相位延迟测量系统 Retardation Measurement system

仪器简介：

应用范围：

-偏振/LCD延迟

-光学轴（传输、慢、快）

-双折射（单轴、双轴）

－Rubbing的方向和程度

—石英，方解石等双折射晶体材料的光学波片的相位延迟检测

技术参数：

-测试参数：迟滞（Rin,Rth),Nx,Ny,Nz,ß角，光学轴

-重复性： < +/-0.01nm(Rin)

-光斑： 4mm

主要特点：

软件：

－测试：迟滞（Rin,Rth),Nx,Ny,Nz,ß角，光学轴

－自动控制＆数据收集

－自动光学轴搜索

Option:

-光谱系统：光谱范围：400~800nm

相位延迟测量系统 Retardation Measurement system信息由南京伯奢咏怀电子科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于相位延迟测量系统 Retardation Measurement system报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途