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日本电子JEOL JEM-2200FS 200kV能量过滤场发射透射电镜 镜筒内置式Omega过滤器

参考报价: 面议 型号: JEM-2200FS
品牌: 日本电子 产地: 日本
关注度: 1959 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
仪器种类场发射价格范围2500万-3000万
分辨率0.19nm加速电压最高200kV
电子枪肖特基热场发射放大倍数TEM最高150万倍
样品台五轴马达驱动全对中样品台样品移动范围XY=2mm
最小束斑尺寸0.2nm以下成像透镜系统欧米伽能量过滤成像系统
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AI问答
可以做哪些实验,检测什么? 可以用哪些耗材和试剂?

产品特点

  • JEM-2200FS分析型电子显微镜配备场发射电子枪和Ω型内置式能量过滤器(Omega过滤器)。 利用过滤器的功能,不仅可以进行样品中的元素分析,还能分析化学结合状态,从零损失像和能量过滤像中获得感兴趣的有用信息。

  • 镜筒内置式Omega过滤器

  • 镜筒内置式能量过滤器能获取高精度的能量过滤像及电子能量损失谱,优化设计的过滤器能提供无畸变的过滤像。

  • 控制系统

  • 电子枪、透镜、过滤器等电子光学系统、测角台、抽真空系统等全部由计算机控制。系统的稳定性高,因此能获得稳定的数据

  • 成像系统

  • 采用四级中间镜和两级投影镜的新成像系统,在很大的倍率和相机长度范围,实现了TEM像及衍射花样的磁转角补偿(无磁转角)。

  • 压电陶瓷控制测角台

  • 新的测角台采用了压电陶瓷控制,方便操作原子级的视场搜索。

产品规格

物镜种类*1

极高分辨率
(UHR)型

高分辨率
(HR)型

样品高倾斜
(HT)型

样品冷却
(CR)型

高衬度
(HC)型

分辨率

 点分辨率
晶格分辨率

0.19 nm
0.1 nm

0.23 nm
0.1 nm

0.25 nm
0.1 nm

0.27 nm
0.14 nm

0.31 nm
0.14 nm

能量分辨率

0.8 eV(零损失 FWHM)

加速电压

160 kV,200 kV*2

电子枪

 发射体

ZrO/W(100) 肖特基式

 亮度

≧4×108 A/cm2 ?9?9 sr

 真空度

×10-8 Pa 级

 探针电流

探针直径为1 nm ,在0.5 nA以上

稳定度

 加速电压

≦1×10-6/min

 物镜电流

≦1×10-6/min

 过滤器电流

≦1×10-6/min

物镜

 焦距

1.9 mm

2.3 mm

2.7 mm

2.8 mm

3.9 mm

 球差系数

0.5 mm

1.0 mm

1.4 mm

2.0 mm

3.3 mm

 色差系数

1.1 mm

1.4 mm

1.8 mm

2.1 mm

3.0 mm

 最小焦距步长

1.0 nm

1.4 nm

1.8 nm

2.0 nm

5.2 nm

束斑尺寸

 TEM 模式

2 ~ 5 nm

7 ~30 nm

 EDS 模式

0.5 ~ 2.4 nm

1.0 ~2.4 nm

-

4 ~20 nm

 NBD 模式

0.5 ~ 2.4 nm

1.0 ~2.4 nm

-

-

 CBD 模式

0.5 ~ 2.4 nm

1.0 ~2.4 nm

-

电子束衍射

 衍射角(2α)

1.5 to 20 mrad 以上

-

 取出角

±10 °

-

倍率

 MAG 模式

×2,000 ~ 1,500,000

×2,000 ~ 1,200,000

×1,500 ~ 1,000,000

×1,200 ~ 600,000

 LOW MAG 模式

×50 to1,500

 SA MAG 模式

×10,000 ~ 800,000

×8,000 ~ 600,000

×8,000 ~500,000

×5,000 to 400,000

能量过滤像
有效视场大小

选择10eV时,最终像平面(底片)上直径为80mm
选择2eV时,最终像平面(底片)上直径为25mm

相机长度

 选区电子衍射

150 ~ 1,500mm

200 ~ 2,000 mm

250 ~ 2,500 mm

300 ~ 3,000 mm

EELS 散射

 狭缝上

1.2 μm/eV, 200 kV

 最终像平面

50 ~ 300 μm/eV, 200 kV

样品室

 移动量(XY / Z)

2mm/0.2mm

2mm/0.4mm

2mm/0.4mm

2mm/0.4mm

2mm/0.4mm

 倾斜角(X / Y) *3

±25°/±25°

±35°/±30°

±42°/±30°

±15°/±10°

±38°/±30°

 倾斜角(X)*4

±25°

±80°

±80°

±80°

±80°

EDS*5

 固体角*6

0.13 sr

-

0.09 sr

 取出角

25°

-

20°

    透射电镜使用电子穿透样品成像,实际上入射电子在穿越样品时会与样品发生复杂的相互作用,如果使用全部的透射电子成像,必然在细节上出现假象、失真甚至某些信息被掩盖。JEM-2200FS采用欧米伽能量过滤器,让透过电子穿过欧米伽形状的电磁透镜系统,具有不同电子的能量将被展开,我们可以选择零损失电子成像,还可以专门突出某种原子成像,非常方便。与此同时还可以获得样品的化学结合信息,可谓一举多得。欧米伽能量过滤器技术复杂,加工精度要求极高,目前只有日本电子(JEOL)可以做到。在世界多个领域获得良好应用:

  • 高质量成像

  • 高衬度成像

  • 选择衬度成像

  • 真实的三维重构

  • 高质量衍射信息分享

  • 大视野CBED衍射信息

  • 冷冻电镜


日本电子JEOL JEM-2200FS 200kV能量过滤场发射透射电镜 镜筒内置式Omega过滤器信息由日本电子株式会社(JEOL)为您提供,如您想了解更多关于日本电子JEOL JEM-2200FS 200kV能量过滤场发射透射电镜 镜筒内置式Omega过滤器报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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