飞纳台式扫描电镜 Phenom X 断面观测插件

可以用微电子器件插件和断面插件来扩展金相样品杯和降低荷电金相样品杯的功能。这类插件的设计，是为了更方便地在飞纳台式 扫描电镜(SEM)上观察特定种类的样品。借助插件样品也大幅提高了观察效率。