CT或SEN(B)试样由于裂纹生长而导致电阻增大,当恒定电流通过试样,DC PD测量电压的变化。DC PD有两种模式:直流压降和反直流压降。双极性电流的目的是......
CT或SEN(B)试样由于裂纹生长而导致电阻增大,当恒定电流通过试样,DC PD测量电压的变化。DC PD有两种模式:直流压降和反直流压降。双极性电流的目的是......
CT或SEN(B)试样由于裂纹生长而导致电阻增大,当恒定电流通过试样,DC PD测量电压的变化。DC PD有两种模式:直流压降和反直流压降。双极性电流的目的是......
CT或SEN(B)试样由于裂纹生长而导致电阻增大,当恒定电流通过试样,DC PD测量电压的变化。DC PD有两种模式:直流压降和反直流压降。双极性电流的目的是消......
CT或SEN(B)试样由于裂纹生长而导致电阻增大,当恒定电流通过试样,DC PD测量电压的变化。DC PD有两种模式:直流压降和反直流压降。双极性电流的目的是......
CT或SEN(B)试样由于裂纹生长而导致电阻增大,当恒定电流通过试样,DC PD测量电压的变化。DC PD有两种模式:直流压降和反直流压降。双极性电流的目的是......