20140423 布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座第二讲：
如何合理选择AFM探针获取高分辨图像

【内容简介】

AFM被广泛用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，细胞表面形态观察，生物大分子的结构及性质，生物传感器，分子自组装结构等领域的监测等各类科研和生产工作。 通过布鲁克2014年原子力显微镜测量技术一系列讲座，大家已经对AFM的基本原理及成像模式， AFM技术的发展进展，及其最新最先进的应用和功能，有了基本的了解。

在2014年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座的第二讲，将重点介绍探针的基本信息以及如果合理选择AFM探针。在AFM的测量以及数据分析过程中，探针有着举足轻重的作用。合理选择探针，可以帮助操作者快速高效地获得高质量的实验数据。帮助AFM用户掌握获得高品质图像，获取实验数据的技巧;为用户更深入的研究工作打下良好的基础。

第一部分介绍探针的基本信息，包括外观形状，制作材料和工艺等。

第二部分介绍Bruker探针的编号规则，以及按照材料和用途来划分的Bruker六大探针类型。

第三部分将按照不同AFM应用模式对探针进行分类，介绍相对应的常用探针型号。

最后将介绍如何从Bruker的探针网站以及探针手册上获得详细的探针信息，帮助广大用户快速购买和获取最合适的 AFM探针。

【主讲人简介】

陈苇纲博士本科就读于南京大学材料系材料化学专业。博士毕业于新加坡南洋理工大学材料科学与工程学院。

在加入Bruker之前，陈苇纲博士在南洋理工大学的“感应器与促动器”实验室工作了18个月，现任布鲁克纳米表面仪器部中国区应用科学家。

小白小田小金