 장치 개별 장치 파트 6: 사이리스터 섹션 2: 양방향 삼극 사이리스터(트라이액)에 대한 빈 세부 사양, 환경 또는 인클로저 등급, 최대 100A
• TIS 1972-2009 반도체 장치 6부: 사이리스터
• TIS 1975-2000 반도체 장치 개별 장치 6부: 사이리스터 섹션 3: 전류가 100A를 초과하는 환경 및 인클로저에 적합한 역방향 차단 3극 사이리스터 트랜지스터에 대한 빈 세부 사양입니다.

IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components, 삼상 사이리스터

• QC 750113-1993 반도체 장비, 개별 장치 6부: 사이리스터 3부 100A보다 큰 전류에 대한 역 차단 삼극관 사이리스터의 환경 및 보호 등급에 대한 빈 세부 사양(IEC 747-6-3 ED 1)
• QC 750111-1991 반도체 장치 개별 장치 부품 6: 사이리스터 부품 2 트라이액 사이리스터(트라이액) 공백 세부 사양 최대 100A 등급의 환경 또는 인클로저(IEC 747-6-2 ED 1)
• QC 750110-1989 반도체 장치 개별 장치 부품 6: 사이리스터 부품 1 역 차단 삼극관 사이리스터 공백 세부 사양 최대 100A의 환경 및 보호 정격(IEC 747-6-1 ED 1)

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 삼상 사이리스터

• IEEE Std C62.37.1-2000 사이리스터 서지 보호기 애플리케이션을 위한 IEEE 가이드
• IEEE Std 857-1990 HVDC 사이리스터 밸브 테스트 절차에 대한 IEEE 가이드
• IEEE Std C62.37.1-2012 사이리스터 서지 보호기 부품의 응용을 위한 IEEE 가이드
• IEEE 597-1983 범용 사이리스터 DC 드라이브 규정 및 요구 사항
• IEEE Std 857-1996 고전압 DC 사이리스터 밸브 테스트 절차에 대한 IEEE 권장 사례
• IEEE PC62.37.1/D2, May 2012 사이리스터 서지 보호기 부품 애플리케이션에 대한 IEEE 초안 지침
• IEEE PC62.37.1/D3, August 2012 사이리스터 서지 보호기 부품 애플리케이션에 대한 IEEE 초안 지침

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 삼상 사이리스터

• EN 150011:1991 공백 상세 사양: 케이스 정격 사이리스터
• EN 150010:1991 공백 상세 사양: 환경 등급 사이리스터
• EN 150014:1996 공백 상세 사양: 사이리스터 다이오드 과도 과전압 억제기

Professional Standard - Electron, 삼상 사이리스터

• SJ/T 10959-1996 전자 부품 상세 사양 3CT315 케이스 정격 애벌런치 3극 사이리스터(인증 가능)
• SJ/T 10958-1996 전자부품 상세사양 3CT320형 케이스 정격 역방향 차단 3극 사이리스터(인증가능)

SE-SIS, 삼상 사이리스터

• SIS SS CECC 50011-1983 자세한 사양은 공백입니다. 케이스 등급 사이리스터
• SIS SS CECC 50010-1983 자세한 사양은 공백입니다. 환경적으로 평가된 사이리스터

Professional Standard - Urban Construction, 삼상 사이리스터

• CJ/T 5003-1992 무궤도 전차 사이리스터 초퍼에 대한 기술 요구 사항

Danish Standards Foundation, 삼상 사이리스터

• DS/EN 61954:2011 정적 VAR 보상기(SVC) 사이리스터 밸브 테스트
• DS/EN 61954/A1:2013 정적 VAR 보상기(SVC) 사이리스터 밸브 테스트
• DS/IEC 747-6-1:1990 반도체 장치 개별 장치 6부: 사이리스터 섹션 1: 정격 환경 및 인클로저에서 최대 100A의 전류에 대한 역 차단 3극 사이리스터 트랜지스터에 대한 빈 세부 사양입니다.
• DS/EN 60700-2:2021 고전압 직류(HVDC) 전송용 사이리스터 밸브 2부: 용어

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 삼상 사이리스터

• DB31/ 43-1990 KTZ-사이리스터 에너지 소비 제동 AC 전원 스위치

PL-PKN, 삼상 사이리스터

• PN T01505 ArkusZ02-1974 전계 효과 트랜지스터. 측정 방법. 게이트 소스 임계 전압. 게이트 소스 임계 전압
• PN T01505 ArkusZ01-1974 전계 효과. 트랜지스터. 측정 방법. 게이트 소스가 차단되었습니다. 전압값

Lithuanian Standards Office , 삼상 사이리스터

• LST EN 61954-2011 정적 VAR 보상기(SVC) 사이리스터 밸브 테스트(IEC 61954:2011)

KR-KS, 삼상 사이리스터

• KS C IEC 60747-6-2021 반도체 장치 6부: 개별 장치 사이리스터

CZ-CSN, 삼상 사이리스터

• CSN 35 1702-1984 완전한 사이리스터 AC 드라이브. 일반적인 기술 조건
• CSN 35 1703-1984 완전한 사이리스터 DC 드라이브. 일반 기술 요구 사항

IEC - International Electrotechnical Commission, 삼상 사이리스터

• IEC 60411-1:1975 전기 견인 전력 변환기 1부: 사이리스터를 사용하는 단상 전력 변환기(버전 1.0)

Group Standards of the People's Republic of China, 삼상 사이리스터

• T/CAPEC 18-2020 전력 산업의 사이리스터 컨버터 밸브 제조 감독을 위한 기술 요구 사항
• T/CASAS 022-2022 3상 스마트 계량기용 질화갈륨 전계 효과 트랜지스터에 대한 일반 기술 사양

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 삼상 사이리스터

• GJB 33/009-1989 반도체 개별 소자 사이리스터에 대한 빈 세부 사양

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