Jeol USA推出新型扫描电子显微镜JSM-IT300HR

　　分析测试百科网讯 近日，Jeol USA推出了一种新的扫描电子显微镜（SEM），其将场致发射扫描仪的性能与Jeol InTouchScope SEM系列的简单性相结合。新的JSM-IT300HR在高亮度，长寿命发射器的任何kV下具有出色的图像保真度。在这个系列中，提供比以往更高的分辨率和放大倍数，IT300HR大大增强了表面形貌和对比度。

JSM-IT300HR

　　坚固的室内样品台和大型腔室可容纳不同形状，尺寸和重量的各种样品，使用户能够在排空室之前，在台架上固定大型，重型和异型物体，并具有清晰的定位。

　　样品室的十二个几何优化的分析端口允许多个检测器，在SEM内部创建虚拟纳米实验室。低真空能力是标准功能，可以对其原生状态下的所有类型样品进行成像和分析。配置Jeol EDS检测器时，可以在SEM软件界面内直接进行快速分析。

　　InTouchScope™系列SEM旨在操作直观，并通过触摸屏界面使用多点触控手势和/或传统的键盘/鼠标和操作面板进行控制。“导航”模式指导新用户的样品到自动状态设置的操作。