EDX3600K X荧光光谱仪天瑞仪器 EDX3600K

X荧光光谱仪是一种先进的分析检测仪器，随着半导体微电子技术和计算机技术的快速发展，传统的化学精密机械电子学结构、实验室内人工操作应用模式已经转化成光、机、电、算一体化、自动化的结构，并朝着智能化、小型化、在线化及仪器联用方向发展。我公司根据已掌握的成熟的台式X荧光光谱仪技术，并结合国外相关新的技术发展成果，研制出了具有自主知识产权的EDX 3600K型X荧光光谱仪。
EDX 3600KX荧光光谱仪的主要亮点在于它大铍窗超薄口的高分辨SDD探测器和自旋式的样品腔。产品已通过了江苏省计量科学研究院的检测，并获得中国仪器仪表学会分析仪器分会组织的科技成果鉴定，技术达到国际先进水平。
该设备专为粉末冶炼行业研发，主要应用在水泥冶炼、钢铁冶炼、矿冶炼（铜矿、铅矿等）、铝冶炼、玻璃制造、耐火材料分析、各种粉末冶金分析行业、石油勘探录井分析领域，同时也在地质、矿样、冶金、稀土材料、环境监测、有色金属、食品、农业等科研院所、大专院校和工矿企业中得到广泛应用。
该设备具有超低能量分辨率，采用大面积铍窗电致冷SDD探测器，探测器分辨率低到139eV，各项指标优于国家标准。 SDD探测器能够对Si、S、Al等轻元素进行测试，具有很好的分析精度。
此外，设备测试精度更高，检出限更低，分析速度更快，一键式智能化操作，强大的自动化功能，强度校正法，完善的光路系统，三重安全防护功能和安全警示系统等。其技术参数、性能优势等详情请参照右侧详细介绍。具备多样的测试模式和无限的自由添加模式，内置强度校正方法，能够校正不同几何状态和结构密度不均匀的样品所造成的偏差。全新的软件界面和内核，采用FP和EC软件组合的方法，适用范围更加广泛。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途