ZH
EN
JP
ES
RU
DE추적 + 유동점
모두 51항목의 추적 + 유동점와 관련된 표준이 있다.
국제 분류에서 추적 + 유동점와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 석유제품 종합, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 통신 시스템, 의료 장비, 발전소 종합, 비파괴 검사, 분석 화학, 생물학, 식물학, 동물학, 금속 재료 테스트, 플라스틱, 반도체 소재, 유기화학, 살충제 및 기타 농약, 미생물학, 곡물, 콩류 및 그 제품, 차, 커피, 코코아, 설탕, 설탕제품, 전분, 초콜릿, 과일, 야채 및 그 제품, 육류, 육류 제품 및 기타 동물성 식품, 건축 자재, 문서 이미징 기술, 연료.
American Society for Testing and Materials (ASTM), 추적 + 유동점
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 추적 + 유동점
American National Standards Institute (ANSI), 추적 + 유동점
Professional Standard - Post and Telecommunication, 추적 + 유동점
CZ-CSN, 추적 + 유동점
Professional Standard - Electricity, 추적 + 유동점
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 추적 + 유동점
HU-MSZT, 추적 + 유동점
German Institute for Standardization, 추적 + 유동점
Jiangxi Provincial Standard of the People's Republic of China, 추적 + 유동점
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 추적 + 유동점
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 추적 + 유동점
KR-KS, 추적 + 유동점
Association Francaise de Normalisation, 추적 + 유동점
British Standards Institution (BSI), 추적 + 유동점
- BS ISO 22489:2007 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
- BS ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
- BS ISO 21222:2020 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 원자간력 현미경과 2점 JKR 방법을 사용하여 규격 재료의 탄성 계수를 결정하는 절차
- BS EN 12543-5:1999 비파괴 검사 비파괴 검사를 위한 산업용 X선 시스템의 초점 특성 소형 및 마이크로 초점 X선 튜브의 유효 초점 크기 측정
- 19/30351707 DC BS ISO 21222 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 원자력 현미경 및 2점 JKR 방법을 사용하여 규정 준수 재료의 탄성 계수 결정을 위한 절차
International Organization for Standardization (ISO), 추적 + 유동점
- ISO 17470:2004 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 질량점 분석 안내
- ISO 17470:2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 정성적 점 분석 안내
- ISO 21222:2020 표면 화학 분석 주사 탐침 현미경 원자간력 현미경과 2점 JKR 방법을 사용하여 규격 재료의 탄성 계수를 결정하는 절차.
Group Standards of the People's Republic of China, 추적 + 유동점
FI-SFS, 추적 + 유동점
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 추적 + 유동점
RU-GOST R, 추적 + 유동점
江西省市场监督管理局, 추적 + 유동점
Lithuanian Standards Office , 추적 + 유동점
SE-SIS, 추적 + 유동점
PL-PKN, 추적 + 유동점
ES-AENOR, 추적 + 유동점