技术参数：

  10 µm 的 X 射线高强度、高速度的扫描分析。

    样品可以置于大气中分析，的真空探针方式。

  同轴观察，可以从摄像系统中选取所需的测量点，单键控制，放大倍数可至 100 倍。

  可以对物质表面和内部构造同时进行分析。

  主要应用：WEEE/RoHS 法令中涉及的产品有害元素的测定、珠宝首饰的成份检测、电子电路板的微区分析、考古或博物馆中对古物的分析

  同时也满足科研院校在常规元素检测方面的要求

    可进行样品内部从Na~ U的元素进行定性、定量分析
2、X射线透射成像，可观察样品内部细微构造
3、多点自动分析，一次可测99点
4、能做小至10μm的微区
5、两种X射线聚焦导管快速切换，可选1.2mm和10μm或100μm
6、X射线与可见光同轴设计，真正做到准确定位测试部位，见即所得。
7、高纯硅检测器，保证高稳定性及良好的性能

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途