ZH
EN
ES
калибровка пика xps
калибровка пика xps, Всего: 7 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к калибровка пика xps, являются: Аналитическая химия.
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, калибровка пика xps
- JJF(机械) 042-2008 Спецификация калибровки пикового вольтметра промышленной частоты
- JJF(机械) 064-2009 Характеристики калибровки измерителя пикового тока FBD
- JJF(机械) 040-2008 Спецификация для калибровки пиковых вольтметров для импульсных измерений
American Society for Testing and Materials (ASTM), калибровка пика xps
- ASTM E2735-13 Стандартное руководство по выбору калибровок, необходимых для экспериментов по рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
International Organization for Standardization (ISO), калибровка пика xps
- ISO/CD 5861 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Метод калибровки интенсивности для монохроматированных кварцевых приборов Al Kα XPS.
- ISO/DIS 5861:2023 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Метод калибровки интенсивности для монохроматированных кварцевых приборов Al Kα XPS.
British Standards Institution (BSI), калибровка пика xps
- BS ISO 16531:2013 Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для определения профиля глубины в AES и XPS.