在扫描电子显微镜 (SEM) 上连接inLux™ SEM-拉曼联用接口，便可实现同时执行SEM成像和拉曼成像。充分利用inLux接口获取化学和结构信息，不仅有助于深入了解样品，而且可帮助解决科研和材料科学难题。

创新型inLux SEM-拉曼联用接口，可在您的扫描电子显微镜 (SEM) 样品室中集成高性能的拉曼分析能力。在执行SEM成像的同时，您还可以采集拉曼光谱并生成2D和3D图像。在SEM成像模式和拉曼数据采集模式之间切换时，样品将保持固定不动，因此在比较拉曼图像和SEM图像时，您可以确信精确的共点定位。

inLux接口提供各种拉曼分析功能。您可以从单点或多点采集光谱，也可以生成2D和3D共焦拉曼图像。inLux接口的配置齐全，标配支持所有这些操作，用户能够分析样品上体积超过0.5 mm x 0.5 mm x 0.5 mm的区域。它完全由光栅进行位置控制，精度达到50 nm，可确保生成精确的拉曼图像。

主要优点：

①信息详实 — 在执行SEM成像的同时，共点执行拉曼、光致发光 (PL) 和阴极荧光 (CL) 光谱分析。

②通用 — inLux接口可以安装在不同制造商的各种SEM机型上，可适应各种尺寸的样品室，而且无需对SEM进行任何修改。

③无损 — inLux的探头只需单击就能完全缩回。这样可确保探头在不使用时不会干扰SEM的其他功能或工作流程。

④测定分布 — 标配共焦拉曼成像功能，可轻松测量分布不均匀的样品。

⑤观察样品 — 具有大面积光学成像和拼图功能，方便用户直观地观察样品并定位所关注的区域。

⑥配置多样 — 支持多达两种不同的激光激发波长，另有一个可选的CL模块。

⑦自动化 — 只需一键切换激光波长，便可对复杂样品进行拉曼分析。

连接多款雷尼绍拉曼系统：

inLux接口可与雷尼绍的研究级拉曼光谱仪和软件配合使用。它不仅具有全面的数据处理和分析能力，而且直观易用。从工业污染鉴别到学术研究，inLux接口有助于充分发挥SEM的性能。