光致发光检测系统 PL System

* 应用领域
- 常规的光致发光测量；
- III-V族 化合物半导体材料掺杂水平分析、合成组分分析、带隙分析等
- LD, LED研发,生产中品质分析,控制 
-荧光检测 
-EPI-Wafer auto PL Mapping          

-钻石，珠宝鉴定，内含物分析等。                                                 

扩展使用:

-PLE(PL 激发）

-TRPL（time-resolved PL)

-TDPL(temperature dependent PL)

-Micro-PL

-Confocal PL

-nano PL by using Nsom(near -field scanning optical microscope

主要特点：
 

仪器特点 ：
• 高品质及中等价位的PL扫描系统(可选配自动样品扫描装置，实现ｍａｐｐｉｎｇ功能)；
• 波长范围宽广(UV-VIS-NIR,)；
• 设备坚固，安全，更多于竞争公司产品的特点（如快速mapping检测）
• 噪声低，高PL信号探测；
•　可选配多种激发源（多种波长激光源）
• 设计紧凑，易于调谐；
• 各种激发激光源可选；
• 光谱分析软件可获得光谱带宽，峰值波长，峰值副瓣鉴别、光谱数据运算。。。。
•　可实现同时对膜厚及反射率的检测
•　双PL峰分离功能
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本系统主要的特点：

1。除激光外，同时可使用分光计和样品chamber组合而成，可使由于室内光线产生的noisezei小化；

2。利用He-Cd laser专用laser power meter对可调节光强的ND filter和laser光强进行监控

3。分光计部分追加了一个port，不仅可以通过CCD探测器进行测定，也可通过PMT/IR Detector进行测定。

4。为了去除来自分光计2nd order的光，利用laser line filter控制cut off filter和laser的plasma line。

根据客户的需要可与如下装置一起装配：

１。ＰＬ＋Micro Raman(显微拉曼系统）

２。ＰＬ＋Ｃｒｙｏｓｔａｔ（低温装置，４Ｋ，７７Ｋ。。）

３。ＰＬ＋ＰＬＥ

４。ＰＬ＋ＰＬＥ＋ＡＴＲ

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途