X-123SIN/X-123SDD/X-123CdTe型X射线光谱仪

XR-100CR硅PIN探测器/XR-100SDD硅漂移X射线探测器/XR-100T碲化镉X射线和伽马射线探测器/X-123SIN/X-123SDD/X-123CdTe型X射线光谱仪/多道处理器/闪烁体探测器

能量范围： 1keV至40keV
探测器尺寸： 25mm2
能量分辨率： 5.9Kev时对应半峰宽145eV-230eV
背景计数： <3*10-3/s,2keV-150keV
增益稳定性： <100ppm/oC
前置放大器灵敏度：1mV/keV
数据传输： 支持USB和串口
计数率特性： zei大计数率不少于每秒20万
软件： 自身具备功能软件并提供开发接口。
自身具备的软件至少应具有如下功能:
1,可测量X射线的能谱。
2,可实时显示当前的X射线计数，并可以统计出总计数。
3，识别谱峰，编辑核素峰库，建立、打印和存储感兴趣区(ROI)，进行能量刻度。对数据获取及存储等提供完整的图形界面。


GAMMA-RAD：
能量范围： 10keV至3000keV
能量分辨率： <7%（在662keV）
数据传输： 支持USB
计数率特性： zei大计数率不少于每秒20万
软件： 自身具备功能软件并提供开发接口
自身具备的软件至少应具有如下功能:
1,可测量γ射线的能谱。
2,可实时显示当前的γ射线计数，并可以统计出总计数。
3，识别谱峰，编辑核素峰库，建立、打印和存储感兴趣区(ROI)，进行能量刻度。对数据获取及存储等提供完整的图形界面。

所有产品的合同价格根据http://www.amptek.com/pricelist.html上公布的价格成交。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途