20170303 AFM图像离线分析

【内容简介】

原子力显微镜(AFM)被广泛用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，细胞表面形态观察，生物大分子的结构及性质，生物传感器，分子自组装结构等领域的监测等各类科研和生产工作。本次讲座我们将重点介绍采用Bruker NanoScope Analysis离线处理软件对所获取的 AFM图像进行后期处理以及数据分析。

本次讲座的内容主要包括： 1、介绍NanoScope Analysis软件中图像处理类功能的原理以及使用方法，包括Flatten, Erase, Plane Fit, Lowpass等。 2、介绍NanoScope Analysis软件中数据分析类的功能，包括Section, Roughness, Step, Particle Analysis等。

【主讲人简介】

殷 豪，1981年出生，男，博士，布鲁克高级技术支持工程师，客户培训讲师。2010年毕业于中国科学院上海技术物理研究所，获得理学博士学位。博士期间主 要从事基于原子力显微镜(AFM)的III-V族半导体纳米电子学研究;毕业后主要从事AFM相关的软硬件技术支持，以及售后应用支持;具有长达9年的 AFM技术经验。

小金小田小白