STJ X-ray是专用于软X射线束探测的无液氦超导隧道结X射线谱仪，具有高能量分辨和高计数率等优点。

STJ X-ray射线谱仪

概述：

超导隧道结（STJ）X-射线谱仪由美国STAR Cryoelectronics 公司专门为同步辐射研究领域开发的一款高性能低温探测系统。优化设计的STJ探测器既适合作为紫外-软X射线波段范围（50eV-3keV）荧光产率吸收谱（PFY-XAS）用探测器，也适合作为同步辐射装置的高光子通量探测器。在525eV处的能量分辨率（峰半高宽）优于10eV，每像素每秒计数超过1万次。STJ探测器比传统固态探测器（例如HPGe）和硅漂移探测器的分辨率高10倍，并保持高量子效率和高计数率的特点，与其它低温探测器相比，STJ探测器使用更简单也更稳定，非常适合作为高光子通量同步加速器装置的X射线探测器来使用。

性能参数

与传统固态探测器相比，STJ探测器能量分辨率优于10eV，能够分辨出大多数传统固体探测器无法辨识的近邻峰。利用STJ探测器可清晰地分辨出Mn和Fe 的L峰位于F的k峰（677eV）的两侧，能够将不同元素的荧光产率吸收谱从弱背景中提取出来。STJ探测器也可将V、Cr、Ti的 L峰从O的K峰位分辨出来，W和Ta的M峰从Si的K峰位中分辨出来。

在每像素每秒计数率在2,000次以内时，STJ保持高能量分辨率地特点，即使计数率超过10,000次，STJ的能量分辨率仍保持在20eV左右。

通过32-Pixel STJ探测器采集的多元素样品的单像素谱

    集成STJ探测器的DRC-100 ADR恒温器全部操作由计算机程控。与其它类型低温探测器不同，STJ探测器的工作温度只需要低于250mK阀值温度即可。带微型snout的ADR恒温器在200mK的工作温度下可保持60小时，再生循环过程仅需1.5小时。三层红外滤光片能够消除室温辐射芯片，且1keV以上X射线透射率超过90%。也可根据需求提供允许低能射线通过滤光片，不过ADR恒温器的低温保持时间将会缩短。

 通过标准三层IR红外滤光片的X射线透过率与能量关系

配置

    根据实验的不同，提供标准型和微型两种STJ X-ray探测器系统。标准型STJ X-ray探测器系统带一个42cm长72mm粗的冷指，冷指末端端面上安装一个112像素芯片，冷指可伸入分析室使得探测器距离样品仅1cm，每个像素的有效探测面积为0.2mm*0.2mm，总有效探测元面积为4.48mm²。

标准型STJ X-ray探测器恒温器

（带112个探测器阵列，总有效探测元面积为4.48mm²） 

微型STJ X-ray系统是针对空间受限的实验设计，提供32mm粗的snout、32个探测器阵列和一个标准2.75”刀口法兰。

这两种STJ X-ray恒温器系统带标准6”或者2.75”刀口法兰，与用户实验腔公用同一真空，故无需提供X射线真空密封窗口。探测器安装在行程为32cm的线性滑轨上，允许探测器从样品腔撤出并通过插板阀隔离。法兰中心到下面线性滑轨底部距离有33cm的标准高度和22.6cm较矮型两种。

       微型STJ X-ray探测器恒温器

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途