原子力显微镜

原子力显微镜（AFM）或扫描探针（SPM）技术，是测量表面形貌或表面微小作用力准确有效的技术。位于悬臂梁末端的探针与试样表面接触，并对试样表面进行数字化扫描。通过这种技术，我们可以得到试样表面的超高分辨率三维形貌。这项技术特别适用于残留划痕、压痕以及其他纳米尺度表面特征形貌的高分辨率成像。

瑞士CSM仪器公司三十年来致力于为全球材料、物理、机械工作者提供先进、精准、全面的材料机械性质测试仪器、分析咨询以及测试服务。我们的主要产品包括：
测量材料硬度和弹性模量的纳米级、微米级仪器化压入测试仪（纳米压痕仪, 显微压痕仪）；
界定膜基结合强度、薄膜抗划擦能力的纳米级、微米级、大载荷划痕测试仪 (Scratch tester) ；
包括真空、高温以及线性往复运动等选项的摩擦磨损测试仪、纳米摩擦仪 (摩擦磨损试验机 ；
zei简便易用的膜厚测试仪；
用于三维成像表征材料表面形貌的原子力显微镜 (AFM) 和白光共聚焦显微镜 (Confocal Microscope) 。

特点
光学显微镜与原子力显微镜的结合使表面量化分析成为可能
光学显微镜可将表面细节放大到具有亚纳米尺寸分辨率的图像
微米与纳米结构的分析
临界尺寸(CD)的测量
对腐蚀结构与粗糙度的测量分析
薄膜表面轮廓分析
弱光学对比度表面测量
生物材料及其他材料表面研究领域的应用
选件
非接触扫描模式
摩擦力扫描模式
磁性力扫描模式
脉冲力扫描模式
静电力扫描模式
热扫描模式
电导显微镜
液体介质测量模块

原子力显微镜信息由瑞士CSM仪器股份有限公司北京代表处为您提供，如您想了解更多关于原子力显微镜报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途