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【会议内容】
X射线光电子能谱仪(XPS)为当前最重要的表面分析技术。该技术基于光电效应,采用X射线激发被测样品表面纳米尺度内的原子发射光电子,通过系统探测到所发射光电子的动能等信息,进而实现样品表面的元素种类及化合态的定性和定量的分析。XPS广泛应用于催化、化工、半导体、微电子、薄膜、太阳能、高分子聚合物、陶瓷、钢铁、金属、生物材料、纳米技术等等领域。
赛默飞世尔科技表面分析产品多功能数字化X射线光电子能谱仪ESCALAB 250Xi,是2009年11月推出的ESCALAB系列中最新的产品,结合了高灵敏度与高分辨率定量成像,以及多种测试技术(如AES、UPS、 ISS、REELS),可为高水平科研用户(高校、研究所、企业研发中心)的快速的表面分析综合测试需求。满足从事表面,薄膜和界面的常规表征工作,乃至前沿表面化学研发的要求,提高测试效率和研发实力。
【时间】2012年3月21日(周三) 14:30
【演讲人】赛默飞世尔科技表面分析产品部 许逾群先生
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