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透射电子显微镜(透射电镜、TEM)
赛默飞(原FEI)Talos
相位像: 当样品薄至100A以下时,电子可以穿过样品,波的振幅变化可以忽略,成像来自于相位的变化。产品描述高分辨率成像,获取更高质量的数据 Talos......
赛默飞
行射像: 电子束被样品衍射后,样品不同位置的衍射波振幅分布对应于样品中晶体各部分不同的衍射能力,当出现晶体缺陷时,缺陷部分的衍射能力与完整区域不同,从而使衍射波......
赛默飞
吸收像:当电子射到质量、密度大的样品时主要的成相作用是散射作用。样品上质量厚度大的地方对电子的散射角大,通过的电子较少,像的亮度较暗。早期的透射电子显微镜都是基......
赛默飞
透射电子显微镜工作原理是由电子枪发射出来的电子束,在真空通道中沿着镜体光轴穿越聚光镜,通过聚光镜将之会聚成一束尖细、明亮而又均匀的光斑,照射在样品室内的样品上;......
赛默飞
透射电子显微镜 (Transmission ElectronMicroscope,简称TEM) ,可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构,这些......
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