主要特点：
机构稳定可靠，成像清晰，操作简便，光学系统优良。广泛应用于各类半导体硅晶片检测，材料研究，地质矿物分析，以及精密工程等学科领域。

技术参数：
光学系统：平场消色差光学系统
平场消色差金相物镜：5X、10X、50X、100X（选配）
高眼点平场目镜： PL10X/18mm
观察筒： 旋转铰链式双目（三目），30°斜筒， 360°旋转
照明系统:：落射式柯拉照明，90V-240V自适应式宽电压，卤素灯6V30W，灯丝中心可调，亮度连续可调
调焦机构:：粗微动同轴，带有粗调松紧调节装置和随机限位装置；粗动行程22mm，微动精度：0.002mm
转换器：内定位四孔转换器
载物台:：140X132mm，双层同轴机械移动，附180X145mm平板平台
滤色片：蓝色滤色片
摄像接口：1/2X或1X CTV接口

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途