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X荧光光谱、XRF(波长色散型X荧光光谱仪)
理学
在钛酸钡生产过程中,非常重要指标:钡钛摩尔比,简称钡钛比......
理学
X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线,它包含了被分析样品化学组成的信息,通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析......
理学
Rigaku ZSX Primus III +以很少的标准在各种样品类型中快速定量测定从氧气(O)到铀(U)的主要和次要原子元素。高于光学元件的管道,可靠性更高......
理学
石油焦是原油的减压渣油经焦化装置,在500-550℃下裂解焦化而生产的黑色固体焦炭。从外观上看,石油焦为形状不规则,大小不一的黑色块状(或颗粒),有金属光泽,焦......
理学
理学(Rigaku)公司创建于1950年,是世界上研制和生产X射线科学分析仪器的开拓者之一,其产品涉及粉末衍射、单晶衍射、应力分析、结构解析、半导体缺陷、电池分......
理学
ZSX Primus/ZSX Primus IVi采用下照射方式,通过搭载无盖样品盒机构最多可装填104个样品,从而进行多个样品的连续测量。可在观察样品图像的同......
理学
分析范围: Be - U较小的占地面积微区分析下照设计30 μm超薄窗Mapping: 元素分布He 密封:样品室一直在真空环境中ZSX PrimusRigak......
理学
ZSX Primus IVRigaku ZSX Primus IV是一种管式以上的连续波长色散X射线荧光(WDXRF)光谱仪,可以快速定量测定铍(Be)到铀(U......
理学
卓越的轻元素XRF表现与倒置光学为可靠性的优越ZSX Primus IV具有创新的光学上述配置。由于样品室的维护,再也不用担心被污染的光束路径或停机时间。光学元......
理学
仪器简介:    ZSX Primus Ⅳ是理学公司全新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,......
理学
分析范围: Be - U较小的占地面积微区分析下照设计30 μm超薄窗Mapping: 元素分布He 密封:样品室一直在真空环境中ZSX PrimusRigak......
日本理学Simultix
波长色散X射线荧光光谱技术是一种通过测量小波长范围内的特征X射线来获取有关材料的一系列元素信息的无损分析技术,具有快速、方便、测量成本低等明显优势。40 多年来......
日本理学Simultix
XRF工作原理是X射线光管发出的初级X射线照射样品,样品中原子的内层电子被激发,当外层电子跃迁时产生特征X射线,通过分析样品中不同元素产生的特征荧光X射线波长(......
日本理学Simultix
波长色散X射线荧光光谱仪,可以分析固体、粉末、液体样品,可进行微量、常量化学元素进行定量和定性分析、无标样定量分析,分析范围可以从氧(8)到铀(92),分析浓度......
日本理学Simultix
40 多年来,Rigaku Simultix 同步波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 光谱仪系统已被广泛用作需要高吞吐量和精度的行业(例如钢铁和水泥)过程控......
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