20160721 AFM在二维材料研究中的应用

【内容简介】

新型二维材料自2004年石墨烯被发现以来，探寻其他新型二维晶体材料一直是二维材料研究领域的前沿。正如石墨烯一样，大尺寸高质量的其他二维晶体不仅对于探索二维极限下新的物理现象和性能非常重要，而且在电子、光电子等领域具有诸多新奇的应用。原子力显微镜(AFM)一直被广泛用于二维材料的形态和厚度表征。

由布鲁克公司独有的专利PeakForce tapping技术支撑，AFM不仅可以获得二维材料的原子分辨率的图像,也可以同时映射出多维物理属性,包括机械性能(模量、附着力和变形等)和电学性质(表面电位、导电性和压电响应等)。强大的AFM-Raman或AFM-IR技术，结合PeakForce QNM，能够更完善和定量描述二维材料。本次网络讲座将为大家介绍AFM在二维材料应用研究上的最新进展。

【主讲人简介】

陈苇纲，布鲁克(北京)科技有限公司应用科学家。2013年加入布鲁克公司任上海实验室的技术支持，主要负责原子力显微镜在材料，物理，生物及化学等各个研究领域的应用。

教育背景：本科毕业于南京大学材料化学专业，博士毕业于新加坡南洋理工大学材料科学与工程学院。博士期间主要从事利用激光溅射沉积发制备无铅多铁材料BiFeO3的单晶外延薄膜，研究稀土元素掺杂对其结构，通过PFM，CAFM及MFM等模式来进行铁电压电性能，导电以及磁学性能的表征。

小金小田小白