原理：

  根据分子或原子的光谱特征来解析研究物质，分光器中狭缝透过物镜与样品的对应位置构成了共聚焦光路，分光仪将聚焦在狭缝上各点的图像信号展开成光谱，投射到面阵传感器获取对应数据，电脑工作站将狭缝上每一点的光盘数据分别记录在数据库中，并且用专门样品，分别记录每一个位置的光谱图像数据，工作站将建立一个丰富的多维数据库，通过专门软件处理，系统可以给出诸如：平面多光谱解混，平面光谱成份分布图，时间光谱分布等高光谱分析结果。应用领域涉及荧光研究、纳米微粒检测、组织病理学研究等等。

主要性能参数：

物理尺寸             230*70*60mm

支持相机             Q-Imageing制造的大部数字相机

光谱响应范围         标准360—920nm（取决于数字相机性能）

光谱分辨率           1nm FWHM at 436nm标准G线附近

狭缝宽度及长度       25微米、5毫米

空间分辨率           约0.6微米（用25微米和40X物镜在样品面上检测）

电脑控制样品台       Prior控制台（步进10nm）

荧光研究及应用(Fluorescence research and application)

(1)365—920nm全范围同时而独立的数据采集；(2)带有自动数据库支持的光谱解混；(3)用超过300个波长点的精细光谱曲线表达诸如CFP/YFP FRET等光谱关联实验；(4)纤维样品的专项光谱学分析管理(吸收、反射率、透射率等)；(5)对感兴趣区域或全视场的光谱柱状图式统计学数据分析；(6)荧光和普通光快捷转换；(7)可同时分解多达15条交织在一起的荧光谱线；(8)FRET和多标记荧光簇团的图像描述；(9对应光谱的荧光平面分布

纳米微粒检测(Nanoparticle Analysis)

位置显示：  不同光谱特征的纳米物质被分别用不同颜色精确的标注在灰度图像对应点上，形成光谱地形图(spectral topography).

监    测： 分析和描述特异视场中的独立纳米微粒、微团、集群特性。

金属确认：  用光谱特征表达任意材料中的特异金属。

膜 研 究：  用光谱表达尺寸、形状和接近度，进而研究表面共振特性(SPR).

特    点： 活细胞或动植物样品中内存或加注的单个乃至数千个纳米微粒、纳米环、纳米棒的监测，做到无损伤、非真空、大视场、低成本、可兼顾扫描电镜(SEM和透射电镜(TEM)的许多操作。

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