PXS8-Te同轴光体视显微镜
        适用于电子线路板、芯片封装、珠宝鉴定、研相矿本分析、微小精密零件品质控制、装配、公安、银行痕迹对比、教学示范、临床手术样本、农业选种，纺织品检验、养殖业品种优选、病理分析。

PXS8-Te同轴光体视显微镜 主要技术参数:
镜筒：双目，45度倾斜
高眼点大视野目镜：PLAN10X/20 mm
物镜：0.9X-7.4X
变倍比：1：8.2
总放大倍数：9-74X
调焦：粗微动调焦，粗动立杆高度300mm，升降范围105mm
工作距离：102mm
光源:同轴光.

PXS8-Te同轴光体视显微镜 特点：
       PXS8-Te来自美国的品牌，目前国内仅有的高倍立体显微镜，我们采用和国外同步的同轴光技术，以满足对透明封装后的芯片特殊检测标准的使用要求。
品质优良的光学系统使图像更明亮，即使长时间观测眼睛也不会疲劳。
粗微动的调焦首次应用在高倍体视上，使高倍调焦变得更加精准。
多种支架的选配，总能满足复杂工位的操作要求。
还有各种光谱光源的配合，帮助解决碰到的困难。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途