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日本电子株式会社(JEOL)
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| 参考报价： | 面议 | 型号： | JIB-4700F |
| 品牌： | 日本电子 | 产地： | 日本 |
| 关注度： | 2476 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 | |
| 电子枪类型 | 冷场发射 | 价格范围 | 500万-700万 |
| 二次电子图象分辨率 | 1.2nm | 放大倍数 | 25-1,000,000 |
| 电子光学 | 无漏磁系统 | 样品台 | 六轴马达驱动 |
| 探测器 | 二次电子探测器、背散射等 |
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仪器简介：
JIB-4700F是集成扫描电镜和聚焦离子束于一身高性能仪器。电子光学系统采用场发射电子枪，对进行实时研磨监控。该仪器又是一个微区观察、样品分析、微区研磨的集合体，应用范围广泛。
技术参数：
FIB 分辨率: 5nm, 30kV
SEM分辨率: 1.2nm, 30kV
气体输入系统 1-3
主要特点：
监控、切割、组装和三维图像重构连续操作
2.离子大束流，最大90nA ，加工速度超快
3.电子大束流，最大200nA，EDS/WDS/EBSD/CL分析效率超高
4.3D观察、3D分析
5.气体注入系统用于刻蚀和沉积
6.zei大装样 150 mm
7.气锁式样品交换
8.六轴全对中样品台
9.多个样品分析接口，如冷台、冷冻传输样品台等
10.可以配合本公司特殊透射电镜样品杆，加工后直接观察透射
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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
