硅材料氧碳含量专用测定仪-碳化硅含量的测定方法

 结合了当今最新的光学、电子学、材料科学和人工智能技术，所有的细节无不体现设计的宗旨：操作简便，性能卓越、功能强大、制样简便、智能操作、维护成本低等特点，可广泛地应用在制药、石油、化工、环保、食品、材料科学、公安、国防等各个领域，是实验室研究及常规应用分析的得力工具，是科研、生产不可缺少的分析测试仪器。

   硅材料氧碳含量专用测定仪(FTIR)技术参数

    光谱范围：4000~400cm-1
    分辨率：1.5cm-1
    检测器：高灵敏度DTGS检测器（国外进口）
    分束器：进口多层镀膜溴化钾
    扫描速度：微机控制和选择不同的扫描速度，档次连续可调.
    光　源： 进口长寿命高强度空气冷却红外光源
    信噪比：15000：1  (P-P值) 测试条件：DTGS检测器，在4 cm^-1分辨率，一分钟背景及样品扫描时间，2100 cm^-1处
 

    电  源：AC220V,50Hz
    外形尺寸：45.0cm X 35.6cm X 21.0cm
    重  量：16Kg

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途