蔡司X射线显微镜Xradia 515 Versa

[产品简介]

蔡司X射线显微镜 Xradia 515 Versa，凭借其突破性技术和高分辨率探测器，将 3D X 射线显微镜 ( XRM ) 的性能提升至新的高度，为各种尺寸的样品提供亚微米级成像解决方案。保持先进的大样品高分辨率技术优势的同时，该系统可实现高达500 nm空间分辨率。该产品通过使用更高分辨率的光学元件，实现分辨率的改善和突破。与此同时，该产品还加入了更多的智能的元素，并且具有更广阔的拓展能力。兼容ART3.0高级重构工具箱，利用AI技术提高成像效率或改善成像质量。

此外，Xradia 515 Versa系统还可进行扩展和升级，包括原位接口、4D原位试验平台、迭代重构、自动进样装置、平板探测器等多个拓展模块。结合蔡司Xradia平台的灵活性和稳定性，该产品无与伦比的多功能、多应用领域特点将为您的研究工作快速的提供分析成果。

[产品特点]

ü  三维无损成像

ü  500 nm真实空间分辨率

ü  独特的大工作距离下高分辨率，可实现不同类型、尺寸和类型 样品多尺度成像

ü  吸收、相位衬度成像模式

ü  智能防撞系统，让您的设置更简单、更智能

ü  4D 原位成像能力

ü  可升级、拓展和可靠性

[应用领域]

ü  材料科学，如金属、陶瓷、高分子、混凝土等三维无损分析

ü  生命科学，如微观结构三维成像

ü  地球科学，如地质、油气、矿产、古生物等三维成像

ü  电子和半导体行业，如形貌测量及失效分析

ü  原位力学、变温试验

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途